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透射電鏡/透射電子顯微鏡

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透射電鏡/透射電子顯微鏡

透射電鏡/透射電子顯微鏡

透射電鏡/透射電子顯微鏡(簡稱TEM),是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關,因此可以形成明暗不同的影像,影像將在放大、聚焦后在成像器件上顯示出來。可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構,這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。
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透射電鏡/透射電子顯微鏡產品列表
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日立球差校正掃描透射電子顯微鏡 HD-2700

日立球差校正掃描透射電子顯微鏡 HD-2700

  • 品牌: 日立
  • 型號: HD-2700
  • 產地:日本
  • 供應商:天美(中國)科學儀器有限公司

    1.整體的解決方案 樣品桿與日立FIB兼容,提供了納米尺度的整體解決方案,從制樣到數據獲得和最終分析。 2.多種評價和分析功能可選 可同時獲得和顯示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像;可以配備ELV-2000型實時元素Mapping系統(DF-STEM像可以同時獲得);可以同時觀察DF-STEM像和衍射像;可以配備超微柱頭樣品桿進行三維分析(360度旋轉)等。

JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡

JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JEM-F200
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑,易用性強,外觀設計精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。

LVEM5臺式透射電子顯微鏡

LVEM5臺式透射電子顯微鏡

  • 品牌: 捷克Delong Instruments
  • 型號: LVEM5
  • 產地:美國
  • 供應商:QUANTUM量子科學儀器貿易(北京)有限公司

    ? 透射電鏡(TEM)、電子衍射(ED)、掃描電鏡(SEM)、掃描透射電鏡(STEM)四種成像模式 ? 分辨率:2nm(TEM);3nm(SEM) ? Schottky場發射電子槍:高亮度、高對比度 ? 觀察生物樣品無需染色 ? 體積僅為傳統透射電鏡1/10,價格僅為其1/5

透射電鏡120kV   HT7800

透射電鏡120kV HT7800

  • 品牌: 日立
  • 型號: HT7800
  • 產地:日本
  • 供應商:柜谷科技發展(上海)有限公司

    產品簡介 日立新一代全數字化120kV透射電子顯微鏡HT7800,屬于日立瑠璃系列產品Ruli TEM,操作的一體化和自動化程度都有明顯提高。HT7800系列產品有兩個型號HT7800和HT7830。 ? ?HT7800系列產品的最大特點是采用日立最新設計的第二代雙隙物鏡,很好地繼承了日立120kV-TEM的基本理念,兼顧低倍率與寬視野觀察、高襯度與高分辨率觀察,可在同一儀器上一鍵切換等。集高襯度和高分辨兩種模式于一體,可同時滿足軟材料/納米材料類和生命科學類客戶對電鏡的需求。 ? HT7800使用高速高靈敏度的CMOS熒光屏相機取代了傳統的熒光屏觀察窗,將 TEM 操作統一于顯示器上,實現透射電鏡操作的全數字化,可以在明亮的室內進行觀察。這樣,既可以保護操作者和樣品,也可以顯著改善操作環境。 ? 產品參數: Item HT7800(Standard) HT7830 (UHR) ?Gun W, LaB6(option) LaB6, W(option) Resolution (lattice) ※1 0.204 [email protected] (Off-axis) 0.19 [email protected] kV (on-axis) Magnification Zoom x200~x200,000 (HC) x4000~x600,000 (HR) (Non-rotation zooming system) x1,000~x300,000 (HC) x4000~x1,000,000 (HR) Low Mag x50~x1,000 x100~x1,000 Stage 4-axis eucentric goniometer stage 5-axis eucentric ? goniometer stage Maximum tilt angle ±70° ±10° 3D tomography Yes ? (Standardization) No STEM ? Yes Yes EDS Yes Yes Standard features Auto focus, ? Microtrace, Autodrive, Live FFT, Measurement, Low dose, API (auto ? pre-irradiation), Image navigation function,, Whole view function*2, Drift ? correction function, 3D tilt image acquisition function*2, etc. Main option STEM, Cold finger, ? X-ray analysis system (EDX), LaB6 filament*3, Beam stopper*3,? Selected area aperture*3, 5-axis ? eucentric goniometer stage*3, TEM mapping, Various specimen ? holders, Dry pump, etc. 注:該儀器未取得中華人民共和國醫療器械注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關用途

球差校正透射電鏡HF5000

球差校正透射電鏡HF5000

  • 品牌: 日立
  • 型號: HF5000
  • 產地:日本
  • 供應商:柜谷科技發展(上海)有限公司

    產品簡介 日立發布的200kV球差校正透射電鏡HF5000,具有高穩定冷場發射電子槍,自動球差校正器,可一鍵操作實現自動球差校正,HAADF-STEM分辨率可以達到0.78埃;可配置EDS雙探頭,固體角最大可達2.0sr;具備TEM、STEM,SEM和電子衍射等多種圖像觀測模式;鏡筒和樣品臺經過了重新設計,顯著提升了儀器的性能和穩定性......HF5000將是材料學、生命科學、半導體制造、石油煤炭等研究領域的可靠助手。 ? 特點: 1、高度自動化球差校正,盡量減少人員介入,適用于繁忙的分析測試中心或設備平臺; 2、三位一體呈現(TEM、STEM、SEM),內部結構成像和表面結構成像可同時進行同時獲取; 3、EDS超大球面角,無窗口探頭。可實現快速,高靈敏度化學成分分析; 4、前瞻性平臺總體設計,為性能擴增預留選項,例如可擴增為氣體環境電鏡。 ? 參數配置: 注:該儀器未取得中華人民共和國醫療器械注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關用途

高分辨環境透射電鏡H-9500

高分辨環境透射電鏡H-9500

  • 品牌: 日立
  • 型號: H-9500
  • 產地:日本
  • 供應商:柜谷科技發展(上海)有限公司

    產品簡介 原子分辨率300 kV透射電子顯微鏡 在精細加工技術已進入到亞納米級水平的半導體,先進材料的研發領域,原子分辨率電子顯微鏡正在成為日益重要的,不可或缺的工具。 為了滿足這種高端需求,日立高新技術公司研發出了 H-9500透射電子顯微鏡,此款高分辨透射電子顯微鏡不僅具備實地驗證過的各種優秀性能,而且配置了很多滿足客戶多種需求的獨特功能,并采用了最新的數字技術,便于用戶及時快速獲取原子水平的樣品結構信息。 用戶友好型的操作系統 和Windows?兼容的圖形用戶界面設計 快速的樣品分析,1分鐘換樣,5分鐘內升高壓至(300 kV) 高穩定性,高分辨率透射電子顯微鏡 點分辨率為0.18 nm,晶格分辨率為0.1 nm 穩定可靠的5軸優中心測角臺 性能優異,可靠性高 性能優異,可靠性高 得到市場驗證的10級加速器電子槍設計 阻抗式高壓電纜設計 高檔可選附件 高檔可選附件 通用樣品桿,在日立公司的TEM, FIB 和 STEM系統均可使用 可為原子分辨率的動態研究提供加熱,冷卻和氣體注入等多種樣品桿 備注:FPD(平板顯示器)上的圖像為模擬圖像。 規格 項目 說明 分辨率 0.10nm(晶格分辨率) 0.18nm(點分辨率) 加速電壓 300kV、200kV*1、100kV*1 放大倍率 連續放大模式 1,000~1,500,000× 選區模式 4,000~500,000× 低倍模式 200~500× 電子槍 燈絲 LaB6(六硼化鑭燈絲,直流加熱) 燈絲交換 自動升降式電子槍 高壓電纜 阻抗電纜 照射系統 透鏡 四級透鏡 聚光鏡光闌 4孔可變 探針尺寸 微米束模式:0.05 - 0.2 μm(4級) 納米束模式:1 - 10 nm(4級) 電子束傾斜 ±3° 成像系統 透鏡 五級透鏡 聚焦 圖像搖擺調整 利用像散監視器進行正焦補償 聚焦優化 物鏡光闌 4孔可變光闌 選區光闌 4孔可變光闌 電子衍射 選區電子衍射 納米探針電子衍射 會聚束電子衍射 相機長度 250 - 3,000 mm 樣品室 樣品臺 5軸優中心海帕測角臺 樣品尺寸 3mmΦ 樣品位置追蹤 X/Y = ±1mm, Z = ±0.3 mm通過CPU控制馬達驅動 樣品位置顯示 自動驅動,自動跟蹤 樣品傾斜 α = ±15°, β = ±15°(日立雙傾樣品臺*2) 防污染 冷阱 烘烤功能 中溫烘烤功能 觀察室 熒光屏 主屏:110 mmΦ 聚焦屏:30 mmΦ 目鏡 7.5× 照相室 區域選擇 整張照相/半張曝光 膠片 25張(2套膠片盒) 圖形用戶界面 操作系統 Windows XP 顯示器 19英寸顯示器 功能 數據庫,測量,圖像處理 數碼CCD 相機*3 相機耦合 透鏡耦合 有效像素 1,024 × 1,024 像素 A/D 分辨率 12位 真空系統 電子槍 離子泵:60 L/s 鏡筒 渦輪分子泵:260 L/s 觀察室/照相室 擴散泵:280 L/s 前級泵:135 L/min × 3臺 ? *1:放大倍率校準為可選項 *2:可選件 *3:本規格適用于可選的1,024 × 1,024像素的數碼CCD相機 以上規格是在加速電壓為300 kV時的承諾 注:該儀器未取得中華人民共和國醫療器械注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關用途

場發射透射電子顯微鏡  HF-3300

場發射透射電子顯微鏡 HF-3300

  • 品牌: 日立
  • 型號: HF-3300
  • 產地:日本
  • 供應商:柜谷科技發展(上海)有限公司

    產品簡介 日立馳名的冷場發射電子源和300 kV加速電壓技術共同打造了超高分辨率成像和高靈敏度分析功能。雙棱鏡全息技術,空間分辨電子能量損失譜以及高精度平行納米電子束衍射技術開辟了高效,高精度樣品分析的新途徑。 分辨率: 0.1 nm(晶體點陣) 0.19 nm(點對點) 0.13 nm(信息極限) 放大倍數:200倍 至 1,500,000倍 加速電壓:300 kV, 200 kV (*), 100 kV (*) (*) 選購附件???????? 解決方案??? ?立掃描透射電鏡HF3300在原位催化中的應用????? 應用領域: 石油/化工 檢測項目: 熱性能 檢測樣品: 化工原料 方案優勢 近年來,在催化領域中,真實的催化反應過程成為廣大學者的研究熱點。原位掃描透射電鏡能夠實現實時觀察樣品的反應過程,監測樣品的變化。其中日立的冷場300KV的HF3300型掃描透射電鏡配備了獨特的真空系統(差分泵) 。氣體可以直接通入樣品室與樣品進行反應,到達樣品表面的壓力最 高能夠達到10Pa;配備的新型冷場槍更加穩定,亮度更強,發射電流更加穩定;寬真空范圍二次電子探頭的加入,能夠實現同時觀察樣品的明場,暗場及二次電子像,從而實現對催化反應過程全方位的了解。 實驗設備:HF-3300場發射透射電子顯微鏡 注:該儀器未取得中華人民共和國醫療器械注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關用途

球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700

球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700

  • 品牌: 日立
  • 型號: HD-2700
  • 產地:日本
  • 供應商:柜谷科技發展(上海)有限公司

    產品簡介 專用掃描透射顯微鏡HD-2700,配備了與德國CEOS GmbH公司(總經理Max Haider先生)共同開發的球差校正儀,顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能,更適合高級納米技術研究。由于球差校正系統校正了限制電子顯微鏡的性能的球差,使其與標準型號顯微鏡相比,分辨率提高了1.5倍,同時,探針電流提高了10倍。 最近,該顯微鏡還配備了高分辨率鏡頭和冷場發射電子槍,進一步提高了圖像分辨率和電子束能量分辨率。同時,該型號系列還增加了一款不帶球差校正的主機配置,可以以后加配球差校正進行升級。 特點 ? 高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像 HAADF-STEM圖像0.136nm,FFT圖像0.105nm(高分辨率鏡頭(*)) HAADF-STEM圖像0.144nm(標準鏡頭) 明場掃描透射電子顯微鏡圖像0.204nm(w/o球差校正儀) 高速,高靈敏度能譜分析:探針電流×10倍 元素面分布更迅速及時 低濃度元素檢測 操作簡化 自動圖像對中功能 從樣品制備到觀察分析實現無縫連接 樣品桿與日立聚焦離子束系統兼容 配有各種選購件可執行各種評估和分析操作 同時獲取和顯示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布(*) 和DF/EELS面分布(*)圖像。 低劑量功能(*)(使樣品的損傷和污染程度降至最低) 高精度放大校準和測量(*) 實時衍射單元(*)(同時觀察暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像和衍射圖案) 采用三維微型柱旋轉樣品桿(360度旋轉)(*),具有自動傾斜圖像獲取功能。 ELV-3000即時元素面分布系統(*)(同時獲取暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像) (*) 選購件 技術指標 HD-2700球差校正掃描式透射電子顯微鏡 項目 描述 圖像分辨率 w/o球差校正儀 保證 0.204nm(當放大倍數為4,000,000時) w球差校正儀 保證 0.144 nm(當放大倍數為7,000,000時)(標準鏡頭) 保證 0.136nm(HAADF圖像) 保證0.105 nm(通過FFT)(當放大倍數為7,000,000時)(高分辨率鏡頭(*)) 放大倍數 100倍 至 10,000,000倍 加速電壓 200 kV, 120 kV (*) 成像信號 明場掃描透射電子顯微鏡:相襯圖像(TE圖像) 暗場掃描透射電子顯微鏡:原子序數襯度圖像(Z襯度圖像) 二次電子圖像(SE圖像) 電子衍射(*) 特征X射線分析和面分布(能譜分析)(*) 電子能量損失譜分析和面分布(EV3000)(*) 電子光學系統 電子源 肖特基發射電子源 冷場致發射器(*) 照明透鏡系統 2-段聚光鏡鏡頭 球差校正儀(*) 六極鏡頭設計 掃描線圈 2-段式電磁感應線圈 原子序數襯度收集角控制 投影鏡設計 電磁圖像位移 ±1 μm 試片鏡臺 樣品移動 X/Y軸 = ±1 mm, Z軸 = ±0.4 mm 樣品傾斜 單軸-傾斜樣品桿:±30°(標準鏡頭), ±18°(高分辨率鏡頭(*)) 真空系統 ? 3個離子泵,1個TMP 極限真空 10-8 Pa(電子槍), 10-5 Pa(樣品室) 圖像顯示 個人電腦/操作系統 PC/AT兼容, Windows? XP 監視器 19-inch液晶顯示器面板 圖像幀尺寸 640 × 480, 1,280 × 960, 2,560 × 1,920 象素 掃描速度 快掃,慢掃(0.5至320秒/幀) 自動數據顯示 記錄序號,加速電壓,下標尺,日期,時間 ? (*) 選購件 注:該儀器未取得中華人民共和國醫療器械注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關用途

JEOL JEM-2100Plus 200kV六硼化鑭透射電子顯微鏡

JEOL JEM-2100Plus 200kV六硼化鑭透射電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JEM-2100Plus
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    儀器簡介:JEM-2100Plus廣泛應用于材料科學、納米技術和生命科學等領域。JEM-2100Plus搭載 64位 Windows操作界面,操作更簡單。并與STEM,EDS,CCD和EELS實現了一體化控制。JEM-2100Plus高度穩定性的測角臺設計先進,非常適于包括3位重構在內的樣品臺傾斜。選用日本電子專用軟件,可以輕松實現3D觀察。壓電陶瓷控制樣品臺也獨步天下。TheJEM-2100Plus采用3級聚光鏡設計在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度電子束,大大提高了分析和衍射成像能力。技術參數(UHR):1.點分辨率:0.19nm2.線分辨率:0.14nm3.加速電壓:80, 100, 120, 160, 200kV4.傾斜角:25主要特點:1.五種極靴UHR、HR、HT、HC、CRYO2.穩定便捷的操作系統3.最小束斑尺寸:0.5nm4.良好的擴展性

JEM-ACE200F 高效分析型電子顯微鏡

JEM-ACE200F 高效分析型電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JEM-ACE200F
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術整合在一起,實現了高度穩定性和高分辨率,以精煉的外觀設計呈現。該設備做成了操作流程菜單,按照該菜單,操作人員即使不直接操作設備也能采集到數據。

美國Delong臺式透射電子顯微鏡LVEM5

美國Delong臺式透射電子顯微鏡LVEM5

  • 品牌: 捷克Delong Instruments
  • 型號: LVEM5
  • 產地:美國
  • 供應商:深圳市藍星宇電子科技有限公司

    美國Delong臺式透射電子顯微鏡LVEM5 (Bench-top TEM) ,小型臺式多用途透射電子顯微鏡:透射電鏡(TEM)、電子衍射(ED)、掃描電鏡(SEM)、掃描透射電鏡(STEM)四種成像模式,分辨率:1.5nm(TEM);10nm(SEM)。

冷場發射透射電鏡

冷場發射透射電鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JEM-F200
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    2016年新年伊始,日本電子株式會社(JEOL)即全球同步推出了新款場發射透射電鏡JEM-F200。 為了全面整合近年發展起來的透射電鏡上的各種功能,JEM-F200進行了全新設計,在保障各種功能達到極限的同時,追求操作的簡單化和自動化,為用戶提供透射電鏡操作的全新體驗。具體特點表現為:1)精煉的全新設計:在提高機械和電氣穩定性的同時,憑借對透射電鏡的豐富經驗,對電鏡整體進行了精煉全新設計,力求為用戶提供全新感受;2) 四級聚光鏡設計:為了最大 程度發揮出STEM功能,JEM-F200進行了全新概念的四級聚光鏡設計,亮度和匯聚角可以分別控制;3)高端掃描系統:在照明系統掃描功能之上又增加了成像系統的掃描功能(選購件)可以獲得大范圍的STEM-EELS;4)皮米樣品臺控制:標配的壓電陶瓷控制樣品臺,可以在原子尺度上獲得精準的移動;5)全自動裝樣測角臺(SPECPORTER):樣品桿的插入拔出只需電鈕即可全自動實現,彰顯其便利性及安全性; 6)成熟的冷場發射技術:將JEOL應用在球差校正技術上的高端冷場發射技術移植到普通的場發射透射上,可獲得更好的高分辨觀察、更高效的成分分析和更好的化學結合狀態分析;7)雙超級能譜設計:可安裝雙超級能譜,將普通電鏡能譜的分析能力拓展到原子尺度;8)節能減排:啟用省電模式耗電量降低80%。

JEOL JEM-2800 高通量場發射透射電子顯微鏡

JEOL JEM-2800 高通量場發射透射電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JEM-2800
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    JEM-2800是日本電子透射電子顯微鏡系列中的一款特殊設計的產品,在兼顧高分辨高穩定性的同時,最求分析效率的最大化和操作的自動化。顛覆傳統的電鏡外觀設計,除了讓人耳目一新外,還對設置環境更具抗干擾能力。 主要技術指標: 1. 點分辨率:0.21nm; 2. 晶格分辨率:0.1nm; 3. STEM 分辨率:0.16nm; 4. 二次電子分辨率:0.5nm; 5. 能譜:可以安裝兩個超級能譜 6. 洛倫茲模式:標配

冷場發射球差校正透射電鏡

冷場發射球差校正透射電鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JEM-ARM200F(C)
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    日本電子株式會社2010年7月最新推出了冷場發射雙球差校正原子分辨和分析型透射電鏡。傳統的冷場發射技術穩定性差,亮度低,無法保證透射電鏡的使用需求。日本電子株式會社最新開發的冷場發射技術解決了這些問題,并把該技術加入到最新球差校正透射電鏡ARM200F序列里。使ARM200F在保證亞納米分辨率0.078nm的同時,能量分辨率提高到0.3eV,極大增強了原子級觀察和原子級分析能力。 在美國的第一臺搭載冷場發射電子槍的JEM-ARM200F將安裝在Florida State University’s Applied Superconductivity Center, housed in the National High Magnetic Field Laboratory. 其后美國的Brookheaven國家實驗室;歐洲各國;日本的東京大學、東北大學、名古屋大學、九州大學等;中國臺灣的清華大學也開始紛紛采購這一設備。

原子分辨分析型透射電鏡

原子分辨分析型透射電鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JEM-ARM200F
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    技術參數:1.分辨率:STEM0.08 nm TEM0.19 nm (0.11 nm with TEM Cs corrector) 2.放大倍數:STEM 100 to 150,000,000x TEM50 to 2,000,000x 3.加速電壓: 200 kV 4.球差校正器STEM Cs corrector Standard TEM Cs corrector Optional 5.其他附件EDS/EELS /CCD camera, etc.主要特點:原子分辨率S/TEM 標配照明系統的球差校正器,STEM分辨率 0.08 nm, 為世界最高的商業化透射電鏡,同時使其具有無與倫比的分析功能。 極強的抗干擾能力和超高穩定性 JEM-ARM200F采用多種新技術和設計確保實現原子級的分辨率和分析能力。 可以選配成像系統的球差校正器 點分辨率可以提高到0.11 nm. 操作極為簡單 克服了球差校正透射電鏡難于操作的難題。

200kV場發射透射電子顯微鏡

200kV場發射透射電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JEM-2100F
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    儀器簡介:JEM-2100F應用廣泛,從材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體到納米技術。利用200kV場發射透射電鏡JEM-2100F,不僅可實現超高分辨率圖像的觀察,同時,還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。高亮度的場發射電子槍,輕松實現各種分析功能。JEM-2100F最新設計的側插式側角臺,在傾斜、旋轉、加熱、制冷時都不會造成機械飄移。SJEM-2100F可與TEM,MDS,EDS,EELS,andCCD-camera實現一體化控制。技術參數:1.點分辨率:0.19nm2.線分辨率:0.14nm3.加速電壓:80, 100, 120, 160, 200kV4.傾斜角:255.STEM分辨率:0.20nm主要特點:1.高亮度場發射電子槍。2.束斑尺寸小于0.5nm。3.新式側插測角臺,更容易傾轉、旋轉、加熱和冷凍,無機械飄移。4.穩定性好、操作簡便。5.微處理器和PC兩套系統控制,防止死機。

日立L型 FIB-SEM-Ar 三束系統 NX9000

日立L型 FIB-SEM-Ar 三束系統 NX9000

  • 品牌: 日立
  • 型號: NX9000
  • 產地:日本
  • 供應商:天美(中國)科學儀器有限公司

    -高亮度場發射電子槍冷 冷場發射電子槍先天具有的高亮度和高能量分辨率的特點,使納米量級分析研究成為可能,對超高分辨圖像和電子全息攝影具有極大貢獻。 -300kV高壓系統 300kV高壓系統具有更高的穿透能力,保證了厚樣品的原子分辨率圖像,降低了樣品制備難度,尤其對于金屬、陶瓷等高原子序數樣品的觀測十分有利。 -獨特的分析能力 新引入了雙重雙棱鏡全息攝影功能、高空間分辨率電子能量損失譜(EELS)和高精度平行納米束衍射技術等獨特的分析技術。

冷場發射透射電鏡

冷場發射透射電鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JEM-F200
  • 產地:日本
  • 供應商:北京圣嘉宸科貿有限公司

    2016年1月,日本電子株式會社(JEOL)即全球同步推出了新款場發射透射電鏡JEM-F200。JEM-F200進行了全新設計,在保障各種功能達到極限的同時,追求操作的簡單化和自動化,為用戶提供透射電鏡操作的全新體驗。具體特點如下:(1)精煉的全新設計:在提高機械和電氣穩定性的同時,憑借對透射電鏡的豐富經驗,對電鏡整體進行了精煉全新設計,力求為用戶提供全新感受;(2)高端掃描系統:在照明系統掃描功能之上又增加了成像系統的掃描功能(選購件)可以獲得大范圍的STEM-EELS;(3)電鏡光源:冷場發射光源比其他電鏡使用的肖特基熱場發射光源能量發射度小,在TEM成像時相干性更好,圖像質量大大提高;(4)聚光鏡匯聚方式:新電鏡采用四級聚光鏡且亮度及會聚焦分開控制,很容易獲得追加實驗條件,避免了傳統的聚光鏡亮度與會聚焦同時控制,有時會相互干擾,無法達到最佳狀態。(5)物鏡匯聚方式:物鏡上采用掃描方式,可以獲得大范圍的STEM-EELS

Tecnai? 透射電子顯微鏡

Tecnai? 透射電子顯微鏡

  • 品牌: 美國FEI
  • 型號: Tecnai?
  • 產地:荷蘭
  • 供應商:北京圣嘉宸科貿有限公司

    FEI推出的Tecnai 系列透射電子顯微鏡 (TEMs) 在為生命科學、材料科學和電子行業提供了真正完整的成像和分析解決方案。 Tecnai G2 系列擁有數種型號,結合了現代技術和創新科學和工程團體的緊迫需求。其中Titan G2 60-300 是適用于二維和三維材料表征和化學分析的功能最強大的高分辨率掃描透射式電子顯微鏡 (S/TEM),具備最寬的 60-300kV 加速電壓范圍,分辨率可提升至原子級,并且允許單臺儀器完美結合 Cs校正、單色儀和 新穎的超穩定高亮度電子槍 (X-FEG),具有卓絕的 STEM 和 TEM 成像性能。技術參數:樣品電子源 (kV)放大倍數樣品臺相機 長度 (mm)EDS 立體 角 (srad)Tecnai Osiris 20 - 200 kV 22 x - 930 kx (TEM) X = ± 1 mm Y = ± 1 mm Z = ± 0.375 mm 30 - 4,500 0.9Tecnai 30 50 - 300 kV 58 x - 970 kx (TEM) 100 x - 5Mx (STEM) X = ± 1 mm Y = ± 1 mm Z = ± 0.375 mm 80 - 5,600 0.13Tecnai F30 50 - 300 kV 58 x - 970 kx (TEM) 150 x - 230 Mx (STEM) X = ± 1 mm Y = ± 1 mm Z = ± 0.375 mm 80 - 5,600 0.13Tecnai Spirit 20 - 120 kV 18 - 650,000 (TEM) X、Y 移動 2 mm樣品尺寸 3 mm n/a n/aTecnai Polara 50 - 300 kV 18 - 650,000 (TEM) X、Y 移動 2 mm樣品尺寸 3 mm n/a n/a

Titan? 透射電子顯微鏡

Titan? 透射電子顯微鏡

  • 品牌: 美國FEI
  • 型號: Titan
  • 產地:荷蘭
  • 供應商:北京圣嘉宸科貿有限公司

    自 2005 年FEI推出以來,Titan以其卓越的產品設計和已獲證明的具有突破性的性能和結果成為全球各地杰出研究人員的首選掃描/透射電子顯微鏡 (S/TEM)。FEI Titan S/TEM 系列包括全球功能最強大的商用 S/TEM: Titan G2 60-300、Titan3 G2 60-300、Titan Krios 和 Titan ETEM (環境 TEM)。 所有 Titans 均使用革命性的 60-300 kV 電子鏡筒,通過 TEM 和 STEM 模式在各種材料和工作條件下進行亞原子級的探索和研究。技術參數:產品能散點分辨率信息分辨極限STEM 分辨率Titan G2 60-300 0.2 - 0.8 eV 80 pm 80 pm 80 pmTitan ETEM 0.7 - 0.8 eV 0.1 nm (標準)0.12 nm (ETEM) 0.1 nm (標準)0.12 nm (ETEM) 0.136 nm (標準)0.16 (ETEM)Titan3 G2 60-300 0.2 - 0.8 eV 80 pm 70 pm 70 pmTitan Krios 0.7 - 0.8 eV n/a 0.14 nm 0.204 nm

日立透射電鏡HT7700 Exalens

日立透射電鏡HT7700 Exalens

  • 品牌: 日立
  • 型號: HT7700 Exalens
  • 產地:日本
  • 供應商:北京圣嘉宸科貿有限公司

    日立最新推出120kV透射電鏡HT7700 Exalens,該透射電鏡繼承了標準版HT7700免熒光屏設計、全數字化、大集成等優點和創新點,仍然保留雙隙物鏡的設計,設計使用高分辨物鏡,標配LaB6燈絲,性能實現突破性提升。此機型分辨率可保證0.144nm(晶格像),成為目前市場上唯一一款120kV透射電鏡中分辨率最高的機型。產品特點:被廣泛應用于納米材料和軟材料研究領域,可以滿足客戶對分辨率的要求1、高分辨物鏡可保證0.144nm的分辨率,可滿足用戶對高分辨圖像的要求。2、在較低的加速電壓下,仍保持較高的分辨率,在最大程度降低樣品損傷的同時,獲得高質量的高分辨圖片。

日立透射電子顯微鏡HT7700

日立透射電子顯微鏡HT7700

  • 品牌: 日立
  • 型號: HT7700
  • 產地:日本
  • 供應商:北京圣嘉宸科貿有限公司

    HT7700型透射電子顯微鏡是一款全新設計的高級顯微鏡,專門用于生物和納米材料的觀察,具有極高的對比度和高分辨率的成像功能,是一款功能多合一的系統。將TEM操作統一于顯示器上,無需直視熒光板,實現了無膠片化,可以在明亮的室內進行觀察,以往在熒光板上發暗而難于識別的圖像在顯示器上也能夠實現清晰地顯示。標配電鏡圖像管理軟件(EMIP-SP),自動將拍攝的圖像注冊到圖像數據庫,便于圖像的管理與分類,進行長度測量和圖像處理等功能。該設備采用分子泵真空系統,排氣系統清潔干凈。與之前型號相比,該設備耗電省,且能減少30%的二氧化碳排放量。主要參數:項目特點圖像分辨率0.204 nm(晶格像)加速電壓40 - 120 kV(100V增量)圖像信號×200 ×200,000(高反差模式)×4,000 ×600,000(高分辨率模式)×50 ×1,000(低倍模式)樣品傾斜度±30°, ±70° (*)主照相機像素尺寸(底部安裝)1,024×1,024 像素 或 2,048×2,048 像素真空系統分子泵 ×1,機械泵 ×1電源單相交流100伏±10%,4千伏安

日本電子JEM-ARM200F 透射電子顯微鏡

日本電子JEM-ARM200F 透射電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JEM-ARM200F
  • 產地:日本
  • 供應商:富瑞博國際有限公司

    日本電子JEM-ARM200F 透射電子顯微鏡 富瑞博國際有限公司代理多家國際知名儀器廠商產品 儀器簡介: JEM-ARM200F的電子光學系統標準配備了一體化的球差校正器, 其掃描透射像分辨率(STEM-HAADF)達到了0.08nm,為商用透射電子顯微鏡分辨率的世界之最。 保證0.08nm的世界最高STEM (HAADF) 分辨率 ARM200F為電子光學系統標準配備了一體化球差校正器,電氣和機械性能的穩定性也達到極限水平, 使掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率達到0.08nm, 成為商用透射電子顯微鏡中的世界之最。電子束在像差校正之后, 束流密度比傳統的透射電子顯微鏡高出一個數量級。因為束流更亮更細、電流密度高, ARM200F能夠在進行原子水平分析的同時, 還能縮短檢測時間和提高樣品處理能力。 電氣穩定性的提高 要達到原子水平的分辨率, 控制電子光學系統的電源需要穩定。ARM200F把高壓和物鏡電流變動降低到傳統透射電子顯微鏡50%, 大幅度地提高了電氣的穩定性。 機械穩定性的提高 照射系統和成像系統采用像差校正器,實現原子水平的分析和成像,需要控制原子水平的振動和變形。 ARM200F整體機械強度比傳統透射電子顯微鏡增大兩倍,通過增大鏡筒尺寸,提高了剛度,優化了操作臺結構,增強了機械的穩定性。 高擴展性的STEM 分析能力 暗場檢測器因STEM檢測角度的不同有兩種類型(其中一種為標配), 它和明場檢測器(標準配備), 背散射電子檢測器 (選配件) 可以同時安裝。新的掃描成像獲取系統能夠同時收集4種不同類型的信號, 可以同時觀察這4種圖像。 環境對策 裝置設置室的溫度變化和雜散磁場也能引起原子水平的振動和變形。為降低外部影響,ARM200F特別標配了熱屏蔽和磁屏蔽系統。另外,對鏡筒加外覆蓋以免受周圍空氣對流所引起的鏡筒表面溫度變化的影響。 用于成像系統的球差校正器 (選配件) 使用選配的成像系統球差校正器, 透射電子顯微鏡的圖像(TEM)分辨率能提高到0.11 nm。 JEM-ARM200F 規格 分辨率 掃描透射像1) 0.08 nm2)(加速電壓為200kV時) 透射像 點分辨率 線分辨率 0.19 nm (加速電壓為200kV時) 0.11 nm (使用成像系統球差校正器3), 加速電壓為200kV時) 0.10 nm 放大倍率 掃描透射像 200 至 150,000,000x 透射像 50 至 2,000,000x 電子槍 肖特基場發射槍 加速電壓 80 至 200 kV4) 樣品臺 樣品臺 全對中側插式測角臺 樣品尺寸 直徑3mm 樣品傾斜角 最大25°(使用雙傾臺) 移動范圍 X/Y:±1.0mm(馬達驅動) 球差校正器 照明系統的球差校正器(STEM) 標準配置 成像系統的球差校正器(TEM) 選配件 選配件 能譜儀(EDS) 電子能量損失譜儀 (EELS) CCD 相機等 1. 使用HAADF (高角度環形暗場)檢測器 2. 測試標樣Ge(112)情況下保證. 3. 選配件 4. 標準電壓: 120 kV, 200 kV 富瑞博國際有限公司代理多家國際知名儀器廠商產品 相關產品垂詢,敬請與我們聯系。富瑞博將為您的實驗室提供最優質的服務和解決方案。 富瑞博國際有限公司 更多產品請登陸富瑞博官網:www.freeboard.com.cn 電話:020-86290702 傳真:020-86290703 郵箱:[email protected]

CAMECA 三維原子探針

CAMECA 三維原子探針

  • 品牌: 法國Cameca
  • 型號: LEAP 5000
  • 產地:美國
  • 供應商:法國cameca公司

    三維原子探針顯微術(3DAP),也稱為原子探針斷層分析術(APT),是一種具有原子級空間分辨率的測量和分析方法。基于“場蒸發”原理,三維原子探針通過在樣品上施加一個強電壓脈沖或者激光脈沖,將其表面原子逐一變成離子而移走并收集。3DAP的特性就是從最小的尺度來逐點揭示材料內部結構,不論簡單亦或復雜。可以輕松獲得納米尺度結構的細節化學成分和三維形貌,因而專門應對材料研發中令人棘手的小尺度結構的測量與分析問題。例如,沉淀相或團簇結構的尺寸、成份及分布;又比如元素在各種內界面(晶界、相界、多層膜結構中的層間界面等)的偏聚行為等等。 以前,由于對樣品有導電性的要求以及制作針尖形狀樣品有一定難度等一些問題,原子探針的應用曾經在很長一段時間內局限于金屬材料,僅僅做純科學的探索。進入2000年以來,儀器本身在一些關鍵技術上的突破性進展,加上匯聚離子束制樣技術的成熟,大大拓展了原子探針的應用范圍,可研究的對象涵蓋金屬、半導體、存儲介質,到先進材料(納米線、量子阱)等廣泛的材料類型;應用上從純學術研究到汽車、航空發動機、核設施、半導體芯片、LED、光伏材料等等應用科學甚至直接的生產過程監控。從無機材料到有機材料《Nature》曾報道了利用這一技術對動物頭蓋骨的研究。時至今日,3DAP技術因其獨到的分析視角正在為越來越多的材料研發人員所認識,已經逐漸加入TEM、SIMS等工具的行列,成為材料分析的主流分析技術之一。 局部電極 和 微尖陣列 局部電極(Local ElectrodeTM)是原子探針的關鍵部件。LEAP局部電極原子探針(Local ElectrodeTM Atom Probe)即取名于此。局部電極的應用改善了原子探針的易用性和數據質量,也因為局部電極,原子探針可以利用微尖陣列(MicrotipTM arrays)一次裝載多個樣品,大大提高原子探針的實驗效率。 反射鏡 高質量分辨率 和 大視場 新一代 LEAP 5000R 配備了新型能量補償反射鏡(Reflectron),在優化質量分辨率的同時獲得了大視場(可達250nm)。對于工作在電壓脈沖模式下的那些應用(例如,傳統的金屬材料),將獲得出色的質量分辨率。 小束斑UV激光 在激光模式下工作時,LEAP 5000XR使用了聚焦到很小束斑的UV波長激光。小束斑保證了優異的質量分辨,UV波長保證了對包括許多絕緣體在內的眾多材料都可以給出更好的結果。更多內容請閱讀綁定資料,并請瀏覽我公司網頁:http://www.cameca.com/instruments-for-research/atom-probe.aspx

場發射透射電子顯微鏡

場發射透射電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JEM-2100F
  • 產地:日本
  • 供應商:長沙在線儀器設備有限公司

    JEM-2100F應用廣泛,從材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體到納米技術。 利用200kV場發射透射電鏡JEM-2100F,不僅可實現超高分辨率圖像的觀察,同時,還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。 高亮度的場發射電子槍,輕松實現各種分析功能。 JEM-2100F最新設計的側插式側角臺,在傾斜、旋轉、加熱、制冷時都不會造成機械飄移。 SJEM-2100F可與TEM,MDS,EDS,EELS,andCCD-camera實現一體化控制。

JEM-Z300FSC 場發射冷凍電子顯微鏡

JEM-Z300FSC 場發射冷凍電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JEM-Z300FSC
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    場發射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM? 300)配備了冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器(Ω能量過濾器)、側插式液氮冷卻樣品臺和自動樣品交換系統,能夠在冷凍低溫下觀察生物大分子。樣品交換系統內最多可以存儲12個樣品,可以任意取出和交換一個或數個樣品,能靈活地進行測試排序。

JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡

JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JEM-ARM200F NEOARM
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    “NEOARM” 標配了日本電子獨自開發的冷場發射電子槍(Cold-FEG)和全新的高階球差校正器(ASCOR)。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下,均能實現原子級分辨率的觀察與分析。同時還配備了自動像差校正系統,可以自動進行快速準確的像差校正。新STEM成像技術(e-ABF法)可以更加簡便地觀察到含有輕元素樣品的高清晰(襯度)圖像。

JEM-Z200FSC 場發射冷凍電子顯微鏡

JEM-Z200FSC 場發射冷凍電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JEM-Z200FSC
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    場發射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARMTM 200標配冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器(Ω能量過濾器)、液氮冷卻樣品臺和12位自動樣品更換系統。新設計的Ω能量過濾器與無孔位相板的完美組合,進一步提高了生物樣品的襯度。

JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡

JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JEM-1400Flash
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    從生物技術到納米技術、高分子和高新材料,JEM-1400Flash被廣泛應用在多個領域,而且用途越來越廣。其中,以生物領域為首的高分子材料研究、醫療品、病理切片、病毒、由熒光顯微鏡做過標記的樣品等的觀察,首先用低倍率確認細胞組織或材料結構、樣品位置、觀察區域的整體情況,再用高倍率詳細觀察感興趣的微細結構。近年來,對于這一系列的觀察程序的簡單化和獲取高通量數據快速化的需求越來越迫切。為了滿足這些需求,新款120kV透射電子顯微鏡JEM-1400Flash配備了高靈敏度sCMOS相機、超大視野的蒙太奇系統以及與光學顯微鏡圖像的聯動功能。

日立新型高分辨率透射電鏡 HT7830

日立新型高分辨率透射電鏡 HT7830

  • 品牌: 日立
  • 型號: HT7830
  • 產地:日本
  • 供應商:天美(中國)科學儀器有限公司

    HT7800具有優異的操作性與多樣的自動功能,通過將CCD相機與顯微鏡主機的操作相統一,可以在顯示器畫面上輕松、簡便地進行操作,高刷新率的CMOS熒光相機可以實現在明亮環境下操作,獨特的雙隙物鏡可以實現高分辨率和高反差觀察的一鍵切換,滿足不同領域的需求。

日立球差校正透射電子顯微鏡 HF5000

日立球差校正透射電子顯微鏡 HF5000

  • 品牌: 日立
  • 型號: HF5000
  • 產地:日本
  • 供應商:天美(中國)科學儀器有限公司

    HF5000作為一款球差校正冷場發射透射電鏡,其分辨率達到了亞埃級,可以實現對樣品的超細微觀結構的觀察和分析,適用于金屬、陶瓷、半導體、納米材料等的觀察。同時,HF5000獨特的TEM、STEM、SEM三位一體功能不僅可以實現對材料內部結構的研究,也可以獲得材料表面的信息。原子級分辨率的二次電子探測器可以彌補TEM和STEM無法觀察樣品表面的缺陷,同時相比普通的SEM又具有更高的分辨率,可以滿足樣品表面高分辨形貌和結構觀察的需求,與TEM和STEM形成互補。全自動化的球差校正過程又大大簡化了球差校正透射電鏡的使用難度,提高了觀察效率,尤其適合測試平臺和科研中心等用戶。

日立場發射透射電子顯微鏡 HF-3300

日立場發射透射電子顯微鏡 HF-3300

  • 品牌: 日立
  • 型號: HF-3300
  • 產地:日本
  • 供應商:天美(中國)科學儀器有限公司

    -高亮度場發射電子槍冷 冷場發射電子槍先天具有的高亮度和高能量分辨率的特點,使納米量級分析研究成為可能,對超高分辨圖像和電子全息攝影具有極大貢獻。 -300kV高壓系統 300kV高壓系統具有更高的穿透能力,保證了厚樣品的原子分辨率圖像,降低了樣品制備難度,尤其對于金屬、陶瓷等高原子序數樣品的觀測十分有利。 -獨特的分析能力 新引入了雙重雙棱鏡全息攝影功能、高空間分辨率電子能量損失譜(EELS)和高精度平行納米束衍射技術等獨特的分析技術。

日立原位環境透射電子顯微鏡 H-9500

日立原位環境透射電子顯微鏡 H-9500

  • 品牌: 日立
  • 型號: H-9500
  • 產地:日本
  • 供應商:天美(中國)科學儀器有限公司

    -高亮度場發射電子槍冷 冷場發射電子槍先天具有的高亮度和高能量分辨率的特點,使納米量級分析研究成為可能,對超高分辨圖像和電子全息攝影具有極大貢獻。 -300kV高壓系統 300kV高壓系統具有更高的穿透能力,保證了厚樣品的原子分辨率圖像,降低了樣品制備難度,尤其對于金屬、陶瓷等高原子序數樣品的觀測十分有利。 -獨特的分析能力 新引入了雙重雙棱鏡全息攝影功能、高空間分辨率電子能量損失譜(EELS)和高精度平行納米束衍射技術等獨特的分析技術。

日立新型雙束系統 NX2000

日立新型雙束系統 NX2000

日立新型FIB系統 MI4050

日立新型FIB系統 MI4050

  • 品牌: 日立
  • 型號: MI4050
  • 產地:日本
  • 供應商:天美(中國)科學儀器有限公司

    產品簡介日立新型FIB系統 MI4050MI4050是高效率的聚焦離子束設備,它使用了全新的電子光學系統,具有世界領先的SIM圖像分辨率,并且TEM樣品制備效果優異。MI4050廣泛用于截面觀察、微電路修復、納米圖像制備和納米沉積等。主要特點:1.高效率、高質量加工,二次離子分辨率:[email protected]高分辨、高襯度SIM成像3.全自動TEM樣品制備4.大尺寸樣品加工 應用領域:1.納米材料微加工2.半導體及電子元器件材料3.生命科學

日立透射電鏡 HT7820

日立透射電鏡 HT7820

  • 品牌: 日立
  • 型號: HT7820
  • 產地:日本
  • 供應商:天美(中國)科學儀器有限公司

    日立最新推出120kV透射電鏡HT782機型,該機型繼承了標準版HT7800高速CMOS熒光屏相機設計、全數字化、大集成等優點和創新點,仍然采用第二代雙隙物鏡的設計,設計使用高分辨物鏡,標配LaB6燈絲,性能實現突破性提升。此機型分辨率可保證0.144nm(晶格像),廣泛應用于生命科學、醫學、納米材料和軟材料研究領域。主要特點廣泛應用與納米材料和軟材料研究領域。1) 包括高分子聚合物在內的系列軟材料,樣品組成元素多為輕元素,高的加速電壓下很難得到高襯度圖像,在低的加速電壓(120kV)下可以得到較為理想的圖像。2) 高分辨物鏡可保證0.144nm的分辨率,可滿足用戶對高分辨圖像的要求。3) 在較低的加速電壓下,仍保持較高的分辨率,在最大程度降低樣品損傷的同時,獲得高質量的高分辨圖片。 主要技術參數分辨率晶格分辨率[0.144 nm(120 kV)、放大倍數Zoom×200~×300,000 (HC模式)x2,000~x800,000 (HR模式) Low Magx50~x1,000加速電壓20~120 kV (100 V/step連續可調)視野旋轉x1,000~x40,000 (HC模式)±90 ° 步長15 °樣品臺優中心測角馬達臺移動范圍X、Y:±1 mm,Z:±0.3 mm最大傾斜角度±30 °主相機800萬像素(縱:橫 = 3:4) (可選其他相機)標準配置功能※2自動聚焦、自動軌跡記錄、 自動馬達驅動、自動拍照、自動電子槍對中、 實時FFT顯示、測量 (手動/自動)、Low dose、API(自動預輻照功能)、 鏡筒柔性烘烤、全視野圖像導航(Whole View)、 自動漂移校正※2根據選配項,可能有變

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