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射線檢測儀

賽默飛化學分析儀器
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射線檢測儀

射線檢測儀

射線檢測儀是專門檢測電離輻射(X、α、β、γ)的儀器。射線檢測儀是利用X射線的穿透能力,在工業上一般用于檢測一些眼睛所看不到的物品內部傷斷,或電路的短路等。在X射線發生器對面有個數據接收器,自動的將接收到的輻射轉換成電信號并傳到擴張板中,并在電腦中轉換成特定的信號,通過專用的軟件將圖像在顯示器中顯示出來,這樣就可以通過肉眼觀測到基板的內部結構。
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個人中子劑量儀EPD-N2

個人中子劑量儀EPD-N2

  • 品牌: 賽默飛世爾
  • 型號: EPD-N2
  • 產地:美國
  • 供應商:賽默飛化學分析儀器

    EPD-N2型電子個人劑量計,采用多級探測器,有出色的能量響應,適用于γ/中子混合場的測量。 技術特點: 出色的能量響應,25 KeV-10 MeV(光子),熱中子-15 MeV(中子)γ/中子混合場中性能優異多級探測器直接顯示中子與光子的深層劑量Hp(10)多探頭技術

電子個人劑量計EPD MK2

電子個人劑量計EPD MK2

  • 品牌: 賽默飛世爾
  • 型號: EPD MK2
  • 產地:美國
  • 供應商:賽默飛化學分析儀器

    EPD Mk2型電子個人劑量計,主要探測X、γ和β輻射,可以給出直讀劑量當量Hp(10)(深層/全身)和Hp(0.07)(淺層/皮膚)的劑量數值。EPD結合了強大的輻射測量性能和先進的軟硬件,符合IEC 1283, IEC 1526, ANSI 13.11, 13.27和42.20等標準。適合于單獨作為劑量計使用或者作為綜合劑量管理系統的組成部分使用。EPD Mk2+是唯一通過2007年IAEA所有測試項目的電子個人劑量計。 儀器簡介: 儀器簡介:多級探測器,出色的X、γ和β輻射響應可設置劑量和劑量率警報,并可設置聲音警報高速紅外通訊接口存儲劑量記錄、警報記錄等,無電池數據可保持10年,劑量存儲區帶密碼保護電源:AA 1.5V堿電池(可連續適用8周)或者3.6V鋰電池(可連續適用5個月)

熱釋光讀出器Harshaw TLD 5500

熱釋光讀出器Harshaw TLD 5500

  • 品牌: 賽默飛世爾
  • 型號: Harshaw TLD 5500
  • 產地:美國
  • 供應商:賽默飛化學分析儀器

    儀器特點:& bull; 能自動讀取高達50個劑量元件? 線性升溫曲線? 加熱曲線包括預熱和讀出后退火周期? 熱氣式加熱,溫度可達600 ℃? 光電倍增管冷卻器,可降低光電倍增管的噪聲,提高穩定性? 測量質量保證? 自動本底扣除? 易于操作,維護和保養? 建立校正軟件技術規格:性能:每次裝50個劑量元件周期:用標準TTP30秒/片發光探測系統:動態范圍:7個數量級預熱時間:30分鐘線性:偏差小于1%暗電流:相對小于50 mGy (Cs-137)劑量元件加熱系統:方法:氣體加熱線性升溫 (TTP)高壓:范圍從500 V-1 200 V穩定性:±0.005%單位:nC, gU, mrad, mrem, mGy, Gy, μSv, mSv, Sv可靠性:平均無故障運行時間 (MTBF)>10,000小時內置自測和診斷功能操作溫度范圍:0-40 ℃貯存溫度范圍:-10-60 ℃

熱釋光讀出器Harshaw TLD 6600

熱釋光讀出器Harshaw TLD 6600

  • 品牌: 賽默飛世爾
  • 型號: Harshaw TLD 6600
  • 產地:美國
  • 供應商:賽默飛化學分析儀器

    Harshaw TLD 6600 型熱釋光讀出器,適用于人員劑量、環境劑量的測量,具有節省人力、節約資金等特點。技術特點:& bull; 一體化設計,可用于測量:? 全身劑量? β、光子、中子劑量? 端劑量? 環境劑量? 自動刻度,節約時間? 滿足IEC、ISO、ANSI等國際標準? 自動執行質控檢測程序? 故障間隔長? 沒有OSL技術的缺點,如對光敏感

熱釋光劑量元件Harshaw TLD

熱釋光劑量元件Harshaw TLD

  • 品牌: 賽默飛世爾
  • 型號: Harshaw TLD
  • 產地:美國
  • 供應商:賽默飛化學分析儀器

    熱釋光劑量元件? 符合ANSI N545-1993,滿足即將發布的N13.37? LiF:Mg, Cu, P材料? 測量:  ■ Hp (10)-深層劑量  ■ Hp (3)-眼晶體劑量  ■ Hp (0.07)-淺層劑量  ■ 中子劑量  ■ H* (10)-周圍劑量當量  ■ H′(0.07)-定向劑量當量? 佩帶方式可選肢端劑量元件肢端劑量元件用于人員肢端皮膚劑量的精確測量。技術特點? 通過ANSI N13.32-1995、DOELAP、NVLAP測試。? 適合佩帶? 測量光子、β劑量? 可在讀出器上讀出? 42 mg/cm2窗用于光子測量  ■ TLD-100 100 mg/cm2  ■ TLD尺寸3 mm×0.4 mm中子劑量測量使用Thermo Scientific中子測量徽章后可測量熱中子、快中子劑量。? 6Li/7Li劑量元件  ■ 熱中子  ■ 快中子? LiF:Mg, Ti材料環境劑量監測使用Thermo Scientific環境測量徽章后可測量環境劑量。? 滿足ANSI N545? LiF:Mg, Cu, P? 測量:  ■ H* (10)-周圍劑量當量  ■ H′(0.07)-定向劑量當量設計巧妙,佩帶方便,照射角度影響很小? 3.3 mg/cm2窗用于β測量  ■ TLD-100 H/700 H 7 mg/cm2  ■ TLD 粉末? 指環有4種顏色可選? 劑量計算軟件? 滿足ANSI N545? LiF:Mg, Cu, P? 測量:  ■ H* (10)-周圍劑量當量  ■ H′(0.07)-定向劑量當量? 過濾膜通過100%渦流測試? 密封封裝,防止污染? 條形碼編號窗口透明,方便保管? 劑量元件可選擇不同顏色,方便管理? 劑量計算軟件? 中子測量  ■ 6Li/7Li劑量元件  ■ 熱中子  ■ 快中子  ■ LiF:Mg, Ti材料

電子個人γ劑量計EPD-G

電子個人γ劑量計EPD-G

  • 品牌: 賽默飛世爾
  • 型號: EPD-G
  • 產地:美國
  • 供應商:賽默飛化學分析儀器

    EPD-G 電子個人γ劑量計由EPD MK2電子個人劑量計改進而來,具有同樣的設計。適用于無需測量β輻射的場合。Thermo Scientific EPD電子個人劑量計已經在國內外得到廣泛的應用。 儀器特點: 多級探測器技術,出色的X、γ響應報警闕值(劑量、劑量率),音量均可以調節電源:AA 1.5V堿電池(可連續適用8周)或者3.6V鋰電池(可連續適用5個月)無電池情況下數據可以保存10年ADS劑量管理,存儲峰值劑量率與相應的時間,相應的數據存儲區域設置了密碼數據時間間隔可以設定,存儲量最小間隔1s 技術規格:測量類型:X,γ能量響應:15keV-10000keV測量范圍:劑量當量:1/64μSv->16Sv劑量率:1/64μSv/h->16Sv/h精確度:±10%(Cs-137)測量單位:Sv,Gγ,rem(帶合適前綴)

BG9811型便攜式中子放射線檢測儀--中廣核貝谷

BG9811型便攜式中子放射線檢測儀--中廣核貝谷

  • 品牌: 上海中廣核貝谷
  • 型號: BG9811
  • 產地:上海
  • 供應商:成都一科儀器設備有限公司

    ◎質量很輕。 ◎測量范圍寬。 ◎可記錄劑量率的趨勢,紅外線通信。 ◎可使用商用AC電源,也可使用市販一次電池、二次電池。 ◎有USB接口,可與計算機通訊顯示測量結果。

BG9512H高量程χ、γ環境級巡檢儀--中廣核貝谷

BG9512H高量程χ、γ環境級巡檢儀--中廣核貝谷

  • 品牌: 上海中廣核貝谷
  • 型號: BG9512H
  • 產地:上海
  • 供應商:成都一科儀器設備有限公司

    儀器介紹:BG9512H高量程x、γ環境級巡檢儀,用于環境水平x、γ劑量率測量,也可對輻射場所輻射防護水平進行檢測,應急場合查找隱藏的放射源。BG9512H是環保、衛生、出入境以及其他涉及到電離輻安全監測企事業單位理想產品。產品特點:ADF(自適應濾波)計算方法,確保儀器對輻射水平變化做出快速響應,低劑量率水平保證測量精度。 100ms的峰值檢測時間,方便對曝光劑量進行測量。 超過1500cps/μGy/h的探測效率 智能化探頭,RS485/藍牙(可選)數據接口,即可作巡檢儀用,也可做區域監測產品使用 智能化主機,多種探測器可選 主機內置GM管γ(X)探測器,可當個人劑量儀使用 數值圖表同時指示測量值 64KB數據存儲,可手動/自動選擇保存瞬時劑量率 具有USB接口,方便上位機對儀器測量數據進行管理或維護 大容量鋰離子電池供電技術參數:測量器主機:內置進口GM計數管;探頭:0.3L閃爍體探測器(有線/標配)測量射線種類γ(X)射線靈敏度≥1500cps(Cs-137,1μGy/h)能量范圍內置探測器:48keV~1.5MeV,外接探測器:25keV~6MeV能量響應吸收劑量:≤15%,劑量當量:≤30%有效測量范圍內置探測器:劑量率:0.01μSv/h~30mSv/h,累積劑量:0~999mSv外置探測器:劑量當量率范圍:本底~100μSv/h吸收劑量率范圍:本底~200μGy/h峰值檢測時間100ms相對基本誤差不超過±15%重復性≤±10%顯示單位μGy/h,μSv/h,CPS數字存儲64k字節EEPROM通訊接口電腦接口:USB 2.0,主機和探測器:RS485/藍牙(可選)報警類別閾值、過載、故障、電池欠壓報警閾值測量范圍內連續可調報警方式聲音工作溫度范圍-10℃~40℃相對濕度范圍≤90%RH(40℃)供電電源3.7V鋰離子電池功耗整機耗電≤200mW(不含顯示器背光耗電)防護等級IP54我公司是一家專業化的提供第三方檢測儀器設備的儀器供應商,從2009年開始為幾十家第三方檢測公司在實驗室方案設計、產品選型、設備供應、安裝培訓方面提供了專業化的服務,并協助客戶順利拿到相關證書。其中第三方檢測所涉及的項目有:1、第三檢測中職業衛生技術服務甲級資質申購所需儀器全套設備2、第三檢測中職業衛生技術服務乙級資質申購所需儀器全套設備3、第三檢測中氣相色譜儀、原子吸收分光光度計、原子熒光光譜儀、離子色譜儀及耗材4、第三檢測中常規設備中稱量、冷凍保存、培養、干燥、加熱、離心、攪拌、混勻、凈化、消毒等配套設備5、第三檢測中環境水質中各指標檢測部分成套儀器設備6、第三檢測中環境空氣中各指標檢測部分成套儀器設備7、第三檢測中食品飼料中各指標檢測部分成套儀器設備8、第三檢測中輻射類部分成套儀器設備9、體檢中心成套儀器設備--------------------------------------------------------------------------------------第三方檢測公司、大學科研院校、食品飼料廠、生物制藥公司、自來水污水處理廠、環境保護監督單位成套儀器設備供應商。

美國SE射線檢測儀inspector USB

美國SE射線檢測儀inspector USB

美國SE射線檢測儀inspector EXP

美國SE射線檢測儀inspector EXP

  • 品牌: 美國SE
  • 型號: inspector EXP
  • 產地:美國
  • 供應商:北京眾樂儀達科技有限公司

    便攜外置傳感探頭的輻射監測儀,可通過軟件連接電腦進行監測,數據可保存在電腦里。

美國IMI射線檢測儀INSPECTOR ALERT IA-V2

美國IMI射線檢測儀INSPECTOR ALERT IA-V2

蓋格計數器/電離室探測器/正比計數器/中子束探測器/氣體采樣計數器/硼內襯探測器/反符合探測器

蓋格計數器/電離室探測器/正比計數器/中子束探測器/氣體采樣計數器/硼內襯探測器/反符合探測器

  • 品牌: 美國LNDINC
  • 型號: To be confirmed
  • 產地:美國
  • 供應商:北京盛田嘉源科技有限公司

    Geiger-Mueller Tubes 蓋格管計數器 Thin Wall Beta-Gamma Gamma Detectors Energy Compensated GM Detectors QPL Qualified GM Detectors Cross Reference Chart to Other Mfg. Products Tube Types by Increasing Gamma Sensitivity Thin Window Alpha-Beta-Gamma Detectors Pancake Style Mica Window Tubes End Window Tubes Ionization Chambers 電離室探測器 End Window Beta-Gamma Ionization Chambers Gamma Ionization Chambers Neutron Sensitive Ionization Chamber X-Ray Proportional Counters X射線正比計數器 Cylindrical End Window Proportional Counters Cylindrical Side Window Proportional Counters Quadrilateral Side Window Proportional Counters Large Area Beta-Gamma Proportional Counters Pancake Style Proportional Counters Flow Proportional Counters Position Sensitive Proportional Counters Neutron Detectors 中子束探測器 BF3 Detectors 三氟化硼中子束探測器 Neutron Beam Monitors Cylindrical BF3 Neutron Detectors Quadrilateral BF3 Neutron Detectors Spherical BF3 Neutron Detectors He3 Detectors 氦三中子束探測器 Cylindrical He3 Neutron Detectors Quadrilateral He3 Neutron Detectors Spherical He3 Neutron Detectors Position Sensitive He3 Neutron Detectors Fission Chambers 裂變室中子束探測器 Cylindrical Neutron Counters Neutron Beam Monitors Boron Lined Detectors 硼內襯中子束探測器 B10 Lined Neutron Ion Chambers B10 Lined Neutron Proportional Counters B10 Lined Gamma Compensated Neutron Ion Chambers Proton Recoil Counters反沖質子和中子束計數器 Cylindrical Proton Recoil Detectors Spherical Proton Recoil Detectors Special Products Gas Sampling Counters 氣體采樣計數器 Anti-coincidence Detector反符合中子束探測器 Please don't hesitate to contact us if you have any question. 如有什么問題,請你及時聯系我們,所有的產品都按照出廠價銷售和供貨,質量保證其為12個月。

AMPTEK-X射線/X光硅PIN探測器XR-100CR(X-RAY/Silicon-PIN/S

AMPTEK-X射線/X光硅PIN探測器XR-100CR(X-RAY/Silicon-PIN/S

  • 品牌: 美國阿美特克
  • 型號: XR-100CR
  • 產地:美國
  • 供應商:阿美特克電子儀器集團

    XR-100CR型X射線硅漂移探測器 145eV的能量分辨率! 全固態設計! 熱電致冷技術無需液氮! XR-100CR型硅PIN探測器及配套電源PX5 XR-100在火星探測器上的應用 XR-100探頭組件示意圖 XR-100CR系列產品由高性能X射線探頭,前置放大器(前放)和致冷系統組成,首次采用熱電致冷技術保持硅PIN光電二極管的低溫工作環境,另外在兩級熱電致冷器上還安裝了輸入場效應管(FET)和新型溫度反饋控制電路,這樣探頭組件的溫度可保持在約零下55攝氏度左右,并可通過組件內置的溫度傳感器顯示實時溫度。探頭采用TO-8封裝,并利用不透光和不透氣(真空封裝適用)的薄鈹(Be)窗以實現封裝后的軟X射線探測。 XR-100CR系列產品無需采用昂貴的低溫制冷系統即可獲得非常優越的性能,它標志著X射線探測器生產技術上的一個突破。 產品特性: 1.硅PIN光電二極管探頭; 2.兩級熱電致冷器; 3.探頭溫度實時顯示; 4.鈹(Be)窗; 5.多層準直器; 6.密封封裝(TO-8); 7.檢測范圍寬,適于多種應用; 8.操作簡單,易上手。 應用范圍: 1. X射線熒光分析; 2. RoHS/WEE標準檢測; 3.便攜式設備; 4. OEM應用; 5.核醫療學; 6.高校和科研院所教學研究; 7.藝術和考古學; 8.生產過程監控; 9.穆斯堡爾譜儀; 10.航空及宇航應用; 11.核電站輻射監控; 12.有毒物垃圾場檢測; 13.粒子誘發X射線熒光分析(PIXE)。 配件: 1. MP1型X射線熒光分析系統裝配平臺 2.真空應用相關配件; 3.準直套裝(高通量應用); 4.實驗室XRF開發套裝; XRF設備由此開始 ... ... 圖1. 6mm2/500μm尺寸硅PIN探測器測得的55Fe能譜 利用硅PIN探測器測量55Fe(5.9keV的峰)能譜時的能量分辨率為145eV到230eV不等(半高全寬,FWHM),具體分辨率和探測器類型以及成形時間(shaping time)常數有關,詳情可參見選購指南。 簡要理論說明 入射的X射線會和硅原子相互作用,X射線能量每損失3.62eV就會在硅晶體產生一個電子-空穴對。隨著入射能量的不同,能量損失或以光電效應為主,或以康普頓散射(Compton scattering)為主。而探測器吸收X射線能量并產生電子-空穴對的幾率(即探測效率)隨著硅的厚度增大而變大。 為提高電子-空穴隊收集效率,需要在硅晶體上加約100到200伏的電壓,而具體大小則取決于硅的厚度。在室溫下工作時,該偏壓對半導體而言過高,很可能漏電甚至擊穿硅晶體。但在XR-100CR型探測器中首次應用了熱電制冷技術,保證探頭在低溫下工作,這樣漏電流大大減少,從而可以實現在高偏壓下的正常工作。另外高偏壓還能降低探測器的電容,進而降低系統噪聲。 熱電制冷器同時對硅探測器以及場效應晶體管(為電荷敏感前置放大器提供輸入)進行冷卻。對場效應管的冷卻能減少它的漏電流,同時能增加跨導(transconductance),二者都能減少系統的電子學噪聲。 實際上光電二極管探測器無法直接光學自復位,因此XR-100CR系列產品應用一種新穎的反饋控制方法來實現電荷敏感前置放大器的自復位。沒有繼續采用傳統產品中的復位晶體管,而是通過發射一個精確的電荷脈沖到場效應管中來實現自復位,其中利用了到探測器的高壓連接和探測器電容。該方法避免了自復位晶體管的噪聲問題,系統的能量分辨率進一步提高。 利用熱電制冷的探測器內部元件的溫度會隨著室溫的變化而改變,故為即時監控這些元件的溫度,在硅基底上還安裝了一個用于溫度監控的二極管芯片。低于-20oC的情況下,XR-100CR的性能在幾攝氏度的范圍內都不會有明顯變化,故在通常室溫條件下使用時無需采用閉合環路的溫度反饋控制電路,但在OEM手持式X射線熒光譜儀設備應用中則強烈推薦使用溫度反饋控制電路。主動溫度控制(ATC)模塊在PX2CR中是可選的,而在PX5中是默認標配的。 產品參數 常規參數 探頭類型 硅PIN探測器(Si-PIN) 硅基底尺寸 6-25mm2 硅基底厚度 300或500μm 準直器 多層準直器 能量分辨率(@55Fe, 5.9keV峰) 145-230eV FWHM (取決于探測器類型和成形時間常數) 本底計數 <3x10-3/s,(對應2-150keV峰值,7mm2/300μm探測器) 鈹(Be)窗厚度 1mil (25μm)或0.5mil (12.5μm) 電荷敏感型前置放大器 Amptek定制設計(通過高壓連接復位) 增益穩定性(溫飄) <20ppm/oC (一般情況下) 外殼尺寸 3 x 1.75 x 1.13 inch, 7.6 x 4.4 x 2.9 cm 重量 4.9 ounces (139g) 總功率 <1W 保修期 一年 產品壽命 五到十年,因具體應用而異 環境溫度 0~+40oC 倉儲和物流要求 長時間倉儲:干燥條件下存放十年以上 一般倉儲/物流:-20到+50oC,10%到90%濕度(無冷凝器) TUV Certification Certificate #: CU 72072412 01 Tested to: UL 61010-1: 2004 R7 .05 CAN/CSA-C22.2 61010-1: 2004 輸入參數 前置放大器電源 電壓正負8到9V,電流15mA,噪聲峰峰值小于50mV 探頭電源 電壓100到200V,電流1μA(因探頭種類而異); 輸入需要非常穩定:<0.1%的波動。 制冷器電源 最大電壓4V,噪聲峰峰值小于100mV,最大電流350mA 注意:XR-100CR探測器自身包含溫度控制器 輸出參數 復位輸出波形 XR100CR的輸出在+5和-5V之間; 復位周期會隨探測器類型和計數率不同而變化。 前置放大器靈敏度 一般為1mV/keV(不同探測器可能略有不同) 前置放大器極性 負脈沖信號輸出(最大負載為1k歐姆) 前端放大器反饋 經過探測器電容復位 溫度顯示靈敏度 PX2CR中770mV相當于-50oC; 利用PX5可通過軟件直接讀取溫度(單位:開爾文)。 XR-100CR 連接器接口 前置放大器輸出 同軸電纜BNC接頭 功率和信號 六針雷莫(LEMO)接頭(Part# ERA.1S.306.CLL) 互連電纜 單獨使用XR100CR:六針雷莫接頭(Part# FFA.1S.306.CLAC57)到九針D型接口;配套使用PX5:六針雷莫到六針雷莫接頭;長均五英尺。 六針LEMO接頭針腳輸出 針腳1 溫度監控二極管 針腳2 探測器正偏壓(高壓),最大為+100~200V 針腳3 前置放大器-9V電源 針腳4 前置放大器+9V電源 針腳5 致冷器電源返回 針腳6 致冷器電源輸入(電壓范圍:0~+4V,電流350mA) 外殼 接地和屏蔽 選配組件 1. 其他厚度的Be窗可特別訂購(0.3mil到7.5um); 2. 高通量應用時候的準直器套件; 3. 真空應用相關配件; 4. OEM應用; 5. X-123配置。 圖2a. X-123配置,包含探測器,前置放大器,數字處理器及電源的一體化設計。 圖2b. 探測器,前置放大器及封裝。 圖3. XR100CR探測器加長選項 XR100CR的數字脈沖處理器和電源模塊 XR-100CR系列產品的電源由PX5(數字脈沖處理器和電源模塊組合)提供,而PX5自身的直流輸入來源于交流電適配器。PX5提供了數字脈沖處理放大器(0.2~100us峰化時間),多道分析功能以及探測器所需的所有電源。 XR-100CR/PX5的組合系統能確保開機1分鐘后穩定工作。 圖4. 采用XR100CR和PX5搭建的典型系統的框圖。 AMPTEK公司能提供不同的探測器和前置放大器配置以滿足不同需要,其對應的針腳輸出和電壓類型不一樣。 圖5. 硅PIN和硅漂移探測器的分辨率和峰化/成形時間關系曲線 圖6. 不同峰化時間下探測器能量分辨率和輸入計數率(ICR)關系,對應XR100CR和PX5情況 圖7. 不同峰化時間下的PX5輸出能力 準直器的使用 為提高能譜測量的質量,絕大部分Amptek生產的探測器都帶有內部準直器。 探測器有效面元(active volume)邊緣部分和X射線的相互作用會因不完全電荷收集產生一些小脈沖信號,進而影響測得的能譜數據。而且這些信號可能正處在用戶所關心的元素所在的能量范圍,降低了信噪比。而內部準直器則可以限制X射線只能打到有效面元內,這就避免了噪聲信號的產生。 不同類型的探測器中準直器的應用各有優點:提高峰本比(P/B);消除邊界效應;消除假尖峰信號。 真空環境中的應用 XR-100CR型產品可以工作在10-8托的真空環境到大氣壓下工作,而真空環境應用有如下兩種方案: 1) XR-100CR的探頭和前放均置于真空室內部: a. 為保證XR-100CR的正常工作,需避免器件過熱,并做好輸入的1W功率的良好導熱;即利用XR-100CR封裝上的四個安裝孔,根據具體真空室位形設計散熱,將器件熱量傳導到真空室壁上; b. 在CF(Conflat Flange)刀口法蘭上利用可選的真空饋通端子(如9DVF型,九接口)連接XR-100CR和真空室外的PX5電源。 2) XR-100CR全部置于真空室外:需利用可選的真空探測器延長組件(如EXV9型,長9英寸)和標準CF刀口法蘭窗口(通過O型金屬環密封)配套。 效率曲線 圖8(線性坐標). XR-100CR型探測器的對應完全能量沉積的內稟探測效率。 該效率對應X射線能進入該探測器前端并通過光電效應沉積所有能量到探測器上的概率。 圖9(對數坐標). 考慮各種效應后的收集效率,其中也包含了光電效應的概率影響。 光電效應在低能段主導,而該效應對應了能量的完全沉積,但在超過40keV后,康普頓(Compton)散射效應逐漸顯著,不是所有能量均沉積在探測器上。 上面兩圖同時考慮了鈹窗(包括保護層)對X射線透過率的影響以及光子與硅探測器之間的相互作用。曲線的低能部分由鈹窗的厚度決定,而高能部分則取決于硅探測器的有效探測厚度。選用特定的鈹窗,可使90%的能量為2到3keV的入射光子到達探測器;選用特定的探測器,可接收到90%的9到12keV 的光子。 傳輸效率文件:包含傳輸效率方面系數和常見問題解答的.zip格式文件,僅提供基本信息,不能作為定量分析依據。 XR-100在探路者(PathFinder)計劃中在火星著陸!!! 得益于該系列產品的獨特設計和可靠性,XR-100在探路者計劃中被選中,用于巖石和土壤成分分析。 來自火星的第一個巖石元素成分能譜 圖10. 承蒙芝加哥大學提供。 完整的XRF系統 圖11. 完整的X射線熒光譜儀系統 圖12. XR100CR和Mini-X安裝在MP1平臺上示意圖 完整的X射線熒光譜儀系統包括: 1. XR-100CR型X射線探測器; 2. PX5型數字脈沖處理器,多道分析模塊和電源; 3. Mini-X型USB控制X射線管; 4. XRF-FP定量分析軟件; 5. MP1型XRF系統裝配平臺。 更多信息請關注AMPTEK英文官方網站:www.amptek.com。

AMPTEKX射線/X光硅漂移探測器XR-100SDD

AMPTEKX射線/X光硅漂移探測器XR-100SDD

  • 品牌: 美國阿美特克
  • 型號: XR-100SDD硅漂移探測器
  • 產地:美國
  • 供應商:阿美特克電子儀器集團

    XR-100SDD型X射線硅漂移探測器125eV的能量分辨率! 采用電冷技術;無需液氮!圖1. XR-100型硅漂移探測器及配套電源PX5 圖2. 硅漂移探頭元件示意圖 XR-100SDD系列產品由新型高性能X射線硅漂移探頭,前置放大器(前放)和致冷系統組成。采用熱電致冷技術保持硅漂移探頭(SDD)的低溫工作環境,而在兩級熱電致冷器上亦安裝了輸入場效應管(FET)和新型溫度反饋控制電路,這樣探頭組件的溫度保持在約零下55攝氏度左右,并通過組件上的溫度傳感器顯示實時溫度。探頭采用TO-8封裝,并利用不透光和不透氣(真空封裝適用)的薄鈹(Be)窗以實現封裝后的軟X射線探測。 XR-100SDD系列產品無需采用昂貴的低溫制冷系統即可獲得非常優越的性能,它標志著X射線探測器生產技術上的一個突破。產品特性:1. 高計數率:500,000 CPS(每秒計數, counts per second);2. 能量分辨率:125eV(半高全寬,FWHM,對應峰值為5.9keV的情況);3. 高峰本比:20,000:1“(ratio of counts from 5.9 keV to 1 keV) (typical)” ;4. 面積25mm2,厚度500m;5. 內置多層準直器;6. 不需要液氮制冷。應用范圍:1. X射線熒光分析;2. 用于RoHS/WEEE標準檢測的X射線熒光譜儀;3. OEM和其他專業應用;4. 生產工藝流程反饋控制;5. 高校和科研院所實驗室研究;產品參數:本產品可以適應于用戶不同應用時的參數需求。I. 高能量分辨應用: 1. 超高能量分辨率:125eV(對應峰值為5.9keV的情況); 2. 峰化時間(Peaking time):11.2s; 3. 計數率:100,000 CPS; 4. 峰本比:,20,000:1;II. 快速峰化應用: 1.能量分辨率:155eV(對應峰值為5.9keV的情況); 2. 峰化時間(Peaking time):0.8s; 3. 計數率:500,000 CPS;III. 手持設備應用: 1.能量分辨率:150eV(對應峰值為5.9keV的情況); 2. 峰化時間(Peaking time):3.2s; 3. 探測器探頭溫度保持在250K(-24oC) 4. 計數率:200,000 CPS;XRF設備由此開始 ... ...圖3. Amptek硅漂移探測器(SDD)測得的55Fe能譜 產品說明 XR-100SDD型硅漂移探測器(SDD)是Amptek公司出品的一款新型X射線探測器,它標志著X射線探測器生產工藝的變革。XR-100SDD因其體積小,性能優越且價格便宜等特點,是OEM手持式和臺式X射線熒光譜儀設備的理想選擇;而且它在保證優異的能量分辨的同時還能達到相當高的計數率,可以滿足各種參數需求;另外封裝采用和Amptek出品的其他探測器一樣的T0-8型外殼,方便用戶升級現有系統以及和其他Amptek產品配套。 硅漂移探測器工作原理和硅PIN(Si-PIN)光電二極管類似,但它利用單電極結構大大提升了性能。Amptek公司專門為X射線能譜測量應用優化了其所有硅漂移探測器產品。 同樣的探頭面積下,硅漂移探測器電容比傳統硅PIN探測器電容低很多,則所需成型時間變短,電子學噪聲也會大大降低。因此硅漂移探測器可以相同(較高)的計數率下得到比傳統探測器好的能量分辨率。另外為引導電子移動到相當小的低電容陽極上,探測器中的電極結構是特制的。 產品參數常規參數探頭類型硅漂移探測器(SDD)探頭尺寸25mm2硅晶體厚度500μm準直器內置多層準直器(ML)能量分辨率(@55Fe, 5.9keV峰)125-140eV FWHM (11.2μs峰化時間)峰本比(Peak to Background)20,000:1 (5.9keV,1keV計數比)典型的鈹(Be)窗厚度0.5mil (12.5μm)電荷敏感型前置放大器Amptek定制可復位放大器增益穩定性(溫飄)<20ppm/ oC (一般情況下)外殼尺寸3 x 1.75 x 1.13 inch, 7.6 x 4.4 x 2.9 cm重量4.4 ounces (125g)總功率<1W保修期一年產品壽命五到十年,因具體應用而異環境溫度0~+50oC倉儲和物流要求長時間倉儲:干燥條件下存放十年以上 倉儲/物流需求:-20到+50 oC,10%到90%濕度(無冷凝器)TUV Certification Certificate #: CU 72072412 02 Tested to: UL 61010-1: 2004 R7 .05 CAN/CSA-C22.2 61010-1: 2004輸出參數前置放大器電源電壓正負8到9V,電流15mA,噪聲峰峰值小于50mV探頭電源電壓-90到-150V,電流25μA; 輸入需要非常穩定:<0.1%的波動。制冷器電源最大電壓3.5V,最大電流350mA,噪聲峰峰值小于100mV; 注意:XR-100SDD探測器自身包含溫度控制器輸出參數前置放大器靈敏度一般為1mV/keV(不同探測器可能略有不同)前置放大器極性正脈沖信號輸出(最大負載為1k歐姆)前端放大器反饋復位溫度顯示靈敏度利用PX5/X-123等直接讀取溫度(單位:開爾文)可選配置或配件X-123SDD 硅漂移探測器(SDD)也有對應的X-123SDD譜儀配置。該集成化配置包含了X射線探頭,前置放大器,DP5數字脈沖處理和多道分析模塊,以及PC5電源模塊。而用戶僅需提供+5V的直流輸入和到您的電腦的USB/RS232/以太網連接。 包含硅漂移探測器的X-123SDD譜儀產品真空配件和所有Amptek真空配件兼容OEM和所有Amptek OEM配件兼容注意事項:1. 硅漂移探測器需要負高壓,而前放輸出為正脈沖。這和標準Si-PIN探測器所要求的正高壓,而前方輸出為負脈沖正好相反;2. PX5電源模塊可以輸出正或負的高壓。若您為XR100SDD配套訂購了PX5模塊,則PX5必須設置為負高壓輸出。在使用XR-100CR探測器時,因錯誤設定PX5為負高壓輸出導致的探測器損壞不在保修范圍之內。而使用XR-100SDD探測器時,因設定PX5為正高壓輸出導致的探測器損壞亦不在保修范圍之內。準直器的使用 為提高能譜測量的質量,絕大部分Amptek生產的探測器都帶有內部準直器。 探測器有效面元(active volume)邊緣部分和X射線的相互作用會因不完全電荷收集產生一些小脈沖信號,進而影響測得的能譜數據。而且這些信號可能正處在用戶所關心的元素所在的能量范圍,降低了信噪比。而內部準直器則可以限制X射線只能打到有效面元內,這就避免了噪聲信號的產生。 不同類型的探測器中準直器的應用各有優點:提高峰本比(P/B);消除邊界效應;消除假尖峰信號。真空環境中的應用 XR-100SDD型產品可以工作在10-8托的真空環境到大氣壓下工作,而真空環境應用有如下兩種方案: 1) XR-100SDD的探頭和前放均置于真空室內部: a. 為保證XR-100SDD的正常工作,需避免器件過熱,并做好輸入的1W功率的良好導熱;即利用XR-100SDD封裝上的四個安裝孔,根據具體真空室位形設計散熱,將器件熱量傳導到真空室壁上; b. 在CF(Conflat Flange)刀口法蘭上利用可選的真空饋通端子(如9DVF型,九接口)連接XR-100SDD和真空室外的PX5電源。 2) XR-100SDD全部置于真空室外:需利用可選的真空探測器延長組件(如EXV9型加長管,長9英寸)和標準CF刀口法蘭窗口(通過O圈密封)配套。圖4. 真空條件使用中可選的延長組件圖5.高采樣率X射線束線系統中Amptek高性能SDD的應用(定制法蘭,4個SDD探測器)其他系統說明及性能曲線 圖6.SDD的能量分辨率和峰化時間曲線 圖7. Si-PIN和SDD探測器的分辨率-峰化/成形時間曲線對比 圖8. 對應不同峰化時間的能量分辨率和輸入計數率曲線(SDD配套DP5使用) 該圖也表示了最大輸出計數率曲線(黑色虛線)。而系統工作參數在該曲線右邊區域時,盡管輸入計數率很高,但輸出計數率仍會小于最大值,具體情況見下圖9。 圖9. 不同峰化時間下SDD的輸入計數率和輸出計數率曲線(輸出效率) 由于SDD探測器具有更小的電容,在成型放大器中較短的成形時間即可保證較好的能量分辨率。通常使用9.6μs或更小的成形時間,這極大提高了系統的輸出效率。 圖10. 使用SDD得到的55Fe能譜 圖11. 不同峰化時間下SDD探測器的能量分辨率和對應能量峰值曲線 圖12. 綜合考慮鈹窗(及保護膜)的傳輸效率及和Si晶體的相互作用效率后不同能量的傳輸率曲線。 曲線的低能量部分由鈹窗厚度決定(0.3mil/8μm或0.5mil/12.5μm),而高能量部分則由Si晶體有效厚度決定:500μm。傳輸效率文件:包含傳輸效率方面系數和常見問題解答的.zip格式文件,僅提供基本信息,不能作為定量分析依據。SDD應用中的各種能譜圖利用高性能硅漂移探測器(Super SDD)和Mini-X型X射線管測得的不同樣品的熒光能譜: 圖13. SS316型不銹鋼 圖14. PVC樣品(RoHS/WEEE標準) 圖15. CaCl2溶液(800ppm Ca, 1200 ppm Cl) 圖16. 含有少量KCl的原油(1100ppm)中的S元素 圖17. 汽車催化劑 圖18. 鉑金(Pt)戒指 完整的X射線熒光譜儀(XRF)系統圖19. 安裝于MP1型平板上的XR100SDD探測器和Mini-X發生器 完整的XRF系統包括: 1. XR-100SDD型硅漂移探測器; 2. PX5型數字脈沖處理器,多道分析器及電源; 3. Mini-X型USB控制X射線管; 4. XRF-FP定量分析軟件; 5. MP1型XRF系統安裝平臺。 更多信息請關注AMPTEK英文官方網站:www.amptek.com。

尼康X射線檢測站XTV130

尼康X射線檢測站XTV130

MONOBLOCK,一體化X射線源

MONOBLOCK,一體化X射線源

  • 品牌: 丹東奧龍
  • 型號: XRS
  • 產地:
  • 供應商:丹東奧龍射線儀器集團有限公司

    MONOBLOCK,一體化X射線源技術特點出射線角度范圍。非準直X射線光束形成Ω角度的錐形。陽極層的厚度為150微米,Ω的典型值是125°。輻射光譜。射線源的原發射光譜主要取決于陽極材料和電壓值。它包含強烈的典型線條和連續的軔致輻射。光譜的軟射線部分能量低于5KV,也取決于陽極層的厚度和X射線光束輸出角度。典型的發射光譜與鉬陽極,通過半導體硅光譜儀獲得展示如下圖所示。陽極類型-透射式陽極層材料:金剛石,鈹陽極材料:銅,鉬,銀,鎢焦點尺寸:陽極30微米運行電壓10-40kV功率:5W(金剛石涂層時12W)重量:400g尺寸:120*40*70mm射線源的重量和尺寸取決于不同的型號。圖片為距離射線源0.5米距離的原射線光譜。附件附件包括-輻射過濾片-準直儀-單色儀輻射過濾片是鋁箔或者是元素周期表中中間組的金屬用來分別吸收軟硬射線。根據預先決定好的輻射角度,限束儀提供了一個狹窄方向的錐形光束或者扇形光束。

X射線顯微鏡

X射線顯微鏡

  • 品牌: 上海孚光精儀
  • 型號: FellesXRM
  • 產地:美國
  • 供應商:孚光精儀(香港)有限公司

    這是全球范圍內最具性價比的成像X射線顯微鏡,它可以在客戶現有的光學顯微鏡的基礎上直接升級,以超低成本實現X射線顯微成像系統和成像X射線顯微鏡功能,也可以配置整套系統,真正意義上的非侵入性內部成像。這款成像X射線顯微鏡幫助客戶觀察樣品的自然狀態,而不需要任何樣品制備工作。它可以與世界上任何商用的倒置顯微鏡匹配,輕松升級到X射線顯微成像系統。該X射線顯微成像系統配備具有美國專利的單晶閃爍體技術,以超低價格提供超低分辨率。成像X射線顯微鏡參數:10-50KVp X射線源3微米分辨率樣品尺寸科大 60x60x60mm無限的有效視場瞬時視場(FOV)高達10mm(取決于物鏡)X射線單元重量:<10kgX射線單元尺寸:350x150x200mmX射線顯微成像系統主要應用:微小動物研究組織樣品研究SEM樣品準備納米科學材料科學刑偵分析失效分析印刷電路板檢測集成電路分析制藥研究

上海仁機通道式放射性監測系統

上海仁機通道式放射性監測系統

  • 品牌: 上海仁機
  • 型號: ergodi
  • 產地:上海
  • 供應商:上海仁機儀器儀表有限公司深圳分公司

    系統必配硬件組成:- γ探測組件:塑料閃爍體4塊+低噪聲光電倍增管8套- 支撐結構:立柱及防水箱4套- 探測器準直:5面環鉛鉛盒4套- γ自標定裝置:低活度天然放射性礦物盒(非放射源)1枚- 報警裝置:現場及控制中心聲光報警各1套- 中心管理控制系統:電腦、硬盤、數據庫及分析軟件1套- 傳輸組件:TCP/IP傳輸組件1套- 穩壓續航裝置:UPS不間斷電源1套- 設備安裝基礎:鋼筋水泥砼體、鋼制平臺1套- 報告輸出:激光彩色打印機1臺,打印紙2包

上海仁機便攜式 x 、γ輻射測量儀

上海仁機便攜式 x 、γ輻射測量儀

  • 品牌: 上海仁機
  • 型號: RJ32-3602一體式
  • 產地:上海
  • 供應商:上海仁機儀器儀表有限公司深圳分公司

    iDefender是一款一體式數字化多功能輻射巡測儀,它可以滿足10個量程級別,對X、γ、中子三種射線的進行精測量,對γ射線進行能譜分析,同時防水、防塵可以在惡劣環境下工作。iDefender有著廣泛的用途,如環保監測、放射衛生監測、國土安全監測、公共安全監測、核電站、實驗室以及核技術應用等場合,同時也適用于再生資源行業廢舊金屬的放射性檢測。

上海仁機α、β表面污染儀

上海仁機α、β表面污染儀

  • 品牌: 上海仁機
  • 型號: RJ39-2180P
  • 產地:上海
  • 供應商:上海仁機儀器儀表有限公司深圳分公司

    RJ39型表面污染測量儀適用于α、β輻射表面污染檢測。儀器采用雙閃探測器,具有較高的探測效率;能同時測量α、β、γ,并自動區分α、β/γ檢測結果,是環境試驗室、核醫學、分子生物學、放射化學、核原材料運輸、存儲和商檢等領域進行α、β表面污染檢測的理想儀器。主要用于對放射監測有較高要求的場合,如環保監測、放射衛生監測、國土安全監測、公共安全監測、核電站、實驗室以及核技術應用等場合。

AMPTEK-超快型X射線/X光硅漂移探測器

AMPTEK-超快型X射線/X光硅漂移探測器

  • 品牌: 美國阿美特克
  • 型號: Fast SDD
  • 產地:美國
  • 供應商:阿美特克電子儀器集團

    下一代硅漂移探測器 (Next Generation SDD)超快型硅漂移探測器 (Super Fast SDD) 10倍通量 & 不損失任何分辨率 能量分辨率(FWHM,[eV])峰化時間(微秒)125813511450.2圖1. 能量分辨率和峰化時間曲線 圖2. 不同峰化時間條件下超快型硅漂移探測器的輸出計數率和輸入計數率的關系 圖3. 不同峰化時間條件下超快型硅漂移探測器的能量分辨率和輸入計數率的關系 圖4. 一秒鐘采集結果的定量分析1(樣品為316型不銹鋼-NIST 3155) 而以下表格則顯示了圖4中數據的定量分析結果。 元素合格濃度Super SDD僅需1秒V0.050.16±0.28Cr18.4518.32±0.80Mn1.630.0±0.55Fe64.5165.89±1.64Co0.10.00±0.40Ni12.1812.56±0.47Cu0.170.19±0.02Mo2.382.34±0.08 圖5. 1.2Mcps輸入計數率(ICR)情況下測量錳(Mn)樣品 圖6. 一秒鐘采集結果的定量分析2(樣品為焊錫)更多信息請關注AMPTEK英文官方網站:www.amptek.com。

GE Nanotom s奈米焦點高分辨率CT系統

GE Nanotom s奈米焦點高分辨率CT系統

  • 品牌: 美國GE
  • 型號: Nanotom s
  • 產地:美國
  • 供應商:先馳精密儀器(東莞)有限公司

    主要特色:180 kV/ 15 Wnanfocus CT系統,擁有長久耐用的開放式X射線管,只需要少量的維護即可。高精度-空氣軸承旋轉裝置提供了高精準的CT掃描影像通過菱形或窗口(可選擇)以同樣的高分辨率影像水平進行快達2倍的資料采集基於花崗巖的操作和可選擇性的熱安定性,提供最高的精密度及高穩定性可於1小時之內自動生成第一件檢測記錄提供從亞um到高強度應用模式的4種操作模組使用極佳的軟體模組以確保最高的CT影像質量且易於使用,例如:▲使用datos / x 2.0點選并直接測量CT來進行高精度度并可重現的3D測量: CT掃描、重組及分析過程的全自動化執行。▲通過VELO / CT在幾秒鐘或幾分鐘內(取決於樣品體積大小)完成更快速的3D-CT重組影像極為精簡的掃描系統,非常適用於小型實驗室使用。nanoCT可以將圖層面板逐層顯示玻璃纖維復合材料的nano-CT ∶纖維氈(藍色)的纖維方向和基質樹脂(橙色)會清楚顯示出來利用3D檢視焊接接點內部的空隙間隙分布清晰可見對氣缸蓋3個裝置的CAD差異分析和測量玻璃纖維增強塑料樣品的nano-CT ∶ 玻璃纖維和礦物填料(紫色)的凝聚體的排列和分布都清晰可見。纖維大約有10um寬高分辨率電腦斷層掃描(micro-ct 與nano-ct)廣泛用於檢測地質樣品格最大管180 kV最大功率15 W能力高200nm (0.2m)最小焦物距0.4um最大3D像素分辨率< 500nm (0.5m)何放大倍率(3D)1.5 倍到100 倍最大目尺寸(高x 直)150mm x 240mm/ 5.9" x 6.4"最大品重量2 kg/ 4.4 lb像500素平板位器列2D X射成像不可3D描可以先的表面提取可以(可)CAD 比+ 尺寸量可以(可)系尺寸(1640 x 1430 x 750 mm), (64.6” x 56.3” x 29.5”)系重量1300kg/ 2866 lb射安全- 全防射安全,依德ROV和美性能21 CFR 1020.40 (X-Ray系)。- 射漏率:臺壁的10cm量 <1.0Sv/h。地/生物科 高分辨率描(micro-ct nano-ct)泛用於地品,例如:新源的探索。高分辨率CT-系以微高解析提供巖石品、粘合、合和空洞的3D像,助分辨特定的品特徵,如含油巖石中空洞的大小和位置。塑料工程 在塑料工程中,高分辨率的X射技用於通探孔、水泡、焊接和裂分析缺陷化造和程。 X射算描(micro ct nano ct)提供具有以下物特的3D像:如晶粒流模式和填料分,以及低比度缺陷。玻璃增塑料品的nano-CT : 玻璃和物填料(紫色)的凝聚的排列和分都清晰可。大有10um。量 用X射行的3D量是唯一的可物部行量的技。通式坐量技的比,一物行描的同可得所有的曲: 包括所有法使用其他量方法害入的蔽形,如底切。 v/tome/xs 有一特殊的3D量包,其中包含空量所需的所有工具,校器到表面提取模,具有可能的最大精度,可再且具和力. 除了2D壁厚量外,CT可以快速方便地CAD行比,例如,分析完成元件,以保其符合所有的定尺寸。缸3置的CAD差分析和量。感器和工程 在感器和子件的中,高分辨率X射技主要用於和估接、接、箱子、子和配情。甚至可以半元件和子(焊),而需拆卸。Nano-CT 示CSP件的焊接接。焊接接的3D形,直400um,空隙隙分清晰可。焊接接部,不同的共晶焊料相是可的。材料科 高分辨率描(micro-ct nano-ct)用於材料、合材料、材料和陶瓷,但也可用於地或生物品行分析。材料分配、空隙率和裂在微上是3D可的。玻璃合材料的nano-CT :(色)的方向和基脂(橙色)清楚示出。片右: 脂的空洞以暗出。左: 脂已淡出,以更好地使可化。的跟是可的。3D描 工X射3D描(micro-ct nano-ct) 的用是金和塑料件的及3D量。phoenix| X射的高分辨率X射技了在多域的新用,如感器技、子、材料科以及多其他自然科。SMD感器的nanoCT, 尺寸0805 (2.0 mmx 1.2 mm). 三X射像示了後後的部圈。在任何常的X光片中,面板都是重的,但nanoCT 成功地象逐示。

GE Nanomex 奈米級超高分辨率檢測系統

GE Nanomex 奈米級超高分辨率檢測系統

  • 品牌: 美國GE
  • 型號: Nanomex
  • 產地:美國
  • 供應商:先馳精密儀器(東莞)有限公司

    產品特色∶1.主要功能∶滿足最高檢測要求,如半導體和SMT的高精密封裝產品。高功率nm焦點管(4合1),實現從nm分辨到高功率多種應用。可配高清晰分辨的數位影像系統,400萬畫素即時數位圖像。180 kV/ 15W的高功率微聚焦管具有高達200nm的細部檢測能力。經由優秀的即時雙視野圖像增強器技術(數位圖像鏈和自動恒溫的數位檢測器,可達每秒30幀)。先進的射線能量穩定技術。高放大倍率,下傾斜視角達70度。自動檢測BGA、CSP、QFP、PTH等焊點與空隙分析,彎曲度計算。維修率低,壽命長,開放式nanofocus光管。人體工學設計,操作更簡便。高度的可再現性。可升級到nanoCT系統可選配∶基於高分辨率自動化X射線檢測(μAXI),xact軟體模組可方便快速的CAD以達到極高的缺陷覆蓋率,并具有高放大倍率和高度可再現性。高動態恒溫GE DXR數位檢測器可偵測30 FPS(每秒30幀)的清晰即時影像。10秒內的3D CT掃描功能(選配)。高達2倍的速度在相同的高影像品質等級的鉆石|視窗作為一個新的標準的資料擷取2.客戶利益∶可結合2D/3D的CT操作模式透過優秀的即時圖像雙檢測器技術(數位圖像鏈和自動恒溫的數位檢測器,可達每秒30幀)檢測步驟的自動化是有可能的杰出的操作便利性2D焊及焊查2D裂格最大管180 kV最大功率15 W部能力高0.2 μm最小焦物距0.3 mm最大3D像素的分辨率(取於象的大小)< 1 m何倍率(2D)高1970倍何放大倍率(3D)300倍最大目尺寸(高 x 直徑)680 mm x 635 mm / 27" x 25"最大目重量10 Kg / 22 磅像200像素的位像操作5的品方向移操作(X、Y、Z、R、T)2D X射成像可以3D CT描可以(配)系統尺寸1860 mm x 2020 mm x 1920 mm (73.2” x 79.5” x 75.6”)系統重量2600 Kg / 5070 磅射安全- 全防射安全,依德ROV和美性能21 CFR 1020.40 (X-Ray系)。-射漏率:臺壁的10cm量 <1.0Sv/h。用域:SMTICBGA 基板精密零件子零件PCBA 半封

GE Xaminer  微焦點檢測系統

GE Xaminer 微焦點檢測系統

  • 品牌: 美國GE
  • 型號: Xaminer
  • 產地:美國
  • 供應商:先馳精密儀器(東莞)有限公司

    1.次微米高解析度2.光管是Open tube解析度好, 定度高, 成本低, 有命限制的光管, 需更, 而且客可以自行更3.160KV/20W 高功率4.高分辨率4”野像增器5.影像清晰快速6.品5同步7.可充CT 功能 2D Micro BGA 黏著 散片的泡 3D CT 零件 3D BGA 影像 格 何放大倍率2100x 放大倍率>23000x 分辨率 小於1微米(<1mm)X射管 次微米等(<1mm) 最大管160KV 最大管功率20W 影像增 高分辨率4”野像增器 器2M像素高分辨率CCD 最大410mm×410mm 最大工件尺寸/重量410mm×410mm/5kg 斜角ovhm 旋可角70°,n×360° 操控模式 操控操控或鼠(手模式) 控程控制(自模式) 速(X-Y-Z)10μm/s到80mm/s 像理件 phoenix x|act base 全面的X射像分析件 包含像比增和波功能、量功能、控程功能bga|module BGA焊自功能 系尺寸 尺寸(W x H x D) 1800mm×1900mm×1815mm(不包括控制臺) 高度可控制面板400mm 最大重量2050kg 射安全防 全方位防防玻璃窗的安全屏蔽室射漏量率<1μSv/h,符合 旋步件(配) 最大工件重量2kg 助定位置(配) 雷射定位瞄 助定位置(配) 旋臺用PCB板支架置 最大板尺寸310mm×310mm (12"×12")用域:SMTICBGA 基板精密零件子零件PCBA 半封

GE Pcbainspector PCBA檢測系統

GE Pcbainspector PCBA檢測系統

  • 品牌: 美國GE
  • 型號: Pcbainspector
  • 產地:美國
  • 供應商:先馳精密儀器(東莞)有限公司

    主要功能用於二維X射線成像,無需維護式的100千伏X微焦點射線管自動微焦點X射線檢測,如BGAs等焊點,空隙分析細節分辨率小於2um高品質數位化影像系統精密設計,設備體積小人體工學設計,操作簡便在一個50 °探測器角斜位的通孔電鍍。所有的8個圖層連接清晰可辨。IC檢測繼電器2D分析2D陶瓷基板檢測設備規格最大管電壓100 kV最大功率10 W細節檢測能力高達3um最小焦物距4.5mm幾何放大倍率(2D)高達75倍最大目標尺寸(高x直徑)28”x 22”(710 mmx 560 mm)最大物體重量5 kg / 11 lb圖像鏈672 x 568操作3軸的樣品操作2維X射線成像可以系統尺寸1.270 mmx 1.510 mmx 1.550 mm/ 50” x 59.4” x 61”系統重量1300 kg / 2866 lb輻射安全- 全防輻射安全機柜,依據德國ROV和美國性能標準21 CFR 1020.40 (機柜X-Ray系統)。- 輻射泄漏率:從機臺壁的10厘米處測量 <1.0μSv/h。應用領域:SMT廠IC廠BGA 基板電子零件PCBA 組裝半導體組裝

GE Xargosct Compact 高功率工業用CT系統

GE Xargosct Compact 高功率工業用CT系統

  • 品牌: 美國GE
  • 型號: Xargosct Compact
  • 產地:美國
  • 供應商:先馳精密儀器(東莞)有限公司

    設備特點 360°旋轉移動檢測平臺 320KV微焦點X射線管 數位二極管陣列探測器 獨立的重建電腦工作站 CT軟體datos|x 320KV輻射防護樣品室 強化的濾波反投影重建算法(Feldkamp) X射線非破壞性檢測用於檢測鑄件和焊縫缺陷 19股線進入,但只有17股線退出壓接區,由於缺乏材料,壓接區內形成了小空洞設備規格CT系統類型錐束最大3D像素分辨率65 um最大幾何放大倍率(3D)1.3倍X射線管類型密閉式,金屬陶瓷館冷卻方式油冷卻最大管電壓320kV最大功率800W(小焦點)、1800(大焦點)光束尺寸0.4mm(800W) 或 1mm(1800W)分辨率0.2mm(800W) 或 0.5mm(1800W)靶材陽極W靶,可旋轉靶材多次使用燈絲陰極W絲,即插式結構,更換簡單快捷數位二極管陣列471mm畫素數量5565畫素畫素分辨率85 um圖像擷取速度≤50FPS樣品載臺樣品室WxHxD 600x2120x1115 mm(不含操作平臺和其他外部部件)樣品室重量約5000Kg電力控制間獨立空間,包含冷卻系統總重量6500Kg安全輻射防護室鉛鋼防護,鉛玻璃,輻射 露劑量率<1uSv/hCT數據采集和圖像重建軟件datos|x,phoenix|x-rays提供的軟體以實現快速精確的CT功能采集時間10秒到幾分鐘重建時間每層12秒到幾分鐘算法強化的濾波反射投影重建算法輻射安全- 全防輻射安全機柜,依據德國ROV和美國性能標準21 CFR 1020.40 (機柜X-Ray系統)。- 輻射 漏率∶從機臺壁的10cm處測量 <1.0μSv/h。選購配件∶CT擴展軟體選擇ROI|scan∶CT成像是檢查區域放大倍率的強化功能agc|module∶自動幾何校正bhc|module∶射束硬化校正surface|extraction∶自動辨?并擷取3D立體數據標明點位visualisation software∶Volume Graphics VGStudio MAX重建加速∶可升級的3D加速運行datos|x探測大小∶400um有效寬度∶470mm畫素大小∶1525畫素灰度范圍∶65536(16位)控制∶集成的Phoenix|x-ray操控軟體旋轉軸∶ n×360°可檢測工件最大直徑∶ 350 mm可檢測工件最大高度∶ 590 mm可檢測工件最大重量∶ 50kg

GE Xargos 高分辨率大型零件檢測系統

GE Xargos 高分辨率大型零件檢測系統

  • 品牌: 美國GE
  • 型號: Xargos
  • 產地:美國
  • 供應商:先馳精密儀器(東莞)有限公司

    設備特點適用於大型零件的精確檢測分析高精度的6軸樣品測試平臺系統可檢測重達100Kg的樣品高功率微焦點X射線管,225kV/320WCNC可編列程序,實現自動檢測可配高品質的全數位化影像系擴充性-可擴充便利裝卸的零件裝夾平臺升級性-可升級微焦點CT系統(3D系統)人性化的操作平臺設計 X射線非破壞性檢測用於檢測鑄件和焊縫缺陷 19股線進入,但只有17股線退出壓接區,由於缺乏材料,壓接區內形成了小空洞設備規格幾何放大倍率1.7~150倍總放大倍率900?W分辨率2?m密度分辨率0.5%光管開放式 真空系統堅固耐用的無油式渦輪真空泵靶材W靶最大管電壓225 kV 可自行選擇最大功率320WX光束尺寸2?m最小焦距4.5mm樣品平臺X軸±325 mmY軸900 mmZR軸550 mm(X射線管在C型臂上)ZD軸300 mm(探測器在C型臂上)傾斜軸0到±30o旋轉軸nx 360o樣品可移動到樣品室外,很方便地裝卸待測樣品樣品最大重量100公斤控制操縱桿(手動模式)或編程控制(自動模式)軸運動速度10 μm/s到50 mm/s(XYZ,D)操控輔助系統X射線進行掃描,點擊移動功能,點擊放大功能,自動保持視野中心功能幅射防護自動門安全樣品室鉛鋼防護,鉛玻璃,雙聯鎖,輻射 漏率∶小於1μSv/s設備尺寸2380mm x 2850mm x 1950mm(W x H x D)(不包括操作電腦)高壓產生氣435mm x 570mm x 900mm(W x H x D)(放置在樣品室之外)重量6000Kg微焦點CT系統(選配)CT配置高對比度探測器 精密轉臺 結構重建軟體輻射安全- 全防輻射安全機柜,依據德國ROV和美國性能標準21 CFR 1020.40 (機柜X-Ray系統)。- 輻射 漏率∶從機臺壁的10cm處測量 <1.0μSv/h。附件∶控制器使用控制器控制系統的硬碟體元件,配備了雙/四核心的最新處理技術重建/視覺化工作模式根據目前Intel Xeon處理器技術(多CPU和多核心設計)的高端工作站選購配件立式控制臺,帶兩個同步監視器,顯示實際圖像和強化圖像便利裝卸的零件裝夾平臺 應用領域3D電腦斷層掃描應用:針對金屬和塑膠鑄件的檢測和3D測量.例如:渦輪葉片高分辨率電腦斷層掃描 :可以做材料分配、空隙率和裂縫在微觀分辨率上是3D可視

GE Ndtanalysers 無損檢測分析儀

GE Ndtanalysers 無損檢測分析儀

  • 品牌: 美國GE
  • 型號: Ndtanalysers
  • 產地:美國
  • 供應商:先馳精密儀器(東莞)有限公司

    主要功能160kV/ 320W高功率開放nm焦點管具有高達1um的細節探測能力應用廣泛,適用於各種中等尺寸物件的分析檢測淺顯易懂的操作可檢測物件重達10kg通用5軸或6軸機械平臺系統高功率nm射管,最大管可240kv可高功率nm射線管,最大管電壓可達200nm(0.2um)可選高功率nm射線管,細節分辨能力可達200nm(0.2um) 可選高圖像質量的數字影像系統可配置功能卓越的CT系設備規格最大管電壓160 kV最大功率320 W細節檢測能力高達1um最小焦物距4.5 mm幾何放大倍率(2D)高達170倍最大目標尺寸(高x 直徑)400mmx 300mm/ 16" x 12"最大物體重量10 kg/ 22 lb圖像鏈200萬像素的數字圖像鏈操作5軸的樣品操作2D X射線成像可以系統尺寸1500 mmx 2330 mmx 1686 mm/ 59” x 91.7” x 66.4”系統重量2800kg/ 6172.9 lb輻射安全- 全防輻射安全機柜,依據德國ROV和美國性能標準21 CFR 1020.40 (機柜X-Ray系統)。- 輻射 漏率∶從機臺壁的10cm處測量 <1.0μSv/h。選購配件∶通過高動態溫度穩定的GE DXR數字探測器與主動冷卻(可選)獲取的30 FPS(幀每秒)的清晰的影像240kV/ 320W高功率開放nm焦點管180kV/ 15W高功率nm焦點管具有高達0.2um的細節探測能力質量檢查 :可人工檢查自動程序運行結果的維修站軟件,如bga模塊,qfp模塊或vc模塊。轉換器∶軟件包轉換結果文件,由質量保證制作成其他格式,是第三方軟件要求的。質量分析:用於分析和人工觀察檢查結果的軟件,由自動程序收集,并由質量檢查分析軟件來檢查。應用領域塑料工程:在塑料工程中,高分辨率的X射線技術用於通過探測縮孔、水泡、焊接線和裂縫并分析缺陷來優化鑄造和噴涂過程。 X射線計算機斷層掃描(micro ct 與nano ct)提供具有以下物體特點的3D圖像∶如晶粒流模式和填料分布,以及低對比度缺陷。玻璃纖維增強塑料樣品的nano-CT ∶ 玻璃纖維和礦物填料(紫色)的凝聚體的排列和分布都清晰可見。纖維大約有10um寬。感應器學和電氣工程:在感應器和電子組件的檢測中,高分辨率X射線技術主要用於檢測和評估接觸點、接頭、箱子、絕緣子和裝配情況。甚至可以檢測半導體元件和電子設備(焊點),而無需拆卸設備。Nano-CT顯示CSP組件的焊接接點。焊接接點的3D形狀,約直徑400um,空隙間隙分布清晰可見。焊接接點內部,不同的共晶焊料相是可見的。鑄件與焊接相關:射線無損檢測用於檢測鑄件和焊縫缺陷。

GE Ndtanalysers S緊湊通用型CT系統

GE Ndtanalysers S緊湊通用型CT系統

  • 品牌: 美國GE
  • 型號: Vtomex S
  • 產地:美國
  • 供應商:先馳精密儀器(東莞)有限公司

    主要功能:靈活通用的CT系統,適於一般工作的2D和3D檢測獨特的開放式雙X射線源可選擇,240kV為焦點射線管與180kV高功率nm焦點X射線管高精密CNC控制機械平臺,可承受樣品重量達10kg高對比度平板檢測器可用兩倍大視野掃描,檢查大型工具并獲得更大的放大倍率和分辨率可實現批量2D/3D自動檢測增加約10倍燈絲壽命,更長的使用壽命燈絲(可選配)確保了長期穩定性和最佳系統效率通過菱形|視窗(可選)以同樣的高圖像品質水準進行快達2倍的資料截取通過高動態溫度穩定的GE DXR數位探測器獲取的30 FPS(幀每秒)(可選配)的快速CT采集和清晰的活動影像效益特點:3D測量軟體用於空間測量,具有極高精度、再現性和簡易上手在少於1小時之內自動生成首件檢測記錄是可能的使用極佳的軟體模組以確保最高的CT品質且便於使用,例如1.通過點擊并測量|CT 用 datos|x 2.0進行高精度可重現的3D測量: 全自動化執行的CT掃描,重建和分析過程2.通過 VELO | CT在幾秒鐘或幾分鐘內(取決於體積大小)完成更快的三維CT重建 齒輪結構分析圖 生物甲烷石灰樣品的nanoCT 透過3D檢測可以顯示整體的內部狀況 玻璃纖維和礦物填料(紫色)的凝聚體的方位和分布都清晰可見。 纖維寬度大約為 10 m 對氣缸蓋3個裝置的CAD 差異 分析和測量 19股線進入,但只有17股線退出壓接區,由於缺乏材料,壓接區內形成了小空洞 對氣缸蓋的三維測量 鋁鑄件的3D微焦點電腦斷層掃描(micro ct)含有一些空隙率附件∶控制器使用控制器控制系統的硬碟體元件,配備了雙/四核心的最新處理技術重建/視覺化工作模式根據目前Intel Xeon處理器技術(多CPU和多核心設計)的高端工作站設備規格最大管電壓240 kV最大功率320 W細節檢測能力高達1μm最小焦物距4.5 mm最大3D像素分辨率(取決於物體大小)<2 μm(3D), nanoCT 結構對立體像素分辨率達 <1μm (3D)幾何倍率(2D)1.46 倍到180 倍幾何放大倍率 (3D)1.46 倍到100 倍最大目標尺寸 (高 x 直徑)420 mm x135 mm / 16.5" x 5.3"最大樣品重量10kg/ 22 磅操作帶精密轉臺的穩定靈活5軸操作器2D X射線成像可以3D電腦斷層掃描可以先進的表面選取可以(可選配)CAD 比較+ 尺寸測量可以(可選配)系統尺寸2330 mm x 1690 mm x 1480 mm / 91.7” x 66.5” x 58”系統重量大約2900 kg/6393.4磅輻射安全- 全防輻射安全機柜,依據德國ROV和美國性能標準21 CFR 1020.40 (機柜X-Ray系統)。- 輻射 漏率∶從機臺壁的10cm處測量 <1.0μSv/h。應用領域感測器相關電子元件(焊點)鑄件與焊接相關汽車制造(氣缸蓋)真空幫浦相關(渦輪葉片)精密零組件(金屬、塑膠件)地質情況與探測塑膠工程

GE Vtomex L 450 高精密大型CT系統

GE Vtomex L 450 高精密大型CT系統

  • 品牌: 美國GE
  • 型號: Vtomex L 450
  • 產地:美國
  • 供應商:先馳精密儀器(東莞)有限公司

    主要功能: X射源( 450kV常焦射管和240kV焦射管) 化用於CT - 以金/陶瓷材料,用於大型和高吸收的品之CT描 器(平板器和列器) 高比度平板器,2048x2048像素 高精密10械控制平臺 臺,快速工具3D2D成像的切 高10倍的增加的命,通命的(可配)保久定性和最佳系效率 通高度定的GE DXR位探器取的30 FPS(每秒)(可配)的快速CT集和清晰的活影像 可行超高精度的3D量 效益特: 量用於空量,具有高精度、再性,而且操作 使用佳的模以保最高的CT品且便於使用,例如1. 通量|CT使用datos|x 2.0行高度可重的3D量: 全自化行的CT描,重建和分析程 2. 通 VELO | CT在秒或分(取於大小)完成更快的3D CT重建 的片件可利用3D精地分析故障部位 玻璃和物填料(紫色)的凝聚的方位和分都清晰可。 度大 10 m 19股入,但只有17股退出接,由於缺乏材料,接形成了小空洞 缸的三量 件的3D微焦描(micro ct)含有一些空隙率 格 最大管 450 kV (可配 2 X-ray射源(240 kV微焦和450 kV微焦的X射管)) 最大功率 1500 W 能力 高1m 最小焦物距 4.5 mm 最大3D像素分辨率(取於物大小) < 1.3 m 何倍率(2D) 1.25 倍到 555 倍 何放大倍率 (3D) 1.25 倍到 333 倍 最大目尺寸(高 x 直) 1000 mm x 800 mm / 39" x 31.5" 最大品重量 100kg/ 220.5lb 操作 提供且定高精密的花巖基底的7操作器 2D X-ray射成像 可以 3D描 可以(可易2D和3D描模式) 的表面取 可以(可) CAD 比+ 尺寸量 可以(可) 系尺寸 6500 mm x 3400 mm x 3300 mm / 256” x 134” x 130” 系重量 22 t / 143300 lb 射安全 - 全防射安全,依德ROV和美性能 21 CFR 1020.40 (X-Ray系)。 - 射漏率:臺壁的10cm量 <1.0Sv/h。 附件:控制器 使用控制器控制系的硬碟元件,配了/四核心的最新理技重建/化工作模式 根目前Intel Xeon理器技(多CPU和多核心)的高端工作站用域:感器相子元件(焊)半元件件焊接相汽造(缸)真空浦相(片)精密零件(金、塑件)

GE Vtomex L 300 高精密大型微/奈米CT系統

GE Vtomex L 300 高精密大型微/奈米CT系統

  • 品牌: 美國GE
  • 型號: Vtomex L 300
  • 產地:美國
  • 供應商:先馳精密儀器(東莞)有限公司

    主要功能 300kV的射管(在焦和品大小之有5mm的距),高的放大倍率可用於高吸收率的品之定量、非破式 可配180kV/15Wnm焦射源 高比度平板探器,2048x2048像素 基於花巖基座的高精度,高定度械系 高精度3D量,不可行何量,具有高精度、高再性,而且使用方便 零件和大型件可行缺陷辨和可再的3D量 2D X射和3D描(micro CT and nano CT) 模式之可,部分辨率可1m 效益特: 泛用於不同品而需改X射管 通高度定的GE DXR位探器取的30 FPS和菱形窗口(可配)的快速CT集和清晰的影像 通 VELO | CT在秒或分(取於大小)完成更快的3DCT重建 用&量|CT行高精度且可重的3D量,使用datos | X 2.0 - 在少於1小之自生成首件是可能的 高10倍的增加的命,通命的|(可)保了期定性和最佳系效率 的片件可利用3D精地分析故障部位 玻璃和物填料(紫色)的凝聚的方位和分都清晰可。 度大 10 m 透3D可以示整的部 缸的3D量 件的3D微焦描(micro ct)含有一些空隙率 格 最大管 350 kV 最大功率 500 W 能力 高1m 最小焦物距 4.5 mm(CT5mm) 最大3D像素分辨率(取於物大小) <2 m(300kV光管), 1m(180kV光管) 何倍率(2D) 1.25 倍到333 倍 何放大倍率 (3D) 1.25 倍到200 倍 最大目尺寸(高 x 直) 500 mm x 500 mm / 23.6" x 19.7" 最大品重量 50kg/ 110.23lb 操作 提供且定高精密的花巖基底的7操作器 2D X-ray射成像 是 3D描 是 的表面取 可以(可) CAD 比+ 尺寸量 可以(可) 系尺寸 4100 mm x 2600 mm x 2960 mm / 161.4” x 102” x 116.5” 系重量 大 22 t /48501 lb 射安全 - 全防射安全,依德ROV和美性能 21 CFR 1020.40 (X-Ray系)。 - 射漏率:臺壁的10cm量 <1.0Sv/h。 附件:控制器 使用控制器控制系的硬碟元件,配了/四核心的最新理技重建/化工作模式 根目前Intel Xeon理器技(多CPU和多核心)的高端工作站2倍重建集群-velo|CT-2x 使用基於高瑞形理器技的理元行工作站的加速重建用域:感器相子元件(焊)半元件件焊接相汽造(缸)真空浦相(片)精密零件(金、塑件)

GE Vtomex L 240 高精密微/奈米CT系統

GE Vtomex L 240 高精密微/奈米CT系統

  • 品牌: 美國GE
  • 型號: Vtomex L 240
  • 產地:美國
  • 供應商:先馳精密儀器(東莞)有限公司

    主要功能240 kV / 320 W開放式微焦點X射線管單極240kV射線管,細部分辨率可達1um可選配高功率180kVnm焦點射線源高達10倍的增加的燈絲壽命,通過長壽命的燈絲(可選配)確保了長期穩定性和最佳系統效率通過菱形|視窗(可選配)以同樣的高圖像品質水準進行快達2倍的資料獲取通過高動態溫度穩定的GE DXR數位探測器獲取的30 FPS(幀每秒)(可選配)的快速CT采集和清晰的影像基於花崗巖基座的6軸高精度、高穩定度機械系統可選8軸運動檢測平臺高對比平板探測器,1024x1024像素可針對較大型工具進行缺陷識別和可再現的3D量測2D檢測與3D CT模式方便切換效益特點∶3D測量工具軟體不僅可進行幾何測量,具有極高精度,再現性和親和力,而且使用上簡單方便在少於1小時之內自動生成首件檢測記錄是可能的使用極佳的軟體模組以確保最高的CT品質且便於使用,例如1.通過點擊并測量|CT用datos|x 2.0進行高精度可重現的3D測量:全自動化執行的CT掃描,重建和分析過程2.通過VELO | CT在幾秒鐘或幾分鐘內(取決於體積大小)完成更快的3D CT重建 的片件可利用3D精地分析故障部位玻璃和物填料(紫色)的凝聚的方位和分都清晰可。 度大 10 m缸3置CAD 差 分析和量活塞的CT像 格 最大管 240 kV 最大功率 320 W 能力 高1m 最小焦物距 4.5 mm 最大3D像素分辨率(取於物大小) <2 m 何倍率(2D) 1.25 倍到333 倍 何放大倍率 (3D) 1.25 倍到200 倍 最大目尺寸 (高 x 直) 600 mm x 500 mm / 23.6" x 19.7" 最大品重量 50kg/ 110.23lb 操作 提供且定高精密的花巖基底的7操作器 2D X-ray射成像 可以 三描 可以 先的表面取 可以(可) CAD 比+ 尺寸量 可以(可) 系尺寸 3900 mm x 2400 mm x 2700 mm / 154” x 94.5” x 106” 系重量 大16.5 /36376磅 射安全 - 全防射安全,依德ROV和美性能 21 CFR 1020.40 (X-Ray系)。 - 射漏率:臺壁的10cm量 <1.0Sv/h。 附件:控制器 使用控制器控制系的硬碟元件,配了/四核心的最新理技重建/化工作模式 根目前Intel Xeon理器技(多CPU和多核心)的高端工作站2倍重建集群-velo|CT-2x 使用基於高瑞形理器技的理元行工作站的用域:子元件(焊)半元件件焊接相汽造(缸)真空浦相(片)精密零件(金、塑件)

GE Nanotom m 高對比奈米焦點CT系統

GE Nanotom m 高對比奈米焦點CT系統

  • 品牌: 美國GE
  • 型號: Nanotom m
  • 產地:美國
  • 供應商:先馳精密儀器(東莞)有限公司

    設備特點●采用獨特溫控系統的GEDXR數位檢測器(3072 x 2400 畫素),動態范圍>10000:1●最新的開放式180kV/15W高功率nm焦點X射線管●最小分辨率可達200nm,穩定性高●金剛石窗口,同樣圖像品質下檢測速度提高2倍●采用的是花崗巖基座設備非常穩定,可達到高精度、高穩定度的機械系統●最大檢測范圍可達直徑240mm x H 250mm●最小體積分辨率可達0.3um●3D量測系統,包括恒溫樣品室和高精度檢測系統●1小時以內即可生成檢測報告 利用3D檢視焊接接點內部的空隙間隙分布清晰可見 碳酸鹽中的分段氣孔(? 2 mm) 玻璃纖維和礦物填料(紫色)的凝聚體的方位和分布都清晰可見。 纖維寬度大約為 10 μm 基本規格設備規格最大管電壓180 kV最大功率15 W細節檢測能力高達200nm (0.2μm)最小焦物距150mm 到600mm最大3D像素分辨率< 300nm (0.3μm)幾何放大倍率(3D)1.5 倍到300 倍最大目標尺寸(高x 直徑)250mmx 240mm/ 9.84" x 9.45"最大樣品重量3 kg/ 6.6 lb圖像鏈7兆畫素平板數位檢測器陣列2D X射線成像不可3D電腦斷層掃描可以先進的表面提取可以(可選)CAD 比較+ 尺寸測量可以(可選)系統尺寸(1980 x 1600 x 900 mm), (78” x 63” x 35.4”)系統重量1900kg/ 4189 lb輻射安全- 全防輻射安全機柜,依據德國ROV和美國性能標準21 CFR 1020.40 (機柜X-Ray系統)。- 輻射 漏率∶從機臺壁的10cm處測量 <1.0μSv/h。應用領域地質/生物科學高分辨率電腦斷層掃描(micro-ct 與nano-ct)廣泛用於檢測地質樣品,例如:新資源的探索。高分辨率CT-系統以微觀高解析提供巖石樣品、粘合劑、膠合劑和空洞的3D圖像,并幫助分辨特定的樣品特徵,如含油巖石中空洞的大小和位置。塑料工程在塑料工程中,高分辨率的X射線技術用於通過探測縮孔、水泡、焊接線和裂縫并分析缺陷來優化鑄造和噴涂過程。 X射線計算機斷層掃描(micro ct 與nano ct)提供具有以下物體特點的3D圖像∶如晶粒流模式和填料分布,以及低對比度缺陷。玻璃纖維增強塑料樣品的nano-CT ?∶ 玻璃纖維和礦物填料(紫色)的凝聚體的排列和分布都清晰可見。纖維大約有10um寬。測量用X射線進行的3D測量是唯一的可對復雜物體內部進行無損測量的技術。通過與傳統式觸覺坐標測量技術的比較,對一個物體進行電腦斷層掃描的同時可獲得所有的曲點: 包括所有無法使用其他測量方法無損害進入的隱蔽形體,如底切。 v/tome/xs 有一個特殊的3D測量包,其中包含空間測量所需的所有工具,從校準儀器到表面提取模組,具有可能的最大精度,可再現且具親和力. 除了2D壁厚測量外,CT數據可以快速方便地與CAD數據進行比較,例如,分析完成元件,以確保其符合所有的規定尺寸。對氣缸蓋3個裝置的CAD差異分析和測量。感應器學和電氣工程在感應器和電子組件的檢測中,高分辨率X射線技術主要用於檢測和評估接觸點、接頭、箱子、絕緣子和裝配情況。甚至可以檢測半導體元件和電子設備(焊點),而無需拆卸設備。Nano-CT ?顯示CSP組件的焊接接點。焊接接點的3D形狀,約直徑400um,空隙間隙分布清晰可見。焊接接點內部,不同的共晶焊料相是可見的。材料科學高分辨率電腦斷層掃描(micro-ct 與nano-ct)用於檢測材料、復合材料、燒結材料和陶瓷,但也可應用於地質或生物樣品進行分析。材料分配、空隙率和裂縫在微觀上是3D可視的。玻璃纖維復合材料的nano-CT ?∶纖維氈(藍色)的纖維方向和基質樹脂(橙色)會清楚顯示出來。圖片右邊: 樹脂內的空洞會以暗體出現。左邊∶ 樹脂已淡出,以更好地使纖維氈可視化。氈內的單跟纖維是可見的。3D電腦斷層掃描工業X射線3D電腦斷層掃描(micro-ct 與nano-ct) 的標準應用是對金屬和塑料鑄件的檢測及3D測量。phoenix| X射線的高分辨率X射線技術開辟了在眾多領域的新應用,如傳感器技術、電子、材料科學以及許多其他自然科學。SMD感應器的nanoCT?, 尺寸0805 (2.0 mmx 1.2 mm). 三維X射線圖像顯示了後蓋後的內部線圈。在任何常規的X光片中,圖層面板都是重疊的,但nanoCT ?成功地將對象逐層顯示。

GE Micromex DXR-HD 微米級高分辨率自動檢測系統

GE Micromex DXR-HD 微米級高分辨率自動檢測系統

  • 品牌: 美國GE
  • 型號: Micromex DXR-HD
  • 產地:美國
  • 供應商:先馳精密儀器(東莞)有限公司

    產品特色∶1.主要功能∶維修率低,壽命長,開放式180 kV/ 20W的高功率um聚焦管。高達0.5um的細部分辨率。高動態恒溫GE DXR數位檢測器可偵測30 FPS(每秒30幀)的清晰即時影像。基於高分辨率自動化X射線檢測(μAXI),xact軟體模組可方便快速的CAD以達到極高的缺陷覆蓋率,并具有高放大倍率和高度可再現性。高放大倍率,下傾斜視角達70度。自動檢測BGA、CSP、QFP、PTH等焊點與空隙分析,彎曲度計算。精確的操作。高度的可再現性。10秒內的3D CT掃描功能(選配)。2.客戶利益∶極高的缺陷覆蓋率和高再現性杰出的操作便利性高達2倍的速度在相同的高影像品質等級的鉆石|視窗作為一個新的標準的資料擷取可結合2D/3D的CT操作模式 2D檢測畫面 微焦點X射線圖像的BGA焊點在極高分辨率的上視圖 高倍率的微焦點X射線圖像可清晰檢測直徑為25um的銅鍵合線 格 最大管 180 kV 最大功率 20 W 部能力 高0.5 μm 最小焦物距 0.3 mm 何放大倍率(2D) 高1970倍 最大目尺寸(高 x 直徑) 680 mm x 635 mm / 27" x 25" 最大目重量 10 Kg / 22 磅 操作 5的品方向移操作(X、Y、Z、R、T) 器 GE DXR250RT,的全片幅尺寸下每秒30 2D X射成像 可以 3D CT描 可以(配) 系統尺寸 1860 mm x 2020 mm x 1920 mm (73.2” x 79.5” x 75.6”) 系統重量 2600 kg / 5070 lb 射安全 - 全防射安全,依德ROV和美性能21 CFR 1020.40 (X-Ray系)。 - 射漏率:臺壁的10cm量 <1.0Sv/h。用域:SMTICBGA 基板精密零件子零件PCBA 半封

GE Micromex 微米級高分辨率自動檢測系統

GE Micromex 微米級高分辨率自動檢測系統

  • 品牌: 美國GE
  • 型號: Micromex
  • 產地:美國
  • 供應商:先馳精密儀器(東莞)有限公司

    產品特色∶1.主要功能∶維修率低,壽命長,開放式180 kV/ 20W的高功率um聚焦管。高達0.5um的細部分辨率。基於高分辨率自動化X射線檢測(μAXI),xact軟體模組可方便快速的CAD以達到極高的缺陷覆蓋率,并具有高放大倍率和高度可再現性。高放大倍率,下傾斜視角達70度。自動檢測BGA、CSP、QFP、PTH等焊點與空隙分析,彎曲度計算。精確的操作。高度的可再現性。選配∶高動態恒溫GE DXR數位檢測器可偵測30 FPS(每秒30幀)的清晰即時影像。10秒內的3D CT掃描功能(選配)。高達2倍的速度在相同的高影像品質等級的鉆石|視窗作為一個新的標準的資料擷取2.客戶利益∶可結合2D/3D的CT操作模式極高的缺陷覆蓋率和高再現性。符合人體工學設計,操作更簡便。 2D陶瓷基板檢測 高倍率微焦點X射線圖像的使用直徑為25um的銅焊線 微焦點X射線圖像THT焊點即時CAD的覆蓋 格 最大管 180 kV 最大功率 20 W 部能力 高0.5 μm 最小焦物距 0.3 mm 最大3D像素的分辨率(取於象的大小) < 2 m 何倍率(2D) 高1970倍 何放大倍率(3D) 100倍 最大目尺寸(高 x 直徑) 680 mm x 635 mm / 27" x 25" 最大目重量 10 Kg / 22 磅 像 200像素的位像 操作 5的品方向移操作(X、Y、Z、R、T) 2D X射成像 可以 3D CT描 可以(配) 系統尺寸 1860 mm x 2020 mm x 1920 mm (73.2” x 79.5” x 75.6”) 系統重量 2600 Kg / 5070 磅 射安全 - 全防射安全,依德ROV和美性能21 CFR 1020.40 (X-Ray系)。 - 射漏率:臺壁的10cm量 <1.0Sv/h。用域:SMTICBGA 基板精密零件子零件PCBA 半封

Pcbainspector PCBA檢測系統

Pcbainspector PCBA檢測系統

  • 品牌: 美國GE
  • 型號: PCBA檢測系統
  • 產地:美國
  • 供應商:先馳精密儀器(東莞)有限公司

    主要功能 用域:SMTICBGA 基板子零件PCBA 半封 用於二X射成像,需式的100千伏X微焦射管 自微焦X射,如BGAs等焊,空隙分析 分辨率小於2um 高品位化影像系 精密,小 人工,操作便 在一50 °探器角斜位的通孔。所有的8接清晰可辨。 IC 器2D分析 2D陶瓷基板 格 最大管 100 kV 最大功率 10 W 能力 高3um 最小焦物距 4.5mm 何放大倍率(2D) 高75倍 最大目尺寸(高x 直) 28”x 22”(710 mmx 560 mm) 最大物重量 5 kg / 11 lb 像 672 x 568 操作 3的品操作 2X射成像 可以 系尺寸 1.270 mmx 1.510 mmx 1.550 mm/ 50” x 59.4” x 61” 系重量 1300 kg / 2866 lb 射安全 - 全防射安全,依德ROV和美性能21 CFR 1020.40 (X-Ray系)。 - 射漏率:臺壁的10cm量 <1.0Sv/h。

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