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輪廓儀

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輪廓儀

輪廓儀

輪廓儀是對物體的輪廓、二維尺寸、二維位移進行測試與檢驗的儀器。輪廓儀主要優點是可以直接測量某些難以測量到的零件表面,如孔、槽等的表面粗糙度,又能直接按某種評定標準讀數或是描繪出表面輪廓曲線的形狀,且測量速度快、結果可靠、操作方便。輪廓儀廣泛應用于機械加工、電機、汽配、摩配、精密五金、精密工具、刀具、模具、光學元件等行業。
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Profilm 3D光學輪廓儀

Profilm 3D光學輪廓儀

  • 品牌: 美國Filmetrics
  • 型號: Profilm 3D
  • 產地:美國
  • 供應商:優尼康科技有限公司

    Profilm3D僅用10倍物鏡就提供了達到2mm的超大視場范圍,同時其最大4倍光學變焦的功能緩解了不同應用時切換多個物鏡的需求。這些都進一步降低了采購成本。

3D光學輪廓儀S neox

3D光學輪廓儀S neox

  • 品牌: 西班牙Sensofar
  • 型號: S neox
  • 產地:西班牙
  • 供應商:北京東方德菲儀器有限公司

    3D光學輪廓儀S neox 將共聚焦、干涉和多焦面疊加3種測量技術融合于一體,測量頭內無運動部件。3D光學輪廓儀S neox 為客戶展現全新的3D立體形貌。

ContoruGT 系列光學輪廓儀

ContoruGT 系列光學輪廓儀

  • 品牌: 德國布魯克
  • 型號: ContoruGT 系列
  • 產地:德國
  • 供應商:深圳市藍星宇電子科技有限公司

    ContourGT 系列產品結合先進的64位,多核心運作及分析軟件,專利的白光干涉儀(WLI)硬件,以有前所未具簡易操作度,為目前所開發量先進的3D光學表面輪廓儀。

德Bruker光學輪廓儀ContoruGT

德Bruker光學輪廓儀ContoruGT

  • 品牌: 德國布魯克
  • 型號: ContoruGT
  • 產地:德國
  • 供應商:深圳市藍星宇電子科技有限公司

    德Bruker光學輪廓儀ContoruGT-表面量測系統-供生產QC/QA及研發研用的非接解觸型光學輪廓儀,ContourGT 系列產品中包含有旗靚級ContourGT-X, 進階級ContourGT-1及入門等級的桌上型K0,每款機型可提供多種加工與制造業市場上各種應用范圍(包括高亮度LED,太陽能,眼科,半導體及醫療裝置等)。NPRLEX 為大尺寸工件精密加工提供非接觸準確測量。

SmartWLI 傳統二維光學顯微鏡三維輪廓/形貌掃描升級方案

SmartWLI 傳統二維光學顯微鏡三維輪廓/形貌掃描升級方案

  • 品牌: 德國GBS
  • 型號: SmartWLI - Microscope
  • 產地:德國
  • 供應商:WinWinTec UG

    SmartWLI傳統光學顯微鏡升級技術 亞納米級分辨率白光干涉技術與三維表面形貌測量傳統二維光學顯微鏡可以升級為三維表面形貌測量裝置,極大提升應用效能。圖1.干涉物鏡通過接合器安裝于傳統光學顯微鏡,升級后的顯微鏡具備高分辨三維表面形貌測量功能顯微鏡的重要性不只在于研究與記錄,更在于產品質量監測與樣品表面分析。光學顯微鏡已經成為許多實驗室的標配設備。對于大多數樣品來說,傳統二維顯微鏡不足以獲得其表面所有形貌細節。因此,三維表面形貌測量技術正逐漸成為一種重要的表征手段。 圖2. 金屬表面二維、三維測量結果比較 其典型應用領域包括不同表面粗糙度試樣的三維表面形貌觀察(如晶片結構,鏡面,玻璃,金屬),臺階高度測定和曲面精確測量(如微型透鏡)。當前,許多研究機構都有三維表面形貌測量設備的采購需求。但事實上,只要滿足下列條件,世界上多數知名品牌的傳統光學顯微鏡都可以升級為高精度三維表面形貌測量設備:* 無限遠、中間像光學系統;* 反射明場照明系統;* CCD攝像頭接口;* 可更換物鏡的鏡筒位于德國Ilmenau的GBS公司已經成功利用其SmartWLI顯微鏡升級技術為蔡司、尼康、萊卡、奧林巴斯等眾多品牌的傳統光學顯微鏡完成升級工作。其基本原理為白光干涉一種成熟的三維表面形貌測量方法,測量精度可以達到亞納米量級。同傳統的單色光干涉技術大為不同,SmartWLI白光干涉技術采用相干長度達到2um的寬頻帶光。實際測量必須深入相干區域掃描,每隔70-80nm取樣。而單色光干涉技術多用激光,相干長度達到數千米,不能用來觀察納米級的區域。當光程差接近相干長度時,干涉差變得更小。通過參考面,以設定好的步頻移動被測物體,每移動一個步頻,記錄一個干涉圖樣,這樣大量干涉圖樣就以像素為單位記錄下來。若數據的采集與處理同時進行即可在數秒之內得到測量表面區域的高度信息(形貌特征)。GBS公司研發的Smart WLI軟件可以對測量數據進行高速運算。三維數據的計算任務轉交圖形處理器(GPU)完成,一百萬測量點的數據處理時間可從30秒降到1秒以內。SmartWLI顯微鏡升級技術特征德國GBS公司的SmartWLI 顯微鏡升級技術可以將傳統二維顯微鏡升級為先進的三維表面形貌測量設備。該技術涉及硬件組件包括:* 一套基于壓電效應、由電腦控制的定位系統(定位精度在納米量級);* 一款高質量的干涉透鏡;* 一款高靈敏度CCD攝像頭,帶有GigE接口;選件:電動XY軸平臺、高性能電腦與拼接技術,可實現大表面三維形貌測量。PC配置要求:因特爾i5處理器,微軟Windows操作系統,4G內存,具備高速計算能力 的英偉達圖形處理器(NVIDA GPU),TFT液晶顯示屏,鍵盤與鼠標。GBS SmartWLI顯微鏡升級技術選用的壓電調節器由德國Piezo System Jena公司開發研制。該款MIPOS透鏡調節器縱向方向(Z軸方向)掃描范圍可達500 um,可選擇相干透鏡(物鏡)的放大倍數在2.5倍到100倍之間。GBS公司開發的SmartWLI軟件具備操作直觀、數據分析快速、納米級精度顯示等優點,可以對采集到的三維測量數據進行基礎運算。經SmartWLI軟件處理后的三維測量結果,可再交由圖形分析軟件MountainsMap做進一步處理,最終可得到二維、三維表面形貌圖像、粗糙度、臺階高度、微粒分析與報告等。 基于圖形處理器GPU的高速運算功能,三維測量數據運算可以與形貌掃描同步進行。在不過度占用電腦中央處理器(CPU)與內存空間的前提下,實現大范圍的三維形貌測量。顯微鏡升級后的主要測量參數:縱向測量范圍: 最大可達400 um橫向測量范圍: 649 um×483 um (10倍物鏡);324 um×241 um (20倍物鏡) 129 um×96 um (50倍物鏡) (注意:上述數據皆為估算值,實際橫向測量范圍需參考用戶現有顯微鏡參數)縱向(Z軸)分辨率: <1 nm橫向分辨率: 1.66 um(10倍物鏡);0.96 um(20倍物鏡);700 nm(50倍物鏡) 掃描速度: 3.6 - 16 um/s 計算時間: 一百萬測量點數據/一秒內SmartWLI顯微鏡升級技術的其它優勢:* 無需新的設備技術,縮短培訓周期;* 利用現有測量平臺,節省實驗室空間;* 保留原有二維測量功能,兼具三維測量能力;* 立足用戶原有組件,大幅節省升級費用; (可利用組件包括:光源、鏡筒、鏡頭旋轉器、Z軸調節器、XY軸測量平臺)。* 全面的三維表面形貌測量功能自動拼接技術與鉆石磨削頭的三維表面形貌測量升級后的顯微鏡可以對鉆石磨削頭進行納米級分辨率的三維表面形貌測量,可得到表面鉆石的形貌和體積。我們可借助本次測量實例,深入了解一種SmartWLI 顯微鏡升級技術獨具的“自動拼接”功能 - 即將大量二維測量區域上的“干涉圖樣摞”再次疊加,生成更大檢測區域的三維圖像。軟件上的“自動拼接”功能結合硬件上的電動XY軸平臺,就可實現更大表面的三維形貌測量。 圖3.鉆石磨削頭三維表面形貌測量結果 (10倍物鏡,3×3陣列拼接) 圖3所示為選用10倍物鏡,以3×3陣列(9倍單位掃描區域),經“自動拼接”得到的三維表面形貌測量結果。借助“自動拼接”功能,可以在數分鐘內實現大表面(百倍以上單位測量區域)的三維形貌測量。結語:德國GBS公司SmartWLI 顯微鏡升級技術為傳統光學顯微鏡提供了一種全新的升級方式。經驗豐富的GBS工程師可以為您升級現有的顯微鏡,培訓操作人員。SmartWLI顯微鏡升級技術不但不會對用戶現有顯微鏡的固有功能造成損害或限制,還可以兼容其原有軟件。1) 德國GBS公司官網:www.gbs-ilmenau.de2) 德國WinWinTec公司(GBS中國市場渠道商)官網:www.winwintec.com

SmartWLI擴展型白光干涉三維輪廓儀

SmartWLI擴展型白光干涉三維輪廓儀

  • 品牌: 德國GBS
  • 型號: SmartWLI Extended
  • 產地:德國
  • 供應商:WinWinTec UG

    SmartWLI擴展型白光干涉三維輪廓儀非接觸三維表面形貌測量技術白光干涉測量技術廣泛應用于光滑與粗糙表面的三維形貌表征。垂直方向的測量精度可以達到納米級別。SmartWLI擴展型白光干涉三維輪廓儀擁有納米級測試精度,外接PC或筆記本電腦進行實時數據分析。SmartWLI擴展型白光干涉三維輪廓儀功能全面,輕松應對各種測試環境。電動XY雙軸樣品臺匹配自動拼接程序,應對大面積測試任務。典型應用包括科學研究、質量控制和工藝管理。德國GBS公司SmartWLI擴展型白光干涉三維輪廓儀具備如下優點: 通用型 精度高 測速快 穩定可靠 自動拼接SmartWLI- 擴展型白光干涉三維輪廓儀技術參數:花崗巖基座、腳架電動X Y雙軸樣品臺(尺寸:226 x 232 mm2;移動范圍:76 x 52mm2) 測量端配物鏡轉換臺、同時兼容4款物鏡PC界面、Windows 7系統,NVIDIA 圖形處理器具備超速運算功能SmartWLI形貌測量軟件、“自動拼接”功能MountainsMap三維圖像處理軟件 MountainsMAP分析軟件作為一款高品質的表面成像與分析軟件,MountainsMAP 適合實驗室、研究機構及工廠各類機能表面的設計、測試或制造設備使用。MountainsMAP擁有一整套全面的解決方案,專用于表面外觀及形貌的成像與分析,提供詳盡的三維可視化測量報告。 SmartWLI擴展型白光干涉三維輪廓儀技術參數測量系統量測原理 白光干涉Z軸定位系統壓電效應調節系統高度量測范圍最大可達400 μm攝像頭參數CCD攝像頭;1624x 1234相素干涉物鏡系統放大倍數MAG視場范圍FOV (mm)橫向分辨率 (um)2.5 ×, 5 ×, 10 ×, 20 ×, 50 ×, 100 ×4.12 × 3.06 mm2 - 0.103 × 0.076mm210.54 μm - 0.55 μm光源LED測試時間通常<20秒軟件系統SmartWLI基于微軟Win7操作系統,64位表面形貌測量軟件;三維數據可通過接口直接傳輸至MountainsMap分析軟件。MountainsMap三維數據分析軟件,輪廓及三維影像結果輸出、測量數據預處理及后處理、德標(DIN)歐標( EN) ISO標準粗糙度及高度測定、串行處理及測試日志。輸出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF更多SmarWLI系列白光干涉三維輪廓儀產品信息,請訪問www.WinWinTec.com與 www.smartWLI.de(2012年1月技術數據)SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(一)-液態軸承SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(二)-晶片SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(三) - 鉆石工具SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(四)-透鏡工具SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(五)-金屬表面SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(六)-汽車車身表面SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(七)-粗糙度標準片SmartWLI白光干涉技術三維表面形貌測量結果(八) - 發動機汽缸

SmartWLI大視場便攜式白光干涉三維輪廓儀

SmartWLI大視場便攜式白光干涉三維輪廓儀

  • 品牌: 德國GBS
  • 型號: SmartWLI PortableLA
  • 產地:德國
  • 供應商:WinWinTec UG

    SmartWLI 大視場便攜式白光干涉三維輪廓儀非接觸三維表面形貌測量技術技術特點:5cm直徑視場(光斑),800μm垂直測量高度,無需拼接即可在短時間內(通常1分鐘)完成大區域面積的三維形貌(輪廓)的測量任務!SmartWLI 大視場便攜式白光干涉三維輪廓儀,專用于車身、印刷滾筒、太陽能電池等工業產品的表面形貌測量與分析。儀器采用白光干涉測量原理,操作簡單, 可輕放于樣品表面執行測量任務。特有的三腳螺紋支架結構,便于測量彎曲表面。系統內置三束激光校準系統,便于迅速鎖定測量區域。外接筆記本電腦完成數據分析,測量結果立體直觀呈現。SmartWLI 大視場便攜式白光干涉三維輪廓儀方便攜帶、易于運輸。現場安裝與啟動幾分鐘內即可完成。適用于工業產品表面快速、納米級精度測量。SmartWLI 大視場便攜式白光干涉三維輪廓儀具備如下優點:靈活便攜操作簡單厘米級視場納米級精度典型應用領域包括:質量管理工藝控制產品研發 SmartVIS 3D測量軟件 歐元硬幣表面三維形貌測量圖數據分析與結果輸出:樣品表面三維形貌圖解表示幾何分析(長度、角度、面積測量;不規則區域、坑洞體積;樣品表面臺階高度與側面輪廓剖面圖)粗糙度分析(樣品粗糙度與表面波度)材料屬性分析(材料摩擦磨損實驗測定)區域計算與輪廓參數(滿足ISO 25178 : Sa, Sz… 與ISO 4287 : Ra, Rz…標準要求) SmartWLI 大視場便攜式白光干涉三維輪廓儀技術參數測量系統量測原理 白光干涉Z軸定位系統壓電效應調節系統高度量測范圍最大可達800 μm攝像頭參數CCD攝像頭;1624x 1234相素校平系統三束激光干涉物鏡系統視場范圍(mm2)35 x 35最小可分辨橫向寬度(um)28工作距離(mm)10垂直分辨率小于10nm光源系統LED外觀尺寸295 mm(高)× 180 mm (寬) × 245 mm(長)支架高度調節范圍(三腳螺紋支架)大約5-30 mm毛重約3.5 Kg 操作界面筆記本電腦、Windows 7操作系統量測時間通常小于1分鐘工作溫度10-35℃推薦工作溫度18-22℃軟件系統SmartWLI基于微軟Win7操作系統,64位表面形貌測量軟件、三維數據可通過接口直接傳輸至MountainsMap分析軟件。MountainsMap三維數據分析軟件,輪廓及三維影像結果輸出、測量數據預處理及后處理、德標(DIN)歐標( EN) ISO標準粗糙度及高度測定、串行處理及測試日志。輸出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF 車身部件表面三維形貌測試結果 印刷行業:激光凹版容積 (油墨消耗)工藝控制產品研 注塑行業:注塑機的校準 硅晶片表面波紋度與粗糙度測試 其它測試結果欣賞 其它測量結果欣賞

移動式3D測量系統

移動式3D測量系統

  • 品牌: 德國Nanofocus
  • 型號: usurf mobile
  • 產地:德國
  • 供應商:上海巨納科技有限公司

    n產品介紹μsurf系列產品采用多孔共聚焦技術,結合CCD的影像攝取,以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞,再將物鏡垂直移動,以類似斷層攝影方式,可在短時間(約幾秒)內精確量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式,不會破壞樣品的表面,不需要在真空環境下測量,也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本,其在嚴酷的工作環境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在測量漸變較大的高度時,跟其他方法相比,可以更精確量測物體高度,建立3D立體影像,優勢相當明顯。NanoFocus μsurf mobile移動式3D測量系統,適用于對大型樣品的測量,所以可以在很多惡劣的環境下進行使用,并且不會影響到使用壽命。當人們還在為測量物體太過于龐大而一籌莫展時,μsurf mobile移動式3D測量系統的橫空出世徹底解決了人們的這個困惑,該機臺不需要移動龐大的被測物體,只需要帶著便捷的μsurf mobile,放在被測物體上,就可以在短時間內得出精確的三維表面形貌。n應用μsurf系列用來測量表面物理形貌,進行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深、寬度、曲率、角度)、表面粗糙度等。μsurf mobile主要對大型樣品進行測試,在以下幾個行業中被眾多知名企業廣泛使用:ü汽車行業ü印刷和造紙行業ü鋼鐵行業n技術參數LED光源:λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h測量時間:5~10秒測量原理:非接觸、共聚焦、可移動,可以檢測大型的物體X/Y方向移動范圍:50mmX50mm,馬達驅動,X/Y方向分辨率:0.3μmZ方向移動范圍:35mmZ方向測量范圍:250μm,Z方向分辨率:< 10nm物鏡:10X、20X、50X、100X(可選)計算機:高性能計算機控制系統,功能強大且全面的軟件,有拼接功能工作電源:90-265 V, 50-60 Hz, input < 50 W(也可用電池做電源)材質:鋼鐵、橡膠、大理石外型尺寸:380*110*115mm重量:5.5KG(不含防震拉桿箱)潔凈室等級: Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)設備咨詢聯系人:Ronnie Chen電話:+86-13651969369 +86-21-61533166

Wyko NT9100 光學輪廓儀 Wyko NT9100 光學輪廓儀

Wyko NT9100 光學輪廓儀 Wyko NT9100 光學輪廓儀

  • 品牌: 德國布魯克
  • 型號: NT9100
  • 產地:美國
  • 供應商:德國布魯克AXS有限公司北京代表處

    儀器簡介: NT9100光學輪廓儀是一款使用便利、性能卓越,性價比高的非接觸無損傷三形貌維測量儀器。Wyko最新的第九代系統采用獨有的雙LED照明光源專利技術,能夠更好的檢測超光滑表面及非常粗糙的表面;它的測量范圍可達亞納米級粗糙度到毫米級的臺階高度。作為第九代白光干涉儀的桌面機臺,NT 9100同樣具有大機臺才有的優點:簡單易用的操作方式、快速數據獲取能力、強大的軟件功能及埃級的重現性等。同時,可選配的X-Y自動平臺,使NT9100具有程序化處理樣品的功能。 技術參數: 1、縱向掃描范圍:0.1nm~1mm (標配) 2、最大掃描速度:24um/s 3、樣品臺尺寸:100mm 主要特點: 1. 非接觸測量 2. 重復性高 3. 測量精度高

WYKO NT9800 光學輪廓儀 WYKO NT9800 光學輪廓儀

WYKO NT9800 光學輪廓儀 WYKO NT9800 光學輪廓儀

  • 品牌: 德國布魯克
  • 型號: NT9800
  • 產地:美國
  • 供應商:德國布魯克AXS有限公司北京代表處

    儀器簡介:Wyko NT9800 光學輪廓儀在0.1nm 到 10mm 的垂直掃描范圍內提供了非接觸式高速高精度三維表面測量工能,縱向分辨率可達0.1nm。NT9800 采用了Veeco專利的內部實時激光參考信號進行持續的自校準,減小了通常情況下使用標準塊校準設備的需要,并且能夠補償工作環境下系統產生的熱漂誤差。作為業內領先的第九代Wyko NT系列光學輪廓儀產品,NT9800 具有最高的自動化水平,友好的用戶界面,以及業內最好的Wyko Vision分析軟件系統。眾多先進技術的集成、經過長期實用驗證的測量技術核心以及適合于各種專業應用需要的軟件功能,使 NT9800 成為世界上最先進的光學干涉測量設備,可滿足MEMS、金屬研究、材料科學、半導體、醫用器械等眾多領域科研和生產工作中對高精度自動化表面測量的需要。技術參數:1、縱向掃描范圍:0.1nm~1mm (標配) 2、垂直掃描速度:25um/s 3、樣品臺尺寸:200mm主要特點:1. 非接觸測量 2. 重復性高 3. 測量精度高

多功能摩擦磨損試驗機

多功能摩擦磨損試驗機

Bruker ContourGT 非接觸3D光學輪廓儀

Bruker ContourGT 非接觸3D光學輪廓儀

  • 品牌: 德國布魯克
  • 型號: ContourGT
  • 產地:德國
  • 供應商:北京億誠恒達科技有限公司

    ContourGT 非接觸3D光學輪廓儀 ContourGT表面計量系列產品用于生產和研發的非接觸式三維光學輪廓儀業界最高垂直分辨率極高的可靠性和最好的測量重復性最高的表面測量和分析速度最強的使用性,操作簡便,分析功能強大30年技術革新,實現非接觸式表面測量技術高峰ContourGT系列結合先進的64位多核操作和分析處理軟件,專利技術白光干涉儀(WLI)硬件和前所未有的操作簡易性,推出歷年來來最先進的3D光學表面輪廓儀系統。第十代光學表面輪廓儀擁有超大視野內埃級至毫米級的垂直計量范圍,樣品安裝靈活,且具有業界最高的測量重復性。ContourGT系列是當今生產研究和質量控制應用中,最廣泛使用和最直觀的3D表面計量平臺。業界最高的垂直分辨率,最強大的測量性能0.5倍至200倍的放大倍率,在極寬的測量范圍內,對樣品表面形狀和紋理進行表征。任何倍率下亞埃級至毫米級垂直測量量程提供了無以倫比的測量靈活性。高分辨率攝像頭可選配件,提高了橫向分辨率和GR&R測量的重復性。多核處理器下運行的Vision64? 軟件,大大提高三維表面測量和分析速度新的軟件設計使數據處理速度提高幾十倍。多核處理器和64位軟件使數據分析速度提高十倍。無以倫比的無縫拼接能力,可以把成千上萬個數據拼接成一張連續的完美圖像  測量硬件的獨特設計增強生產環境中的可靠性和重復性高亮度的雙LED照明專利技術提高測量質量。最佳化的硬件設計提高了儀器對震動的容忍度和GR&R測量的能力。專利的自動校準能力確保了儀器與儀器之間的相關性,測量準確度和重復性。高度直觀的用戶界面,擁有業界最強的操作簡便和分析功能強大優化的用戶界面大大簡化測量和數據分析過程,從而提高儀器和操作者效率獨特的可視化操作工具為用戶提供易于學習和使用的數據分析選項用戶可自行設置數據輸出的界面 三十年技術創新,迎來第十代全新產品我們的干涉儀是世界上第一個包含了著名的垂直掃描干涉技術(VSI模式),掃描頭傾斜調整,專利的自動校準和雙LED照明等革新技術。ContourGT系列既結合了這些已被證實的設計功能,又在硬件上進行了大量的改進,從而給用戶提供了目前世界上最精確的、重復性最好的光學輪廓儀性能。 Bruker的光學輪廓儀具有已被證實的,將近三十年的優越性能運行跟蹤記錄,從研究型實驗室到生產型工廠的上萬臺安裝記錄。 ContourGT-X光學輪廓儀配備有一體式的氣動平臺和雙層金屬鑄件,此兩種設計都是為了隔離震動以避免干擾測量效果,從而獲得快速、精確的、可通過GRR測試的測量結果。OMM結合了Bruker專利的雙LED照明光源技術,在任何樣品任意放大倍數下均可提供卓越的照明強度和均勻性。OMM還能在整個10mm測量量程內提供無以倫比的準確性和可重復性。馬達驅動的多放大倍率檢測器可包含最大三個視場目鏡,以最大化放大倍率的靈活性和穩定性。ContourGT系列可選擇型號中,具有包含Bruker專利技術的內置一級標準自校準功能的能力,使得閉環掃描的性能最大化。此模塊包含一個參考信號,在儀器啟動時對系統進行自校準,然后連續監控并校正每次測量,以保證絕對的精確度和卓越的重復性。Bruker的傾斜調整支架設計可使得OMM傾斜,而不是樣品傾斜。這樣,被測量的樣品將總處于聚焦位置,并且在測量的視野中,確保了操作的一致性和簡易性。*這些選項僅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型號上具有。在ContourGT-X型號中具有全自動的8英寸或12英寸樣品臺。兩種樣品臺均配備有0.5um重復性的編碼器。ContourGT-K1型具有可選的6英寸馬達驅動樣品臺。還可選配具有Z方向聚焦旋鈕的XY操縱桿。選配的馬達驅動塔臺可安裝最多4個干涉物鏡,從1倍至100倍。塔臺設計確保了當您切換物鏡時,您的測試點始終處于聚焦和中心位置。在防震臺的后面配備有一個LED光源以幫助樣品聚焦和確保操作可觀度。輔助操作燈泡*塔臺自動樣品臺傾斜調整支架*自校準功能*光學計量模塊(OMM)卓越的震動隔離性能*

DektakXT探針式表面輪廓儀/臺階儀

DektakXT探針式表面輪廓儀/臺階儀

  • 品牌: 德國布魯克
  • 型號: DektakXT
  • 產地:美國
  • 供應商:北京億誠恒達科技有限公司

    DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)是一項創新性的設計,可以提供更高的重復性和分辨率,測量重復性可以達到5?。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術創新的頂峰,更加鞏固了其行業領先地位。不論應用于研發還是產品測量,通過在研究工作中的廣泛使用,DektakXT一定能夠做到功能更強大,操作更簡易,檢測過程和數據采集更完善。第十代DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術突破,使納米尺度的表面輪廓測量成為可能,從而可以廣泛的應用于微電子器件,半導體,電池,高亮度發光二極管的研發以及材料科學領域。DektakXT 完美設計探針系統的評價體系受三個因素影響:能否重復測量,數據采集和分析速度快慢,操作的難易程度。這些因素直接影響了數據的質量和操作效率。DektakXT利用全新結構和和最佳軟件來實現可重復、時間短、易操作這三個必要因素,達到最佳的儀器使用效果。強化操作的可重復性 Delivering Repeatable MeasurementsDektakXT在設計上的幾個提高,使其在測量臺階高度重復性方面具有優異的表現,臺階高度重復性可以到達5?.使用single-arch結構比原先的懸臂梁設計更堅硬持久不易彎曲損壞,而且降低了周圍環境中聲音和震動噪音對測量信號的影響。同時,Bruker還對儀器的智能化電子器件進行完善,提高其穩定性,降低溫度變化對它的影響,并采用先進的數據處理器。在控制器電路中使用這些靈敏的電子元器件,會把可能引起誤差的噪音降到最低,DektakXT的系統因此可以更穩定可靠的實現對高度小于10nm的臺階的掃描。Single-arch結構和智能器件的聯用,大大降低了掃描臺的噪音,增強了穩定性,使其成為一個極具競爭力的臺階儀(表面輪廓儀)。提高數據采集和分析速度 SpeedingUp Collectionand Analysis利用獨特的直接掃描平臺,DektakXT通過減少從得到原始數據到扣除背底噪音所需要的時間,來提高掃描效率。這一改進,大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對于表面應力長程掃描的掃描速度。在保證質量和重復性的前提下,可以將數據采集處理的速度提高40%。另外,DektakXT采用Bruker 64-Bit數據采集分析同步操作系統Vision64,它可以提高大范圍3D形貌圖的高數據量處理速度,并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描時的數據分析處理效率。Vision64還具有最有效直觀的用戶界面,簡化了實驗操作設置,可以自動完成多掃描模式,使很多枯燥繁復的實驗操作變得更快速簡潔。完善的操作和分析系統 PerfectingOperationand Analysis與DektakXT的創新性設計相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析軟件。Vision64提供了操作上最實用簡潔的用戶界面,具備智能結構,可視化的使用流程,以及各種參數的自助設定以滿足用戶的各種使用要求,快速簡便的實現各種類型數據的采集和分析。DektakXT 技術參數—臺階高度重復性5?—Single-arch設計大大提高了掃描穩定性—前置敏化器件,降低了噪音對測量的干擾—新的硬件配置使數據采集能力提高了40%—64-bit,這一Vision64同步數據處理軟件,使數據分析速度提高了十倍。功能卓越,操作簡易—直觀的Vision64用戶界面操作流程簡便易行—針尖自動校準系統讓用戶更換針尖不再是難事臺階儀(表面輪廓儀)領域無可撼動的世界領先地位—布魯克的臺階儀,體積輕巧,功能強大。—單傳感器設計提供了單一平面上低作用力和寬掃描范圍

SJ5701-200粗糙度輪廓測量儀

SJ5701-200粗糙度輪廓測量儀

  • 品牌:
  • 型號: SJ5701-200
  • 產地:深圳
  • 供應商:深圳市中圖儀器股份有限公司

    SJ5701-200粗糙度輪廓測量儀性能特點:1、 高精度、高穩定性、高重復性:完全滿足被測件測量精度要求:1) 選用國際領先的高精度光柵測量系統和高精度電感測量系統,測量精度高;2) 自主研發高精度研磨導軌系統,導軌材料耐磨性好、保證系統穩定可靠工作;3) 高性能直線電機驅動系統,保證測量穩定性高、重復性好;2、 智能化管理與檢測軟件系統:儀器操作界面友好,操作者很容易即可基本掌握儀器操作,使用十分簡便。1) 10多年積累的實用檢定軟件設計經驗,向客戶提供簡潔、實用、快速的操作體驗;2) 功能強大、自動處理數據、打印各種格式的檢定報告,自動顯示、打印、保存、查詢測量記錄;3) 測量范圍廣,可滿足絕大多數類型的工件粗糙度輪廓測量;4) 可自動和手動選取被測段進行評定,可依據客戶要求進行軟件功能的定制;5) 純中文操作軟件系統,更好的為國內用戶服務;6) 打印格式正規、美觀。檢定數據可存檔,或集中打印,不占用檢定操作時間;7) 本儀器采用計算機大容量數據庫儲存,可自動記錄保存所有檢定結果。3、 可進行多參數測量:粗糙度自動評價,包括Ra,,Rz,Rp,Rt等4、 測量力系統: 采用音圈電機測力系統,測力可實現從10~150mN連續可調,測力分辨力可達0.2mN;避免了老式砝碼加載因周圍環境振動帶來的測力誤差,降低了測力變化引起的測量誤差。5、 智能保護系統:一旦出現主機與被測工件或夾具相撞、或測針在掃描過程中出現拉力過大,儀器會停止掃描保護測量系統和測針。6、 靈活手動控制:儀器配置了操作桿,可在測量工件前對測針進行粗定位;在脫離電腦的情況下,讓測針左右、上下快速移動。SJ5701-200粗糙度輪廓測量儀用途:SJ5701-200粗糙度輪廓測量儀廣泛應用于機械加工、汽車、軸承、機床、摸具、精密五金、光學加工等行業。該儀器可測量各種精密機械零件的粗糙度和輪廓形狀參數。用擬合法來評定圓弧和直線等。從而可測量圓弧半徑、直線度、凸度、溝心距、傾斜度、垂直距離、水平距離、臺階等形狀參數。該儀器還可對各種零件表面的粗糙度進行測試;可對平面、斜面、外圓柱面、內孔表面、深槽表面、圓弧面和球面的粗糙度進行測試,并實現多種參數測量。本儀器依據GB/T3505-2009、GB/T6062-2009、GB/T10610-2009國家標準及ISO5436、ISO11562國際標準制造。SJ5701-200粗糙度輪廓測量儀技術參數:1. 粗糙度測量:●基本參數:測量范圍:X軸200mm,Z1軸±80μm / ±40μm / ±20μm直線度誤差: ≤0.15μm/20mm,≤0.5μm/200mm示值誤差:±5%分辨率:Z1軸0.04μm(±80μm), 0.02μm(±40μm), 0.01μm(±20μm)測量速度:0.5 mm/s 和0.1 mm/s可調●硬件結構:測針:標準型(高度小于8mm) 1支,觸針半徑2μm,靜態測力0.75mN;大理石平臺:尺寸≥800×450mm;電動立柱:高度≥450mm;●測量軟件依照ISO3274等國際標準, 能自動選取截止波長;●測量參數R粗糙度:Ra,Rq, Rz,Rmax,Rpc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,R3z,RSm,Rs,Rsk,Rku, Rdq,Rlq,Rdc,RHSC,Rmr,Rz-L,Rp-L,R3z-L,Rdc-L,RMr-L,Pdc-L,PMr-L核心粗糙度: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,VoP輪廓參數:Pa,Pq,Pt,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Plq,Pdc,PHSC,PPc,PMr,W波度輪廓參數:Wa,Wq,Wt,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdg,Wdc,WMrMotif參數:R,Ar,W,Aw,Rx,Wx,Wte,Nr,Ncrx,Nw,Cpm,CR,CF,CLISO5436參數:Pt,D輪廓類型: 支持D,P,W,R●濾波器:高斯濾波器、RC濾波器,相位修正濾波器濾波波段可選擇,也可任意設定;支持自動選擇符合標準的過濾方式和取樣長度;2. 輪廓測量:(1)X軸測量范圍:0~200mm;示值誤差:±(0.8+2L/100)um,其中L為水平測量長度,單位:mm;分辨率:0.01um;直線度:2um/200mm測量速度:0.1~5mm/s;移動速度:0~30mm/s(2)傳感器Z1軸:測量范圍:±25mm;示值誤差:±(1.6+|2H|/100)um,其中H為垂直測量高度,單位:mm;分辨率:0.01um;(3)Z軸:測量范圍:0~450mm;移動速度:0~30mm/s;(5) 測量力:10~150mN;(6) 爬坡能力:上坡77 o,下坡83o;(7) 工作臺:旋轉角度:360度,X、Y移動 :15mm。3. 儀器尺寸:花崗巖平板800×450×100mm 整機:850×500×1100mm;儀器重量:150Kg4. 使用環境:無強磁場,無振動,無腐蝕氣體工作溫度:20℃ ±2℃相對濕度:40-60%SJ5701-200粗糙度輪廓測量儀標準配置:1) SJ5701-200粗糙度輪廓一體式測量儀主機 1臺;(1)輪廓模塊(2)粗糙度模塊(含粗糙度測針)2) 組合校準規 1套;3) 圓錐硬質合金測針1支;4) 單切面硬質合金測針1支;5) 平口虎鉗 1套;6) 萬向工作臺 1套;7) 測量軟件1套; 8) 品牌計算機1套1)主機配置:雙核以上CPU,500GB硬盤,2G內存,Win7系統;2)顯 示 器:24寸液晶顯示器。9) HP激光打印機1臺(型號隨HP廠家變更而變更)10) 鋁合金儀器配件箱1個;11) 產品使用說明書1套;12) 產品合格證、保修卡1套;13) 免費保修1年。

VITT QM60-H快速測量儀

VITT QM60-H快速測量儀

  • 品牌: 南京維埃迪光
  • 型號: QM60-H
  • 產地:
  • 供應商:南京維埃迪光電技術有限公司

    QM60 快速測量儀系列更“迅速”且“準確”,放置后僅按一鍵即可測量,是一種全新的尺寸測量形式。一次性測量長度、寬度、弧度、直徑、角度、孔距等,大幅度提高了測量的精度和速度,有效地消除人為誤差,是取代卡尺、投影儀、影像儀、工具顯微鏡等傳統精密測量儀器的最佳選擇。快速 fast一鍵式測量一個工件僅需幾秒,可一次性測量多個產品工件,更高的效率讓您專注于制造高品質的產品。簡單 quick區別于傳統的影像儀、工具顯微鏡等測量儀器。測量前需校正,測量時需要移動XY 坐標臺, 操作復雜繁瑣,QM60-V一鍵式測量儀無需繁瑣步驟,半小時即可上手。準確 accurac任何人操作均可得到相同的測量結果。低成本 inexpensive無需擔心技術的變革給您帶來任何壓力。QM60-H快速測量儀的技術參數:型號QM60-H測量范圍(mm)35*30mm60*50mm90*75mm測量精度(μm)±2μm±3μm±5μm景深(mm)14mm40mm90mm圖像傳感器500萬像素工業相機光源遠心平行光源(綠色LED)軟件維埃迪QM60快速測量軟件工作環境溫度20±5℃ 濕度30-80%QM60-H快速測量儀的應用領域:主要應用于消費電子,汽車零部件,醫療器械等行業的軸類及回旋體部件測量。

非接觸式3D光學輪廓儀 S lynx

非接觸式3D光學輪廓儀 S lynx

  • 品牌: 西班牙Sensofar
  • 型號: S lynx
  • 產地:西班牙
  • 供應商:北京東方德菲儀器有限公司

    非接觸式3D光學輪廓儀S lynx是一款專為工業和研究所設計的全新非接觸式3D光學輪廓儀。它設計簡潔、用途多樣。S lynx能夠測量不同的材質、結構、表面粗糙度和波度,幾乎涵蓋所有類型的表面形貌。它的多功能性能夠滿足廣泛的高端形貌測量應用。Sensofar的核心專利是將共聚焦、干涉和多焦面疊加3種測量方式融于一體,確保了其完美的性能。配合SensoSCAN軟件系統,用戶將獲得難以置信的直觀操作體驗。

光學三維在線測量儀 S onix

光學三維在線測量儀 S onix

  • 品牌: 西班牙Sensofar
  • 型號: S onix
  • 產地:西班牙
  • 供應商:北京東方德菲儀器有限公司

    光學三維在線測量儀S onix的設計理念簡潔、穩健并易于組裝。S onix有著全面且靈活的測量能力,定位于多用途的工業在線測量系統。輕便、小尺寸的設計讓裝配變得更加簡單,可以任意方向進行組裝來滿足不同方向上的測量應用需求。

西班牙Sensofar光學3D在線測量儀 S mart

西班牙Sensofar光學3D在線測量儀 S mart

  • 品牌: 西班牙Sensofar
  • 型號: S mart
  • 產地:西班牙
  • 供應商:北京東方德菲儀器有限公司

    光學3D在線測量儀S mart是世界上首款將Focus varition(多焦面疊加)、Confocal(共聚焦)、VSI(白光干涉)三種成像技術融為一體 高性能在線光學三維形貌測量儀。

Bruker - 光學輪廓儀/臺階儀/FTIR

Bruker - 光學輪廓儀/臺階儀/FTIR

  • 品牌: 德國布魯克
  • 型號: Ultima活體多光子顯微鏡系列
  • 產地:德國
  • 供應商:香港電子器材有限公司

    產品簡介Ultima活體多光子顯微鏡系列快速、靈活的活體深層成像平臺更深 (970um)、更快 ([email protected])、更清楚、并適合大動物成像。  Ultima活體多光子顯微鏡應用:? 活體成像? 神經的在體成像? 行為模式的在體成像? 光激活Ultima IntraVital 主要用于從小鼠到獼猴的活體成像,提供了優異的成像深度和成像速度。Ultima IntraVital擁有以下特質:? 高速3D成像? 誤差小于20 nm的光刺激精準控制? 物鏡下適合對大動物進行操作的無障礙空間? 樣品保持靜止,顯微鏡和掃描單元可XY方向精確平移? 可無縫整合第三方行為控制和電生理記錄設備? 可靈活升級透射光路和橋式載物臺Ultima InVitro采用經典的正置或倒置顯微鏡設計,主要用于腦片等組織切片、培養細胞的觀察,或小鼠的在體觀察。典型的Ultima InVitro應用包括神經信號傳導、組織結構性質變化、蛋白運輸和細胞內離子動態觀察。Ultima Investigator采用正置顯微鏡設計,是最具性價比的Ultima多光子顯微鏡系統。功能強大的基礎配置:Investigator配備了科學家進行大多數研分所需要的一切配置,包括掃描振鏡、正置顯微鏡平臺、電動Z調焦裝置、激光導入和整形光路、兩個熒光通道光路/PMT、模擬輸入和輸出電路、高性能工作站,以及全功能的Prairie View軟件。靈活的升級配置:Ultima Investigator提供了大量 升級選項,用來滿足最具挑戰性的實驗需求。Prairie View軟件 (一鍵設定的成像模式)? 線掃成像? ROI成像? 全視野光激光? 點狀或者螺旋狀光刺激? 延時體成像? Z軸層切? 多維成像? 大視野拼圖成像 Vutara 350 超高分辨率顯微鏡世界上最快的超高分辨率顯微鏡活細胞、高速、超高分辨率、3D成像分辨率[email protected], [email protected],采用單分子定位技術,單層掃描時間10秒鐘。 升級選項包括:? 激光器? 多色成像模塊? 活細胞培養裝置? 物鏡? 全內反射成像模塊(TIRF)Vutara SRX軟件功能:實時渲染微管結構的超高分辨率圖像結果。不同顏色表示不同的Z軸位置信息。Z軸定位信息 (共測量28個TetraSpeck熒光微珠,12nm的定位精度)。不同通道的共定位精度為:X=6nm,Y=4nm,Z=5nm。高速靈敏 并行處理超高速三維空間顆粒追蹤單分子定位Opterra II 多點掃描激光共聚焦顯微鏡靈活高速定量的細胞成像系統應用:? 提供了掃描速度、分辨率和檢測靈敏度的最靈活選擇? 最佳的視場均一性,更適合定量分析? 最低的光漂白/光毒性,無論再敏感的樣品均可進行三維的動態成像 海綿胚胎,40倍物鏡,561nm激光激發,采集56個Z軸切片,切片間隔2微米,完成整個Z軸序列耗時一分鐘。胰腺瘤切片,3D大視野拼圖,六十倍物鏡成像視野。2mmx1.5mm小鼠輸卵管切片。Dimension FASTSCAN 原子力顯微鏡 (新一代高成像速度AFM)Dimension FastScan? 原子力顯微鏡(AFM)將AFM的性能應用在高分子、半導體、能源、數據存儲及材料領域等奈米級研究。在不損失超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下,最大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術創新,從根本上解決了AFM成像速度慢的難題,大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得數據的時間。當您對樣品進行掃描時,無論設置實驗參數為掃描速度 > 125Hz,還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張AFM圖像,都能得到優異的高分辨圖像。快速掃描這一變革性的技術創新重新定義了AFM儀器的操作和功能。Dimension FastScan? 原子力顯微鏡(AFM)是Dimension家族產品中的最新成員,以世界上最廣泛使用的AFM平臺為基礎,Dimension FastScan? 的溫度補償定位傳感器使Z 軸的的噪音水平達到亞-埃米級,X-Y 方向達埃米級,在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍,自動激光調節和檢測器調節,智能進針,大大縮短了實驗時間。在大樣品臺、90 微米掃描范圍系統的儀器當中,這種表現是非常突出的,優于絕大部分的開環、高分辨率AFM 系統的噪音水平。Dimension FastScan? AFM具有對大樣品的自動成像能力,使之在半導體和數據存儲設備的制造過程中廣泛使用,它能夠測量直徑達200 mm的樣品上測量100多個區域。它具有原子力顯微鏡和掃描穿隧式顯微鏡的全部配置,可以在三維尺寸上探測缺陷、測量表面粗糙度和其他特征,測量過程對樣品無損傷并且無需對樣品進行預處理和修飾。(1)Scanning Capacitance Microscopy (SCM)掃瞄電容式顯微鏡主要利用樣品(一般為半導體)表面多數載子(電子或電洞)的變化來成像,于針尖和樣品之間施加一交流偏壓,針尖在樣品表面進行掃瞄,藉由一超高靈敏度、高頻震蕩電路來監測針尖和樣品之間的電容改變。SCM普遍運用于半導體制程中分析二維摻雜量分布和缺陷。    (2)Conductive AFM (C-AFM) 導電式原子力顯微鏡之電流主要分析中、低導電度半導體的導電度變化。 CAFM 作為一般用途的量測時,使其電流范圍可從fA到mA,并使用導電探針,在一般操作下會施加直流偏壓于針尖上而讓樣品接地。當運用z回授訊號來產生接觸式AFM影像時,電流會流通針尖和樣品,藉以產生導電性的AFM影像。    (3)Scanning Spreading Resistance Microscopy (SSRM)掃描擴展電阻式顯微鏡專利之掃描擴展電阻式顯微鏡Scanning Spreading Resistance Microscopy (SSRM)是從Contact mode AFM衍生出的第二成像機種,主要作為半導體材料中二維載子濃度分布(電阻)成像之用。當施加直流偏壓于針尖和樣品之間,同時間一導電探針以接觸方式掃描樣品,并以10pA到0.1mA的對數電流放大器來量測針尖和樣品之間所產生的電流。  右圖為InP異質結構的SSRM影像,右圖為Contact mode AFM影像(掃描范圍為7mm) 由Lucent Technologies提供。在SSRM影像中的對比清楚地呈現異質結構的不同區域:鋅摻雜p-型層和S摻雜的n-型層。(4)Surface Potential表面電位 Surface Potential (SP)表面電位成像,是從Tapping Mode衍生出的第二成像模式,利用樣品表面的靜電位來成像。當針尖于Lift Mode 下行經樣品表面上方,由于針尖和樣品表面各個位置的電位是不同的,所以懸臂和針尖會有一作用力,藉由變換針尖上的電壓使得針尖上的電位和樣品的表面電位維持一致來抵銷作用力, SP影像用來偵測和定出接觸電位的差異(CPD)。 右圖為CD-RW Tapping mode量測圖而左圖為Surface Potential影像,只有在Surface Potential的影像中可呈現出bit(5μm掃瞄范圍) 。。ContourGT 產品系列 - 表面量測系統- 供生產QC/QA及研發使用的非接觸型光學輪廓儀ContourGT? 系列產品結合先進的64位、多核心運作及分析軟件、專利的白光干涉儀(WLI)硬件,以及前所未具簡易操作度、為目前所開發最先進的3D光學表面輪廓儀。ContourGT 系列產品中包含有旗艦級ContourGT-X、進階級ContourGT-I及入門等級的桌上型K0。每款機型可提供多種加工與制造業市場上各種應用范圍 (包括高亮度LED、 太陽能、眼科、 半導體及醫療裝置等)。 NPFLEX為大尺寸工件精密加工提供非接觸準確測量。ContourGT-K0ContourGT-IContourGT-XNPFLEXBump球高度、圓度測量打線后的芯片銅線封裝–打線最深測量及鋁濺高測量Laser Marking 最深測量Contour GT-I配備傾斜調整支架、自動樣品臺和多物鏡自動塔臺,實現全面、精準的表面測量任務,滿足科研和生產各領域檢測需求。Contour GT-I采用Bruker專利的抗震測量技術,及節省空間高穩定性的基座設計,保證在生產車間測試環境條件非常苛刻的情況下,也能完成準確高效的產品測量。配AFM功能以實現1萬倍放大倍數UMT機械性能測試儀CETR-UMT是唯一一個能夠在單一平臺實現所有三種檢測類型的儀器,主要包括球-盤,針-盤,盤-盤,環-盤和四球的旋轉運動;線性運動的球-盤,針-盤,盤-盤,環-盤及交叉柱;和密封軸承的快-環。盤 / 盤模塊配備1000?C高溫腔的盤/盤模塊配備300?C高溫腔的往復式模塊納米壓痕模塊* UMT-1 納米材料和薄膜的納米級,微米級力學綜合性能測試,載荷范圍:1微牛頓 - 10牛頓* UMT-2 顯微材料和涂層的微米級力學綜合性能測試,載荷范圍:1毫牛頓 - 200牛頓* UMT-3 金屬,陶瓷材料和潤滑油宏觀尺度力學性能測試,載荷范圍:0.1牛頓 - 1000牛頓傅氏轉換紅外線光譜分析儀系統 (FTIR)- 利用紅外線光譜經傅利葉轉換進而分析雜質濃度的光譜分析儀器技術參數:1. 分辨率: 0.5cm -1,可升級至0.25cm -12. 信噪比優于40,000:1 (一分鐘測試)3. 專利ROCKSOLID干涉儀,抗震性能優,免維護4. 可以連接紅外顯微鏡、熱失重,氣相色譜、振動園二色5. 遠紅外、中紅外、近紅外多波段測量?

探針接觸式三維輪廓儀

探針接觸式三維輪廓儀

  • 品牌: 美國AEP Technology
  • 型號: NanoMap500LS
  • 產地:美國
  • 供應商:aep Technology中國辦事處

    儀器簡介: 該系統利用掃描探針顯微鏡光杠桿位移檢測技術和超平整參照面-大型樣品臺掃描技術,并與壓電陶瓷(PZT)掃描完美結合,可以再不喪失精度的情況下,即得到超大樣品整體三維輪廓圖,又呈現局部三維形貌像。其中樣品臺掃描參考平面使用超高平坦度光學拋光平臺,有效解決了以往樣品臺掃面,由于絲杠公差引起的測試結果有亞微米量級的誤差。 三維表面形貌/輪廓儀主要應用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度,臺階高度,二維粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),三維粗糙度(Sa,Sq,Smax),劃痕截面面積,劃痕體積,磨損面積,磨損體積,磨損深度,薄膜應力(曲定量率半徑法)等定量測量。擺脫了以往只能得到二維信息,或三維信息過于粗糙的現狀。將輪廓儀帶入了另一個高精度測量的新時代。主要特點: 1、常規的接觸式輪廓儀和掃描探針顯微鏡技術的完美結合 2、雙模式操作(針尖掃描和樣品臺掃描),即使在長程測量時也可以得到最優化的小區域三維測圖 3、針尖掃描采用精確的壓電陶瓷驅動掃描模式,三維掃描范圍從10μm X 10μm 到500μm X 500μm。樣品臺掃描使用高級別光學參考平臺能使長程掃描范圍到50mm。 4、在掃描過程中結合彩色光學照相機可對樣品直接觀察 5、針尖掃描采用雙光學傳感器,同時擁有寬闊測量動態范圍(最大至500μm)及亞納米級垂直分辨率 (最小0.1nm ) 6、軟件設置恒定微力接觸 7、簡單的2步關鍵操作,友好的軟件操作界面

三維表面形貌儀

三維表面形貌儀

  • 品牌: 美國AEP Technology
  • 型號: NanoMap 1000WLI
  • 產地:美國
  • 供應商:aep Technology中國辦事處

    儀器簡介: 提供了二維分析、三維分析、表面紋理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、體積、角度計算、曲率計算、模擬一維分析、數據輸出、數據自動動態存儲、自定義數據顯示格式等。綜合繪圖軟件可以采集、分析、處理和可視化數據。表面統計的計算包括峰值和谷值分析。基于傅立葉變換的空間過濾工具使得高通、低通、通頻帶和帶阻能濾波器變的容易。多項式配置、數據配置、掃描、屏蔽和插值。交互縮放。X-Y和線段剖面。三維線路、混合和固定繪圖。用于階越高度測量的地區差異繪圖。 主要特點: ◆微觀二維(2D)和三維(3D)形貌輪廓獲取 ◆多種測量功能 將采樣數據運算后,可獲得精確定量的面積(空隙率,缺陷密度,磨損輪廓截面積等)、體積(孔深,點蝕,圖案化表面,材料表面磨損體積以及球狀和環狀工件表面磨損體積等)、臺階高度、線與面粗糙度,透明膜厚、薄膜曲率半徑以及其它幾何參數等測量數據。 NanoMap 光學輪廓儀在0.1nm 到 10mm 的垂直掃描范圍內提供了非接觸式高速高精度三維表面測量工能,縱向分辨率可達0.01nm。具有最高的自動化水平,友好的用戶界面,以及業內最好的SPIP分析軟件系統。眾多先進技術的集成、經過長期實用驗證的測量技術核心以及適合于各種專業應用需要的軟件功能,使 NanoMap 成為世界上最先進的光學干涉測量設備,可滿足MEMS、金屬研究、材料科學、半導體、醫用器械等眾多領域科研和生產工作中對高精度自動化表面測量的需要。 特點: 能夠同時測量形貌和粗糙度 能夠測量小半徑和小角度 標準真實的顏色信息 提供360°的形狀和粗糙度測量 檢測具有不同表面表征的表面 測量性能: 表面形貌測量 粗糙度測量 表面波紋度、輪廓度測量 體積測量與分析 二維圖像-截面曲線測量 部分技術參數: 垂直分辨率:0.1nm 水平光學分辨率:3300nm 最大掃描高度:mm 最大掃描面積:mm2 應用 汽車工業 工具和刀具 造紙與印刷 刑事偵察 摩擦與腐蝕 醫療器械 微電子工業

進口德國BMT 波紋度Wsa測試儀

進口德國BMT 波紋度Wsa測試儀

  • 品牌: 德國BMT
  • 型號: WSA
  • 產地:德國
  • 供應商:佰匯興業(北京)科技有限公司

    德國BMT 波紋度Wsa 測試儀德國BMT(Breitmeier Messtechnik GmbH)作為德國的表面測量技術的領航者,在表面測量技術領域具有豐富的經驗,能夠對客戶的需求做出快速靈活的判斷,并為客戶提供更加精準的、高性價比的、創新型的表面測量解決方案。其優勢在于對非接觸式(光學)、接觸式表面輪廓儀和粗糙度測量儀器的研發。手動波紋度Wsa 測試儀 自動波紋度Wsa 測試儀數據分析

日本三豐超級輪廓測量儀

日本三豐超級輪廓測量儀

  • 品牌: 日本三豐
  • 型號: CV-3000CNC/CV-4000CNC
  • 產地:日本
  • 供應商:東莞市廣豐計量儀器有限公司

    【產品名稱】 日本三豐CV-3000CNC/CV-4000CNC超級輪廓測量儀 型號 CV-3000CNC CV-3000CNC CV-3000CNC CV-3000CNC 貨號*(100V-120V) 218-541-1 218-542-1 218-543-1 218-544-1 貨號*(200V-240V) 218-541-2 218-542-2 218-543-2 218-544-2 X1軸測量范圍 200mm 200mm 200mm 200mm Z2軸垂直行程 500mm 500mm 500mm 500mm Y軸工作臺裝置 已安裝 已安裝 a軸裝置 已安裝 已安裝 花崗巖基座尺寸(WxD) 750x600mm 750x600mm 750x600mm 750x600mm 尺寸(主機、WxDxH) 800x620x1200mm 800x620x1200mm 800x620x1200mm 800x620x1200mm 重量(主機) 250kg 250kg 250kg 250kg *根據不同的交流電源電壓及測量裝置,可選不同的選件套裝:12AAH790(公制型、UL/CSA),12AAH791(公制型、歐盟),12AAH792(公制型、BS),12AAH796(公制型、中國),12AAH797(公制型、EK),12AAH793(英制型、UL/CSA),12AAH794(英制型、歐盟),12AAH795(英制型、BS),12AAH798(英制型、中國) 型號 CV-4000CNC CV-4000CNC CV-4000CNC CV-4000CNC 貨號*(100V-120V) 218-561-1 218-562-1 218-563-1 218-564-1 貨號*(200V-240V) 218-561-2 218-562-2 218-563-2 218-564-2 X1軸測量范圍 200mm 200mm 200mm 200mm Z2軸垂直行程 300mm 300mm 300mm 300mm Y軸工作臺裝置 已安裝 已安裝 a軸裝置 已安裝 已安裝 花崗巖基座尺寸(WxD) 750x600mm 750x600mm 750x600mm 750x600mm 尺寸(主機、WxDxH) 800x620x1000mm 800x620x1000mm 800x620x1000mm 800x620x1000mm 型號 CV-4000CNC CV-4000CNC CV-4000CNC CV-4000CNC 貨號*(100V-120V) 218-581-1 218-582-1 218-583-1 218-584-1 貨號*(200V-240V) 218-581-2 218-582-2 218-583-2 218-584-2 X1軸測量范圍 200mm 200mm 200mm 200mm Z2軸垂直行程 500mm 500mm 500mm 500mm Y軸工作臺裝置 已安裝 已安裝 a軸裝置 已安裝 已安裝 花崗巖基座尺寸(WxD) 750x600mm 750x600mm 750x600mm 750x600mm 尺寸(主機、WxDxH) 800x620x1200mm 800x620x1200mm 800x620x1200mm 800x620x1200mm 重量(主機) 250kg 250kg 250kg 250kg *根據不同的交流電源電壓及測量裝置,可選不同的選件套裝:12AAH800(公制型、UL/CSA),12AAH801(公制型、歐盟),12AAH802(公制型、BS),12AAH806(公制型、中國),12AAH807(公制型、EK),12AAH803(英制型、UL/CSA),12AAH804(英制型、歐盟),12AAH805(英制型、BS),12AAH808(英制型、中國) Contracer Extreme (超級輪廓測量儀) CV-3000CNC / CV-4000CNC 218 系列 CNC 輪廓測量儀 特點 高精度CNC 輪廓/形狀測量裝置。 X1, (Y) 和Z2 的驅動速度都高達200mm/s,確保實現高速定位,從而大大提高了多輪廓測量和多工件測量任務的速度。 帶有軸的型號,可以通過電動旋轉X1 軸連續測量水平面和傾斜面。CV- 4000CNC 系列的驅動裝置集成了Laser Hologage 檢測器,可以在Z 軸(垂直方向)的窄/寬范圍內實現高精度和高分辨率測量。 帶有Y 軸的工作臺的型號可以沿著Y 軸進行多種工件定位,從而擴大了多工件測量范圍。 可以通過同時控制X, Y 兩軸,對斜面進行測量。 Z1 軸檢測器集成了防碰撞安全裝置,當主機和工件或夾具碰撞時,檢測器將自動停止。 提供易于操作的遙控箱,用戶可以通過這兩個操縱桿選擇合適的軸進行移動。在按鍵上標有易于理解的圖形顯示軸的選擇狀態。 通過USB 與數據處理/分析裝置(選件) 進行信息交換 技術參數 X1 軸 測量范圍: 200mm 分辨率: 0.05μm 檢測方法: 反射型線性編碼器 驅動速度: 最大 200mm/s (CNC) 0 - 50mm/s (操縱桿) 測量速度: 0.02 - 2mm/s 移動方向: 向前/向后 直線度: 2μm/200mm * 當X 軸在水平方向上 指示精度: ±(1+4L/200)μm,(20° C 時) * L 為驅動長度(mm) ??軸 傾斜角度: -45° 至 +10° 分辨率: 0.000225° 旋轉速度: 1rpm Z2 軸(立柱) 垂直行程: 300mm 或 500mm 分辨率: 0.05μm 檢測方法: 反射型線性編碼器 驅動速度: 最大200mm/s (CNC) 0 - 50mm/s (操縱桿) Z1 軸 (檢測器) 測量范圍: ±25mm 分辨率: 0.2μm (CV-3000CNC), 0.05μm (CV-4000CNC) 檢測方法: 線性編碼器(CV-3000CNC), 激光全息測微計 (CV-40100CNC) 指示精度: ± (2+I4HI/100)μm (CV-3000CNC) (20° C 時) ± (0.8+I0.5HI/25)μm (CV-4000CNC) *H 為水平位置上的測量高度 (mm) 測針上/下運作: 弧形運動 測針方向: 向上/向下 測力: 30mN 跟蹤角度: 向上: 70°、向下:70° (根據表面粗糙度,使用標準單切面測針) 測針針尖 半徑:25μm、硬質合金針尖 基座尺寸(W x H): 750 x 600mm 基座材料: 花崗巖 重量: 240kg, 250kg (高立柱類型) 電源: 100 240VAC ±10%, 50/60Hz 能耗: 400W (僅限主機) 訂貨信息 型號 CV-3000CNC CV-3000CNC CV-3000CNC CV-3000CNC 貨號*(100V-120V) 218-521-1 218-522-1 218-523-1 218-524-1 貨號*(200V-240V) 218-521-2 218-522-2 218-523-2 218-524-2 X1軸測量范圍 200mm 200mm 200mm 200mm Z2軸垂直行程 300mm 300mm 300mm 300mm Y軸工作臺裝置 已安裝 已安裝 a軸裝置 已安裝 已安裝 花崗巖基座尺寸(WxD) 750x600mm 750x600mm 750x600mm 750x600mm 尺寸(主機、WxDxH) 800x620x1000mm 800x620x1000mm 800x620x1000mm 800x620x1000mm 重量(主機) 240kg 241kg 242kg 243kg

CV-3100S4日本三豐輪廓儀 輪廓測量儀

CV-3100S4日本三豐輪廓儀 輪廓測量儀

  • 品牌: 日本三豐
  • 型號: CV-3100S4/4100S4
  • 產地:日本
  • 供應商:東莞市廣豐計量儀器有限公司

    【產品名稱】 日本三豐CV-3100/4100輪廓儀 輪廓測量儀CV-3100/4100系列 ContracerCV-3100/4100為高精度輪廓測量儀,通用行業領域中,它率先在Z軸上安裝了數顯標 技術參數: (CV4100系列特別安裝了高精度激光全息攝影光柵尺)。有效保證了全部測量范圍內的高分辨率和高精度 產品特點 CV-3100ContracerZ軸檢測裝置中的數顯標尺確保了總行程為+25mm時分辨率可高達0.0002mm。 CV-4100系列ContracerZ軸檢測裝置中的激光全息光柵尺是一種新型的高精度標尺。它基于衍射 光干涉現象設計,有效保證了全部測量范圍內高達0.0005mm的分辨率。 無需根據記錄倍率改變Z軸無分辨率。無序切換范圍,有效提高可操作性。 用于FORMPAKR-1000輪廓分析程序兼容WindowsR95/98/NT4.0/2000操作系統,便于測量。 可通過外置控制箱進行定位、開始/結束測量、返回以及遠程進行其它操作。 采用陶瓷導軌有效防止摩擦。 垂直測壁為標準配置,可用于20mm測量探針(996506)和單邊切割測量探針(354884)。 主機型號 CV-3100S4 CV-3100H4 CV-3100W4 CV-3100S8 CV-3100H8 CV-3100W8 主機型號 CV-4100S4 CV-4100H4 CV-4100W4 CV-4100S8 CV-4100H8 CV-4100W8 測量范圍 X軸 100mm 200mm Z軸(檢測器) ±25mm Z2軸(立柱)移動量 300mm 500mm 500mm 300mm 500mm 500mm X軸傾斜范圍 ±45° 標尺 X軸 光柵尺 Z1軸(檢測器) 光柵尺(CV-3100系列),激光全息光柵尺(CV-4100系列) Z2軸(立柱) ABS光柵尺 分辨率 X軸 0.05цm Z1軸(檢測器) 0.2цm(CV-3100系列),0.05цm(CV-4100系列) Z2軸(立柱) 1цm 驅動速度 X軸 0-80mm/s和手動 Z2軸(立柱) 0-20mm/s和手動 測量速度 0.02-5mm/s 直線度(X軸在水平方向上) 0.8цm/100mm 2цm/200mm 指示精度(20℃時)CV-3100系列 X軸 ±(1+0.01L) цm L=驅動長度(mm) 寬范圍:2цm/100mm 窄范圍:1.25цm/25mm ±(1+0.02L) цm L=驅動長度(mm) 寬范圍:5цm/200mm 窄范圍:1.5цm/25mm Z1軸(檢測器) ±(2+14H/100) цm H:水平位置上的測量高度(mm) 指示精度(20℃時)CV-4100系列 X軸 ±(0.8+0.01L) цm L=驅動長度(mm) 寬范圍:1.8цm/100mm 窄范圍:1.05цm/25mm ±(0.8+0.02L) цm L=驅動長度(mm) 寬范圍:4.8цm/200mm 窄范圍:1.3цm/25mm Z1軸(檢測器) ±(0.8+10.5Hl/25) цm H:水平位置上的測量高度(mm) 探針上/下動作 弧形運動 測量方向 向前/向后 探針方向 向上/向下 測力 30mN 跟蹤角度 上升:77°,下降:87°(根據表面粗糙度使用標準單切面探針) 探針針尖(標準附件) 針尖半徑:25цm,硬質合金頭 基座尺寸(寬×深) 600×450mm 1000×450mm 600×450mm 1000×450mm 基座材料 花崗巖 外部尺寸(寬×深×高) 主機 756×482× 966mm 756×482× 1166mm 1156×482× 1176mm 766×482× 966mm 766×482× 1166mm 1166×482× 1176mm 控制箱 221×344×490mm 遙控箱 248×102×62.2mm 重量 主機 140kg 150kg 220kg 140kg 150kg 220kg 控制箱 14kg 遙控箱 0.9kg 工作溫度范圍 15℃至25℃(校正和測量時段內,溫差不超過±1℃) 工作濕度范圍 20-80%RH(無凝結狀態) 保存溫度范圍 -10℃至50℃ 保存濕度范圍 5-90%RH(無凝結狀態) 電源規格 100-120V,200-240V±10%,AC50/60HZ 電源消耗(僅主機)

日本三豐輪廓儀

日本三豐輪廓儀

  • 品牌: 日本三豐
  • 型號: CV-1000/CV-2000
  • 產地:日本
  • 供應商:東莞市廣豐計量儀器有限公司

    【產品名稱】 日本三豐CV-1000/CV-2000輪廓儀 特點 大幅度提高了驅動速度 (X 軸:80mm/s, Z2 軸:20mm/s),近一步降低了總測量時間。為了在一定時段內維持儀器的直線度規格,三豐公司采用了具有極佳的耐摩擦 性及穩定性的高硬度陶瓷導軌。大量的外周設備選件支持 CNC 模式,從 而可以很容易實現 CNC 測量。驅動裝置 (X 軸) 和立柱 (Z2 軸) 中集成了高 精度線性編碼器 (Z2 軸為 ABS 型),從而提 高了在垂直方向持續自動測量小孔和不易定位工件的重復精度。 技術參數: X1軸 測量范圍: 50mm(CV-1000)或100mm(CV-2000) 分辨率: 0.2μm 檢測方法: 反射型線性編碼器 驅動速度: 0.2,0.5mm/s 測量方向: 向后 直線度: 3.5μm/50mm(CV-1000), 3.5μm/100mm(CV-2000), 以X軸為不平方向向上 指示精度:±(3.5+2L/100)μm L=驅動長度(mm) 傾斜角度: ±45度(CV-2000) Z2軸(立柱,僅用于CV-2000) 立柱類型: 電動(S4型)和手動(M4型) 垂直移動: 250mm(S4型),320mm(M4型) 驅動速度 1-5mm/s外加手動 Z1軸(檢測器) 測量范圍: 25mm(CV-1000)或40mm(CV-2000) 分辨率: 0.4μm(CV-1000)或0.5μm(CV-2000) 檢測方法:弧形編碼器 指示精度: ±(3.5+14HI/25)μm 20度時: H為水平位置上的測量高度(mm) 測針上/下運作: 弧形運動 測針方向: 向下 測力: 10-30mN 測針針尖: 半徑:25μm,硬質合金針尖 基座尺寸(Wx H): 650x450mm(CV-2000) 基座材料: 花崗巖(CV-2000) 重量: 5Kg(CV-1000N2),115.8Kg(CV-2000M4),124Kg(CV-2000S4) 電源: 100-240VAC±10%,50/60HZ

X射線衍射-差值掃描熱量同時測試裝置

X射線衍射-差值掃描熱量同時測試裝置

  • 品牌: 日本理學
  • 型號: XRD-DSC
  • 產地:日本
  • 供應商:北京億誠恒達科技有限公司

    可對固體反応過程進行方便分析。包括,各種有機、無機化合物的相變化;融解、結晶化、脫水及其它化學反応的變化。 2. 可對熱分析中測試困難的,如物相轉換及化學變化過程中,生成物的有無、最終生成物結晶性的確認,進行測量。 3. 可在X線衍射測量的同時,測量化學変化的溫度、吸熱/放熱的區別及熱量。 4. 選件包括,低溫、水蒸汽氣氛裝置。

熱重-差熱分析儀Thermo Plus EVO TG-DTA

熱重-差熱分析儀Thermo Plus EVO TG-DTA

  • 品牌: 日本理學
  • 型號: TG-DTA
  • 產地:日本
  • 供應商:北京億誠恒達科技有限公司

    1. Thermo Plus EVO是理學集團公司新生產的熱分析儀。 2. 差動TG-DTA,采用水平差動三重線圈天枰,將漂移導致的各種變動,在瞬間沿同一方向校正、消除。進一步提高熱重變化的測量精度(理學專利技術)。 3. 樣品架更換采用插拔方式,更換方便,用戶自己可以換(其他廠家需要電焊方式,需要廠家工程師服務)。 4. 放樣品時,僅打開樣品支架的樣品放置部分,操作方便、安心;由于是水平差動型,即使樣品從樣品架中脫落,也不會引起儀器故障。 5. 因采用小型電爐,可以100℃/min的高速升溫;有強制高速冷卻功能,可在20分內1500℃→50℃。效率高。 6. 理學獨特的動態TG(樣品控制熱重分析)測量方法:階梯狀等溫控制(SIA)法、動態溫度控制(DRC)法、等反應速度控制(CRC)法

理學 差示掃描量熱儀 DSC 8231

理學 差示掃描量熱儀 DSC 8231

  • 品牌: 日本理學
  • 型號: DSC 8231
  • 產地:日本
  • 供應商:北京億誠恒達科技有限公司

    使用ECO環保省電模式,待機時,關閉不必要的設備,省電30%。 可以通過軟件選擇ECO模式,也可以直接在面板上選擇。 儀器面板上同時顯示觀察儀器狀態的信息。 軟件功能強大。可以設置選擇:測量條件;各種保護條件;測量結束條件(電源OFF/E 強制冷卻等);自動校正;自動故障診斷;網絡上自動升級;完善的數據雙備份功能。 操作面板可以轉動,Thermo Plus EVO工作站可以放置在狹小的空間。 自動樣品交換器ASC可以自由組裝,用戶可以先不購買,等樣品多時再購買;安裝簡單, 用戶可以進行。 高擴展性,可以進行XRD-DSC同時分析。

P-17 臺式探針式輪廓儀

P-17 臺式探針式輪廓儀

  • 品牌: 美國AEP
  • 型號: P-17
  • 產地:美國
  • 供應商:北京億誠恒達科技有限公司

    P-17是第八代臺式探針輪廓儀,是40多年的表面量測經驗的結晶。該系統領先業界,支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量,其掃描可達200mm而無需圖像拼接。該系統結合了UltraLite?傳感器、恒力控制和超平掃描平臺,因而具備出色的測量穩定性。 通過點擊式平臺控制、頂視和側視光學系統以及帶光學變焦的高分辨率相機等功能,程序設置簡便快速。 P-17具備用于量化表面形貌的各種濾鏡、調平和分析算法,可以支持2D或3D測量。 并通過圖案識別、排序和特征檢測實現全自動測量。主要功能·        臺階高度:幾納米至1000μm·        微力恒力控制:0.03至50mg·        樣品全直徑掃描,無需圖像拼接·        視頻:500萬像素高分辨率彩色攝像機·        圓弧校正:消除由于探針的弧形運動引起的誤差·        軟件:簡單易用的軟件界面·        生產能力:通過測序,模式識別和SECS / GEM實現全自動化主要應用·        臺階高度:2D和3D臺階高度·        紋理:2D和3D粗糙度和波紋度·        形狀:2D和3D翹曲和形狀·        應力:2D和3D薄膜應力·        缺陷復檢:2D和3D缺陷表面形貌工業應用·        大學、研究實驗室和研究所·        半導體和化合物半導體·        LED:發光二極管·        太陽能·        MEMS:微機電系統·        數據存儲·        汽車·        醫療設備·        還有更多:請與我們聯系以滿足您的要求

HRP?-260 探針式輪廓儀

HRP?-260 探針式輪廓儀

KLA D-500 探針式輪廓儀

KLA D-500 探針式輪廓儀

  • 品牌: 美國AEP
  • 型號: KLA D-500
  • 產地:美國
  • 供應商:北京億誠恒達科技有限公司

    Alpha-Step D-500探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D測量。 創新的光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量,大垂直范圍和低觸力測量功能。

日本三豐Mitutoyo輪廓儀CV3200

日本三豐Mitutoyo輪廓儀CV3200

  • 品牌: 日本三豐
  • 型號: CV-3200/4500
  • 產地:日本
  • 供應商:廣東精譜實業有限公司

    日本三豐Mitutoyo公司自一九三四年創業以來,以“質量第一”為宗旨,向全球范圍的廣大市場提供千分尺、卡尺等量具以及三坐標測量機、形狀測量系統、視像測量系統及光學儀器等系統精密測量儀,長期以來深受廣大用戶的喜愛和支持。現今,更有幸作為精密測量儀的綜合制造商和世界知名品牌的擁有者向社會作出貢獻。

Alemnis電鏡專用原位納米壓痕儀

Alemnis電鏡專用原位納米壓痕儀

  • 品牌: 瑞士nanosurf
  • 型號: ASA
  • 產地:瑞士
  • 供應商:北京億誠恒達科技有限公司

    瑞士Alemnis公司的原位納米壓痕儀適用于掃描電子顯微鏡(SEM)的原位測量,也可用于同步輻射裝置和光學顯微鏡的常規環境中使用。

非接觸式3D輪廓儀

非接觸式3D輪廓儀

  • 品牌: 韓國Nano System
  • 型號: NanoSystem NV2400
  • 產地:韓國
  • 供應商:杭州雷邁科技有限公司

    通過非接觸式的方法對0.1nm-270nm的3維表面形貌進行高進度和高速測量。利用物鏡轉臺可方便的進行放大倍數的轉換。使用拼接功能可分析寬廣的表面。

Dektak XT臺階儀

Dektak XT臺階儀

  • 品牌: 德國布魯克
  • 型號: Dektak -XT 10th
  • 產地:德國
  • 供應商:鉑悅儀器(上海)有限公司

    探針式輪廓儀新標桿-升級到最you性能 德國布魯克 DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)是一項創新性的設計,可以提供更高的重復性和分辨率。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術創新的頂峰,更加鞏固了其行業領xian地位。不論應用于研發還是產品測量,通過在研究工作中的廣泛使用,DektakXT一定能夠做到功能更強大,操作更簡易,檢測過程和數據采集更完善。第十代DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術突破,使納米尺度的表面輪廓測量成為可能,從而可以廣泛的應用于微電子器件,半導體,電池,高亮度發光二極管的研發以及材料科學領域。

輪廓儀

輪廓儀

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