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掃描電鏡/掃描電子顯微鏡

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掃描電鏡/掃描電子顯微鏡

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掃描電鏡/掃描電子顯微鏡是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態,即用極狹窄的電子束去掃描樣品,通過電子束與樣品的相互作用產生各種效應,其中主要是樣品的二次電子發射。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置,這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區成分分析。
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日立高新AeroSurf1500 臺式掃描電鏡

日立高新AeroSurf1500 臺式掃描電鏡

  • 品牌: 日立
  • 型號: AeroSurf1500
  • 產地:日本
  • 供應商:天美(中國)科學儀器有限公司

    產品簡介日立高新AeroSurf1500 臺式掃描電鏡2016年,日立高新公司推出第一臺大氣壓下掃描電子顯微鏡AeroSurf1500,其獨特的設計可在大氣壓下得到清晰的掃描電子圖像。產品特點1、可在大氣壓(105Pa)下得到SEM圖像;2、臺式掃描電鏡設計;3、低真空下成分分析;4、優質的圖像處理控制;應用領域1、食品檢測;2、生物科技;3、刑偵醫學;4、醫藥檢測;5、環境監測。

北京聚束科技高通量掃描電鏡系統

北京聚束科技高通量掃描電鏡系統

  • 品牌: 北京聚束科技
  • 型號: NavigatorTM系列
  • 產地:北京
  • 供應商:聚束科技(北京)有限公司

    -您僅需推動鼠標滾輪,一切信息便展現在屏幕上,并可以對感興趣的位置進行標注。 -您也可以使用手動模式,實時地快速翻看樣品免去不必要的光學參數調整。

JSM-7900F 熱場發射掃描電子顯微鏡

JSM-7900F 熱場發射掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JSM-7900F
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    JEOL新一代場發射掃描電子顯微鏡的旗艦機型。 它繼承了上一代廣獲好評的性能如極高的空間分辨率、高穩定性、多種功能等的同時,操作性能極大簡單化。該設備不依賴操作者的技能,始終能夠發揮其最佳性能。

日立高分辨冷場發射掃描電鏡 SU9000

日立高分辨冷場發射掃描電鏡 SU9000

  • 品牌: 日立
  • 型號: SU9000
  • 產地:日本
  • 供應商:天美(中國)科學儀器有限公司

    SU9000是世界上最高二次電子分辨率([email protected])和STEM分辨率([email protected])的掃描電鏡。它采取了獨特的真空系統和電子光學系統,不僅分辨率性能優異,而且作為冷場發射掃描電鏡甚至不需要傳統意義上的Flashing操作,可以快速穩定的進行超高分辨成像。?主要特點:1.  新型電子光學系統設計達到掃描電鏡世界最高分辨率:二次電子0.4nm(30KV),STEM 0.34nm(30KV)。2.  用改良的高真空性能和無與倫比的電子束穩定性來實現高效率截面觀察。3.  采用全新設計的Super E x B能量過濾技術,高效,靈活地收集SE / BSE/ STEM信號。 應用領域:1.      半導體器件2.      高分子材料3.      納米材料4.      生命科學

大型掃描電鏡SU3900

大型掃描電鏡SU3900

  • 品牌: 日立
  • 型號: SU3900
  • 產地:日本
  • 供應商:柜谷科技發展(上海)有限公司

    產品創新點 上市時間:2019年4月 此次發售的“SU3800”與“SU3900”,支持超大/超重樣品的觀察,特別是大型掃描電鏡“SU3900”,可選配最大直徑300mm *1、最大承重5kg樣品(比前代機型提高2.5倍*2)的樣品臺,即使是超大樣品也無需切割加工即可觀察。    同時操作性能也得到了全面升級。樣品安裝完成后,通過自動光路調整及各種自動功能調整圖像,隨后可立即獲得樣品圖像,真正實現了快速觀察。    前代機型是僅僅通過CCD導航相機的單一彩色圖像尋找視野*3。新機型則通過旋轉樣品臺,分別拍攝樣品各個部分,再將各個圖像拼接成1張大圖像,實現了大視野的相機導航觀察,十分適用于超大樣品的大范圍觀察。 產品簡介 【產品背景】 在以納米技術和生物技術為主的產業領域里,從物質的微細結構到組成成分,SEM在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應用。SEM用途日益擴大,但對于鋼鐵等工業材料和汽車零配件等超大/超重樣品,由于電鏡樣品臺能對應的樣品尺寸和重量受到限制,所以觀察時需要進行切割等加工。因此,對超大樣品不施以加工處理,便可直接觀察表面微細形貌和進行各種分析則成為重要的課題。 近年來為了實現各種材料的高功能化和高性能化,需要觀察并優化材料的微細結構。目前SEM的應用除了以往的研究開發以外,已擴展到質量和生產管理方面,使用頻率日益高漲。同時市場也對儀器的操作性能提出了更高的要求,以進一步減輕操作人員的負擔。 此次發售的“SU3800”與“SU3900”,支持超大/超重樣品的觀察,特別是大型掃描電鏡“SU3900”,可選配最 大直徑300mm *1、最 大承重5kg樣品(比前代機型提高2.5倍*2)的樣品臺,即使是超大樣品也無需切割加工即可觀察。同時操作性能也得到了全面升級。樣品安裝完成后,通過自動光路調整及各種自動功能調整圖像,隨后可立即獲得樣品圖像,真正實現了快速觀察。前代機型是僅僅通過CCD導航相機的單一彩色圖像尋找視野*3。新機型則通過旋轉樣品臺,分別拍攝樣品各個部分,再將各個圖像拼接成1張大圖像,實現了大視野的相機導航觀察,十分適用于超大樣品的大范圍觀察。 【主要特點】   (1) 支持超大/超重樣品測試   可搭載的最 大樣品尺寸:“SU3800” 標配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉,可應對最 大高度為80mm、重量為2kg的樣品。? “SU3900”作為日立高新技術的大型掃描電鏡,標配可搭載最 大直徑300mm樣品的樣品倉,可應對最 大高度為130mm、重量為5kg(比前代機型提高2.5倍*2)的樣品   (2) 支持大視野觀察   ■“SU3800”與“SU3900”的最 大觀察范圍分別是:直徑130mm、直徑200mm   ■安裝有“SEM MAP”導航功能,只需在導航畫面上指定觀察目標位置,即可移動視野   ■安裝有“Multi Zigzag”系統,可在不同的視野自動拍攝多張高倍率圖像,并將取得的圖像拼接在一起,生成大視野高像素圖像   (3) 通過自動化功能提高操作性能   ■通過自動光路調整和各種自動化功能,樣品設置完后立即可以開始觀察。關于圖像調整,自動功能執行時的等待時間比前代機型*4縮短了三分之一以下   ■安裝有“Intelligent Filament? Technology(IFT)”軟件,自動監控鎢燈絲*5的狀況,顯示預計的更換時期。在長時間的連續觀察和顆粒度解析等大視野分析時,也可避免長時間測試過程中因鎢燈絲使用壽命到期所造成的中斷觀察。 ? 注:該儀器未取得中華人民共和國醫療器械注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關用途

中型掃描電鏡SU3800

中型掃描電鏡SU3800

  • 品牌: 日立
  • 型號: SU3800
  • 產地:日本
  • 供應商:柜谷科技發展(上海)有限公司

    產品創新點 上市時間:2019年4月 此次發售的“SU3800”與“SU3900”,支持超大/超重樣品的觀察,特別是大型掃描電鏡“SU3900”,可選配最大直徑300mm *1、最大承重5kg樣品(比前代機型提高2.5倍*2)的樣品臺,即使是超大樣品也無需切割加工即可觀察。    同時操作性能也得到了全面升級。樣品安裝完成后,通過自動光路調整及各種自動功能調整圖像,隨后可立即獲得樣品圖像,真正實現了快速觀察。    前代機型是僅僅通過CCD導航相機的單一彩色圖像尋找視野*3。新機型則通過旋轉樣品臺,分別拍攝樣品各個部分,再將各個圖像拼接成1張大圖像,實現了大視野的相機導航觀察,十分適用于超大樣品的大范圍觀察。 產品簡介 (1)? 支持超大/超重樣品測試 可搭載的最 大樣品尺寸:“SU3800” 標配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉,可應對最 大高度為80mm、重量為2kg的樣品。? “SU3900”作為日立高新技術的大型掃描電鏡,標配可搭載最 大直徑300mm樣品的樣品倉,可應對最 大高度為130mm、重量為5kg(比前代機型提高2.5倍*2)的樣品 (2) 支持大視野觀察   ■“SU3800”與“SU3900”的最 大觀察范圍分別是:直徑130mm、直徑200mm   ■安裝有“SEM MAP”導航功能,只需在導航畫面上指定觀察目標位置,即可移動視野   ■安裝有“Multi Zigzag”系統,可在不同的視野自動拍攝多張高倍率圖像,并將取得的圖像拼接在一起,生成大視野高像素圖像 (3) 通過自動化功能提高操作性能   ■通過自動光路調整和各種自動化功能,樣品設置完后立即可以開始觀察。關于圖像調整,自動功能執行時的等待時間比前代機型*4縮短了三分之一以下   ■安裝有“Intelligent Filament? Technology(IFT)”軟件,自動監控鎢燈絲*5的狀況,顯示預計的更換時期。在長時間的連續觀察和顆粒度解析等大視野分析時,也可避免長時間測試過程中因鎢燈絲使用壽命到期所造成的中斷觀察。 ? 注:該儀器未取得中華人民共和國醫療器械注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關用途

熱場發射掃描電鏡SU7000

熱場發射掃描電鏡SU7000

  • 品牌: 日立
  • 型號: SU7000
  • 產地:日本
  • 供應商:柜谷科技發展(上海)有限公司

    產品簡介 此次推出的SU7000采用全新設計的探測器,使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。以前我們要根據不同的觀察信號來調整樣品與透鏡之間的距離(工作距離/以下簡稱WD),以獲得最佳的觀察與分析條件,而SU7000通過新研發的樣品倉以及檢測器系統,可在同樣的WD的條件下更高效地接收各種信號,縮短了樣品觀察和分析的時間,提高了測試效率。 而且,SU7000還配置了可同時6通道顯示界面(前代機型只能同時顯示4通道),進一步升級電鏡控制系統,大幅提高了信號獲取速度,由此實現了樣品的高效率觀察。它還標配超大樣品倉,增設了附件接口,可適用于各種樣品的觀察與分析。 主要特點: 在相同的WD條件下,可同時實現二次電子,背散射電子觀察與X射線能譜分析。 可同時實現6通道檢測與顯示; 成像分辨率最大可達10240x7680像素; 配置18個附件接口,支持低至300Pa的低真空模式觀察;(選配) ? ? 注:該儀器未取得中華人民共和國醫療器械注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關用途

新型臺式掃描電鏡TM4000

新型臺式掃描電鏡TM4000

  • 品牌: 日立
  • 型號: TM4000
  • 產地:日本
  • 供應商:柜谷科技發展(上海)有限公司

    產品簡介 “TM4000”和“TM4000Plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認到生成報告等一系列操作過程,大幅提高了工作效率。還標配了報告生成功能,觀察結束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成Microsoft?Word?、Excel?、PowerPoint?格式的報告。此外,選配項還可實現更多功能。可在樣品倉內加裝光學相機來拍攝照片,以往通過經驗尋找目標位置*1,現在可在顯示屏上直接操作。在拍攝SEM圖像時,由于“TM4000”和“TM4000Plus”配置雙軸馬達臺*2,原來需手動調整的操作,現在只需在顯示器上選擇要觀察的位置即可。 ? *1尋找目標位置:指確認正在觀察的樣品位置和尋找要觀察的樣品位置的操作。一般情況下,電子顯微鏡放大倍率較高,不僅僅需要觀察局部圖像,還要觀察整體的圖像。 *2雙軸馬達臺:根據操作人員的觀察需求,可自動將樣品移動到SEM圖像拍攝位置的裝置。 ? 另外,在確認拍攝的SEM圖像時,由于SEM圖像放大倍率高,找到所有SEM圖像的觀察位置需要花費一定時間。而這兩種機型可使用軟件將低倍率和高倍率SEM圖像的位置關系進行關聯,并將結果顯示在顯示器上,使各圖像的位置更為直觀。 ? 兩種機型經過全新設計,尺寸和重量比前代機型更小,還可選配光學相機和雙軸馬達臺,今后將會被應用到更廣泛的領域。 產品特點 報告生成簡單化 儀器支持輸出Microsoft公司發行的Word?、Excel?、PowerPoint?格式,預置圖像插入模板,生成報告非常簡單。 可根據觀察條件設置儀器 樣品倉內的真空度及加速電壓有多種選擇,可根據需求自行設置。 簡化尋找視野、圖像拍攝、圖像確認等一系列操作過程(選配) 通過在樣品倉內安裝光學相機來拍攝整個樣品,可實現在顯示器上觀察樣品的同時,尋找樣品目標位置。而且,僅需在顯示器上點擊希望觀察的位置,即可進行SEM圖像拍攝。還可使用軟件將低倍率和高倍率SEM圖像的位置關系進行關聯,并將結果顯示在顯示器上,使各圖像的位置更為直觀。 ? 注:該儀器未取得中華人民共和國醫療器械注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關用途

場發射掃描電子顯微鏡Regulus8200

場發射掃描電子顯微鏡Regulus8200

  • 品牌: 日立
  • 型號: Regulus8200
  • 產地:日本
  • 供應商:柜谷科技發展(上海)有限公司

    產品簡介 "Regulus系列"是日立高新技術的FE-SEM的全新品牌,包括作為SU8010的后續機型開發的 "Regulus8100" 以及SU8200系列的升級 "Regulus8220" "Regulus8230" "Regulus8240",共4個機型,均實現了分辨率和操作性的強化。 ? 掃描電子顯微鏡(SEM)被廣泛應用于納米技術,半導體?電子行業,生命科學,材料科學等領域的材料結構觀察。近年來,新一代的電子器件應用中受到廣泛期待的新型碳材料,高分子材料,復合材料等的研究作為先進科學技術的中堅技術,在全世界范圍內受到熱捧。掃描電子顯微鏡廣泛用于這些材料的觀察?評價,但僅僅具有超高分辨率還遠遠不夠。還要求能在低加速電壓下對表面細微結構的觀察和高靈敏度的元素分析。除此之外,在長期的研究過程中還追求電鏡的性能的持續穩定和信賴性。 ? 本次發布的新品牌 "Regulus系列" 電子光學系統進行了最優化處理,使得著陸電壓在1kV時分辨率較前代機型提高了約20%。"Regulus8220/8230/8240"達到0.9nm,"Regulus8100"為1.1 nm的分辨率。另外,最適合低加速電壓下高分辨觀察的冷場電子槍可將樣品的細節放大,并獲得高質量的圖片。最大放大倍率也由之前的100萬倍提高到了200萬倍。 除此之外,為了能更好的應對不同樣品的測試和保持并發揮出高性能,還對用戶輔助工能進行了強化,如信號檢測系統的操作輔助功能,維護輔助功能等。 主要特點 搭載了色差極小的適合低加速電壓高分辨率觀察的冷場電子槍 跟前代機型相比分辨率大約提高了20%(Regulus8220/8230/8240:0.9 nm/1 kV,Regulus8100:1.1 nm/1 kV) 最大倍率從原來的100萬倍提高到200萬倍*1 用戶輔助功能,幫助用戶把儀器的高性能完全發揮出來 主要參數 名稱 Regulus8100 Regulus8240/8230/8220 二次電子分辨率 0.8 nm(加速電壓 15 kV) 0.7 nm(加速電壓 15 kV) 1.1 nm(著陸電壓 1 kV)*2 0.9 nm(著陸電壓 1 kV)*2 加速電壓 0.5~30 kV 0.5~30 kV 著陸電壓*2 0.1~2 kV 0.01~20 kV 倍率 20~1,000,000倍*3 20~2,000,000倍*3 馬達臺控制 3軸自動*? 5軸自動 *1 僅限 Regulus8240/8230/8220 *2 減速模式觀察 *3?127 mm × 95 mm 視野的畫面倍率 *??5軸馬達臺為選配項 注:該儀器未取得中華人民共和國醫療器械注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關用途

超高分辨場發射掃描電子顯微鏡Regulus8100

超高分辨場發射掃描電子顯微鏡Regulus8100

  • 品牌: 日立
  • 型號: Regulus8100
  • 產地:日本
  • 供應商:柜谷科技發展(上海)有限公司

    產品簡介 "Regulus系列"是日立高新技術的FE-SEM的全新品牌,包括作為SU8010的后續機型開發的 "Regulus8100" 以及SU8200系列的升級 "Regulus8220" "Regulus8230" "Regulus8240",共4個機型,均實現了分辨率和操作性的強化。 ? ?掃描電子顯微鏡(SEM)被廣泛應用于納米技術,半導體?電子行業,生命科學,材料科學等領域的材料結構觀察。近年來,新一代的電子器件應用中受到廣泛期待的新型碳材料,高分子材料,復合材料等的研究作為先進科學技術的中堅技術,在全世界范圍內受到熱捧。掃描電子顯微鏡廣泛用于這些材料的觀察?評價,但僅僅具有超高分辨率還遠遠不夠。還要求能在低加速電壓下對表面細微結構的觀察和高靈敏度的元素分析。除此之外,在長期的研究過程中還追求電鏡的性能的持續穩定和信賴性。 ? 本次發布的新品牌 "Regulus系列" 電子光學系統進行了最優化處理,使得著陸電壓在1kV時分辨率較前代機型提高了約20%。"Regulus8220/8230/8240"達到0.9nm,"Regulus8100"為1.1 nm的分辨率。另外,最適合低加速電壓下高分辨觀察的冷場電子槍可將樣品的細節放大,并獲得高質量的圖片。最大放大倍率也由之前的100萬倍提高到了200萬倍。 除此之外,為了能更好的應對不同樣品的測試和保持并發揮出高性能,還對用戶輔助工能進行了強化,如信號檢測系統的操作輔助功能,維護輔助功能等。 主要特點 搭載了色差極小的適合低加速電壓高分辨率觀察的冷場電子槍 跟前代機型相比分辨率大約提高了20%(Regulus8220/8230/8240:0.9 nm/1 kV,Regulus8100:1.1 nm/1 kV) 最大倍率從原來的100萬倍提高到200萬倍*1 用戶輔助功能,幫助用戶把儀器的高性能完全發揮出來 主要參數 名稱 Regulus8100 Regulus8240/8230/8220 二次電子分辨率 0.8 nm(加速電壓 15 kV) 0.7 nm(加速電壓 15 kV) 1.1 nm(著陸電壓 1 kV)*2 0.9 nm(著陸電壓 1 kV)*2 加速電壓 0.5~30 kV 0.5~30 kV 著陸電壓*2 0.1~2 kV 0.01~20 kV 倍率 20~1,000,000倍*3 20~2,000,000倍*3 馬達臺控制 3軸自動*? 5軸自動 *1 僅限 Regulus8240/8230/8220 *2 減速模式觀察 *3?127 mm × 95 mm 視野的畫面倍率 *??5軸馬達臺為選配項 注:該儀器未取得中華人民共和國醫療器械注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關用途

掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000

掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000

  • 品牌: 日立
  • 型號: FlexSEM 1000
  • 產地:日本
  • 供應商:柜谷科技發展(上海)有限公司

    產品簡介 日立高新技術公司于2016年4月15日在全球發布了新型掃描電子顯微鏡——FlexSEM 1000。該產品結構緊湊,占地面積小,但分辨率不輸大型電鏡,同時操作極其簡便,幾乎不用培訓就可操作。緊湊型設計,分辨率為4 nm。 掃描電子顯微鏡可對材料的表面進行高倍率觀察及高精度元素分析,在納米技術、生命科學、產品設計研發及失效分析等領域有著廣泛的應用。 近年來,掃描電鏡觀察表面精細結構及元素分析的需求日趨增加,而越來越多的用戶希望能在生產線、品保檢驗線和辦公區等有限的空間里使用掃描電子顯微鏡。因此,體積小、操作簡便、分辨率高的掃描電子顯微鏡備受關注。FlexSEM 1000主機寬450mm、長640mm,相比SU1510型號體積減小52%,重量減輕45%,功耗減小50%,且配備標準化的電源接口。主機與供電單元可分離,安裝非常靈活。 FlexSEM 1000采用最新設計的電子光學系統和高可靠性、高靈敏度的探測器,分辨率高達4nm。FlexSEM 1000有多種自動化功能,操作簡便,即便是初次操作者也能快速拍出高質量圖像。另外,新開發的導航功能「SEM MAP」可使用各種光學圖片或電鏡照片進行導航,一鍵就快速精準地切換至感興趣的高倍率視野。 特點: a. 通過高靈敏度二次電子探測器,背散射探測器,低真空探測器(UVD*2),實現低加速電壓/低真空下高質量圖像觀察 b. 操作簡捷,即使新手也能拍出高質量的圖片 c. 新開發的導航功能「SEM MAP」,便于快速鎖定視野 d. 大窗口(30 mm2)SDD能譜系統,便于快速分析元素成分*2 *1???? 設置在桌面時,分離主機和電源箱 *2???? 選配 項目 內容 分解能*3 4.0 nm @ 20 kV (SE:高真空模式) 15.0 nm @ 1 kV (SE:高真空模式) 5.0 nm @ 20 kV (BSE:低真空模式) 加速電壓 0.3 kV ~ 20 kV 放大倍率 6× ~ 300,000× (底片倍率) 16× ~ 800,000× (顯示倍率) 低真空模式 真空范圍:6 ~ 100 Pa 電子槍 預對中鎢燈絲 樣品臺 3-軸自動馬達臺 X:0 ~ 40 mm, Y:0 ~ 50 mm, Z:5 ~ 15 mm R:360°, T:-15° ~ +90° 最大樣品尺寸 直徑80 mm 最大樣品高度 40 mm 尺寸 主機:450(W) x 640(D) x 670(H) mm 供電單元:450(W) x 640(D) x 450(H) mm 探測器選配 高靈敏度低真空二次電子探測器(UVD) 能量分散型X線探測器(EDS) ? 注:該儀器未取得中華人民共和國醫療器械注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關用途

熱場式場發射掃描電鏡SU5000

熱場式場發射掃描電鏡SU5000

  • 品牌: 日立
  • 型號: SU5000
  • 產地:日本
  • 供應商:柜谷科技發展(上海)有限公司

    產品簡介 日立高新熱場式場發射掃描電鏡SU5000 --搭載全新用戶界面,向所有用戶提供高畫質圖像-- 日立高新技術公司(以下簡稱:日立高新)8月4日開始發售的肖特基式場發射 掃描電子顯微鏡"SU5000",搭載了全新的用戶界面和"EM Wizard",無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。 掃描電子顯微鏡在納米技術領域、材料領域、醫學生物等領域均被廣泛使用。但隨著近年來儀器性能的大幅提升,以及用戶群體的不斷擴大,使得用戶對不需要任何經驗和技術就能得到好照片的需求迅速擴增。而且,由于觀察對象的樣品的不斷多樣化,對樣品的大小和性質的無制約觀察變得尤為重要。 ?這次新開發的"SU5000"對用戶沒有任何操作技巧上的要求,通過”EM Wizard“只要選擇好觀察目的就可以得到好照片。"EM Wizard"以人為本的設計理念使電鏡的操作性大幅上升,對于用戶來說,再也不用去討論該用什么條件進行觀察,只要按照觀察目的選擇”表面細節觀察“或是”成分分布“等就可以自動將適合的觀察條件設置好。除此之外,使用經驗豐富的操作人員也可以像往常一樣自由的選擇觀察條件,按照自己的操作習慣進行設置。”EM Wizard“對于初學者或者使用經驗尚淺的客戶來說,它獨有的操作簡易性和各種學習工具可以幫助您迅速成長起來;對使用經驗豐富的客戶來說,開放了豐富的可設置選項,會令您操作起來更加得心應手。這正是"EM Wizard"的價值所在。 另外"SU5000"的尋找視野功能"3D MultiFinder"更是獨一無二的。不但可大幅提高做樣速度,更使視野再現性得到大大提高。并且,為了能適應各種分析的需求,最大束流可達到200nA。再加上全新設計的背散射電子探頭和低真空二次電子探頭等,都使該款電鏡無論在是觀察樣品還是分析都具備了超強的功能與強大的擴展性。 ?日立高新在8月3日至8月7日在美國康涅狄格州舉辦的"Microscopy & Microanalysis",9月3日至9月5日在日本千葉縣幕張國際展覽中心舉辦的"JASIS 2014",9月7日至9月12日在捷克舉行的"18th International Microscopy Congress"上都做了實機展出。 *:肖特基式場發射電子顯微鏡:高亮度、大束流、超強穩定性匯聚一身肖特基式場發射電子顯微鏡。分辨率高和可做各種定量定性分析。 【主要參數】 ? 電子槍 ZrO/W 肖特基式場發射電子槍 加速電壓 0.5~30kV 著陸電壓 0.1~2kV 分辨率 [email protected](*1)、[email protected][email protected] 低真空模式(*2) 放大倍率 底片倍率:10~600000倍、顯示倍率:18~1000000倍 5軸馬達臺 X:0~100mm、Y:0~50mm、Z:3~65mm、T:-20~90°、R:360° ?*1:減速模式是選配項???? *2:低真空模式是選配項 ? 2014年,日立高新技術公司(以下簡稱:日立高新) 新型肖特基場發射掃描電鏡*"SU5000"作為工業用設備榮獲由公益財團法人日本設計振興會頒發的GOOD DESIGN AWARD 2014”(2014年度最佳設計獎)。 注:該儀器未取得中華人民共和國醫療器械注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關用途

掃描電子顯微鏡SU3500

掃描電子顯微鏡SU3500

  • 品牌: 日立
  • 型號: SU3500
  • 產地:日本
  • 供應商:柜谷科技發展(上海)有限公司

    產品簡介 日立高新高畫質的鎢燈絲掃描電鏡SU3500, 圖象質量更進一步。 通過高畫質提升掃描電鏡的分析能力和操作性, 凝聚日立最先進科技“獨具匠心”。 日立高新鎢燈絲掃描電鏡SU3500具有實現了“3kV加速電壓7nm分辨率”的全新電子光學系統, 可實現實時立體成像的“實時立體觀察功能”*1, 以及更高檢測效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測器”*1。 它為觀察和分析提出了嶄新的標準。 特點 低加速電壓觀察時分辨率更高,可更好地觀察樣品最表面的細微形狀和更有效地降低樣品的損壞 全新設計的電子光學系統和信號處理技術實現了高速掃描和低噪音的觀察 和以前的常規掃描電子顯微鏡相比*2,自動功能縮短*3了大約11秒 具有在低真空時可以非常好地觀察樣品最表面的細微形狀的“UVD(超高靈敏度可變壓力探測器)”*4 具有實現了實時立體成像的“實時立體觀察功能”*4 (*1):自選 (*2):和日立SEM S-3400N相比 (*3):根據觀察條件的不同,時間會有變動 (*4):自選 規格 ? 項目 描述 二次電子分辨率 3.0nm(加速電壓=30kV,WD=5mm高真空模式) 7.0nm(加速電壓=3kV,WD=5mm高真空模式) 背散射電子分辨率 4.0nm(加速電壓=30kV,WD=5mm低真空模式) 10.0nm(加速電壓=5kV,WD=5mm高真空模式) 放大倍率 5 - 300,000倍(底片倍率*5) 7 - 800,000倍(顯示器顯示倍率*6) 加速電壓 0.3 - 30kV 可變壓力范圍 6 - 650Pa 最大樣品尺寸 直徑 200mm 樣品臺 X 0 - 100mm Y 0 - 50mm Z 5 - 65mm R 360° T -20° - 90° 可觀察區域 直徑 130mm (旋轉并用) 最大樣品高度 80mm(WD=10mm) 馬達臺 5軸標配 電子光學系統 電子槍 預對中的鎢燈絲 物鏡光闌 4孔可動光闌 探檢測器 埃弗哈特 索恩利 二次電子探測器 高靈敏度半導體背散射電子檢測器 EDX分析 WD 10mm(取出角35°) 圖像顯示 操作系統 Windows? 7*7(如有更改,恕不另行通知) 圖像顯示模式 全屏模式(1,280 × 960 像素) 小屏模式(800 × 600 像素) 雙圖像顯示(800 × 600 像素) 四屏幕顯示(640 × 480像素) 信號混合模式 排氣系統 操作 全自動排氣 渦輪分子泵 210升/秒 × 1 機械泵 135L/min(162L/min,60Hz)× 1 (*2):以127mm×95mm(圖像尺寸4"×5")的顯示尺寸規定倍率 (*3):以345mm×259mm(像素1,280×960)的顯示尺寸規定倍率 (*4):Windows?是微軟公司在美國和其他國家的注冊商標 注:該儀器未取得中華人民共和國醫療器械注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關用途

掃描電子顯微鏡S-3700N

掃描電子顯微鏡S-3700N

  • 品牌: 日立
  • 型號: S-3700N
  • 產地:日本
  • 供應商:柜谷科技發展(上海)有限公司

    日立高新掃描電子顯微鏡S-3700N適合用于研究大件,較重,較高的樣品。 ? ▲最大樣品直徑達300mm。 ▲可觀察范圍直徑達203mm。 ▲可對高達110mm的樣品進行觀察和能譜分析。 ▲通用型接口布局滿足各種分析用途。 ? 特點 特大型的樣品室可裝載最大直徑達300 mm的樣品,還可同時安裝EDX/WDX/EBSD等配件。其可載樣品高度可達110 mm。 5軸馬達驅動優中心傾斜、旋轉、圖像導航系統、樣品臺追蹤、軌跡存儲與中心復位等樣品臺的馬達控制功能一應俱全。 S-4800,SU-70及S-3400N均具有用戶友好的GUI設計,這使得操作者經過簡單培訓即可操作。 顯示系統有全屏顯示,無閃爍,高像素和實時圖像顯示等優異的性能,它還可以實時信號混合并同時顯示兩個不同的檢測器觀測到的互不相同的樣品信息。 可變壓模式不需要金屬噴涂,可以直接觀察不導電樣品。 高靈敏度半導體背散射電子檢測器可以在快速掃描模式下運行,這使得尋找大尺寸樣品中感興趣的區域更為簡單和便利。 標準配備渦輪分子泵(TMP),其清潔和干燥的真空條件最大限度地減少了樣品污染。區別于傳統的擴散泵掃描電子顯微鏡,此款產品不需較大的加熱功率或循環水箱,從而使得它成為一款節能,生態環保的掃描電子顯微鏡。 規格 項目 描述 分辨率 二次電子分辨率 30kV時,3.0nm(高真空模式) 3kV時,10nm(高真空模式) 背散射電子分辨率 30kV時,340nm(低真空模式) 放大倍率 ×5-×300,000 加速電壓 0.3-30KV 低真空范圍 6-270pa圖形菜單 圖像移動 ±50μm(WD=10mm) 最大樣品尺寸 Ф300mm 樣品臺 X 150mm Y 110mm Z 5-65mm R 360° T -20°-90° 觀測區域 Ф203mm(可旋轉) 最大高度 110mm(WD=10mm) 樣品臺控制 計算機控制5軸馬達驅動優中心 電子光學 電子槍 預對中鎢燈絲 物鏡光闌 可移動式4孔物鏡光闌 槍偏壓 帶可控4偏壓 檢測器 埃弗哈特 索恩利二次電子檢測器 高靈敏度半導體背散射電子探測器,五分割 分析位置 WD=10mm 取出角=35° 顯示器 自動合軸 自動設定束流,自動合軸 自動圖像調整 自動聚焦,自動消像散/聚焦,自動調整亮度和對比度 存儲圖像精度 640×480像素,1280×960像素,2560×1920像素,5120×3840像素 圖像文件格式 BMP,TIFF,JPEG 圖像顯示模式 全屏顯示1280×960像素,小屏顯示640×480像素, 雙屏顯示640×480像素×2,信號混合模式 真空系統 操作 全自動程序 渦輪分子泵 210L/sec.×1 機械泵 135L/min.(162L/min.60Hz)×1 安全措施 斷電保護,漏電保護 輔助功能 光柵旋轉,動態消像散 動態聚焦/傾斜補償功能 自由排版打印功能,字母/數字功能 三維動畫維修指南 導航,測量方便,傾斜畫面 注:該儀器未取得中華人民共和國醫療器械注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關用途

超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡SU9000

超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡SU9000

  • 品牌: 日立
  • 型號: SU9000
  • 產地:日本
  • 供應商:柜谷科技發展(上海)有限公司

    日立高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡SU9000是專門為電子束敏感樣品和需最大300萬倍穩定觀察的先進半導體器件,高分辨成像所設計。 新的電子槍和電子光學設計提高了低加速電壓性能。 0.4nm / 30kV(SE) 1.2nm / 1kV(SE) 0.34nm / 30kV(STEM) 用改良的高真空性能和無與倫比的電子束穩定性來實現高效率截面觀察。 采用全新設計的Super E x B能量過濾技術,高效,靈活地收集SE / BSE/ STEM信號。 ? ? 注:該儀器未取得中華人民共和國醫療器械注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關用途

【Hitachi】日立新型熱場發射掃描電鏡SU5000

【Hitachi】日立新型熱場發射掃描電鏡SU5000

  • 品牌: 日立
  • 型號: SU5000
  • 產地:日本
  • 供應商:天美(中國)科學儀器有限公司

    產品介紹:  日立全新一代熱場發射掃描電鏡SU5000繼承了日立半導體行業掃描電鏡CD-SEM高穩定性和易操作的特點,不僅具有強大的觀察分析能力,同時具有全新的操作體驗。SU5000既滿足了專業電鏡操作者對高分辨觀察和分析的需求,也滿足了電鏡初學者對高質量圖片的需求,是一臺操作簡便且功能強大的掃描電鏡。主要特點:? 高穩定性熱場發射電子槍? 全新的EM Wizard軟件,無需設置參數即可獲得高質量圖片? 高分辨率和強大的分析能力? 樣品適用性強:不導電樣品直接觀察(低真空功能,10-300Pa)? 全新的multi-finder功能,方便快捷的尋找樣品? 附件功能強大:拉伸臺,冷熱臺,電子束曝光,紅外CCD,離子束清潔系統等。

Keysight 8500 臺式掃描電鏡

Keysight 8500 臺式掃描電鏡

  • 品牌: 美國是德科技
  • 型號: 8500
  • 產地:美國
  • 供應商:安捷倫科技(中國)有限公司

    是德科技最新的8500場發射掃描電子顯微鏡操作簡便,結構小巧,可以方便的配置應用于常規實驗室中。該系統創造性地優化了低壓成像技術,最大程度的提高了圖像的表面對比度。是德科技8500安裝快速,操作簡便。該系統無需額外的輔助設備,僅需要一個外接電源插頭,且其大小僅如常用的鐳射打印機,但是其功能強大,完全可以媲美其他需要安裝在中央實驗室中的、昂貴的大型場發射掃描電子顯微鏡。是德科技8500場發射掃描電子顯微鏡的性能穩定,再現性高,是行業內性價比最高的場發射掃描電子顯微鏡。最新的FE-SEM 8500B可以選擇配置內置式能譜儀,對材料微區成分元素種類和含量進行定性、半定量的點、線、面分析。FE-SEM 8500B可搭載最新的硅漂移探測器(SDD),取出角度20°,窗口大小25mm2,采用Peltier效應電制冷,使用過程中無液氮需求。精確定性測量的元素范圍是Carbon(6)~Americium(95),能量分辨率<134eV(Mn Kα),是行業內分辨率最好的。儀器特點: 優勢 高成像精度,等同于其他常規的場發射掃描電子顯微鏡 可變的低壓范圍(500~2000V),減少了樣品鍍層的需求和費用 XYZ三軸均可編程控制的工作臺,用戶可精確控制坐標、掃描范圍,以及保存 微型化的靜電透鏡設計,保證結果的再現性 結構小巧,安裝方便,可配置在任意實驗室,而無特別要求 應用 聚合物材料 薄膜材料 生物材料 非導電樣品 對能量敏感的材料 置于玻璃基底上的材料

JSM-F100 熱場發射掃描電子顯微鏡

JSM-F100 熱場發射掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JSM-F100
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    JSM-F100集成了備受推崇的In-lens Schottky Plus Gun和電子光學控制系統Neo Engine,一個新開發的操作GUI“SEM Center”和一個創新的Live-AI filter, 實現了高空間分辨率成像觀察和高可操作性。JSM-F100的工作效率比之前的JSM-7000系列高50%或更高。

JSM-7200F 熱場發射掃描電子顯微鏡

JSM-7200F 熱場發射掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 日本電子
  • 型號: JSM-7200F
  • 產地:日本
  • 供應商:捷歐路(北京)科貿有限公司

    JSM-7200F的電子光學系統應用了日本電子旗艦機-JSM-7800F Prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術,標配了TTLS系統(Through-The-Lens System),因此無論是在高/低加速電壓下,空間分辨率都比傳統機型有了很大的提升。

Helios DualBeam?掃描電子顯微鏡

Helios DualBeam?掃描電子顯微鏡

  • 品牌: 賽默飛世爾
  • 型號: Helios DualBeam?
  • 產地:其它
  • 供應商:賽默飛世爾材料與結構分析

    采用最佳電子和離子光學系統、配件和軟件,能夠為尖端納米量級研究提供強大的解決方案。 借助極具價值的亞納米 SEM 成像技術、S/TEM 超薄樣本制備能力以及最精確的原型設計功能。 Helios NanoLab 是一款極其靈活的平臺,既能以極高的效率制備 TEM 樣本,又能開展高性能低電壓成像以分析高級邏輯和存儲器件 自動化序列樣本銑削和成像功能,客戶可以創建二維序列圖像,進而開展三維容積重建。根據這些數據,客戶可以在微米至納米量級別觀測和量化孔隙網絡等紋理。 Helios NanoLab 具有卓越的 SEM 性能和可靠、精確的 FIB 切片能力,還配備了高精度壓電工作臺,堪稱小型 DualBeam 平臺的極致之選。出色的成像能力,輔以透鏡內和柱內檢測器提供的尖端高對比度檢測技術,能夠實現真正卓越的對比度。

JCM-7000 NeoScope? 臺式掃描電子顯微鏡

JCM-7000 NeoScope? 臺式掃描電子顯微鏡

場發射掃描電子顯微鏡 SU9000

場發射掃描電子顯微鏡 SU9000

分析掃描電子顯微鏡 SU-70

分析掃描電子顯微鏡 SU-70

  • 品牌: 日立
  • 型號: SU-70
  • 產地:日本
  • 供應商:似空科學儀器(上海)有限公司

    SU-70電子顯微鏡是一種新概念掃描電子顯微鏡,它采用了日立經過實地驗證的 "semi-in-lens"超高分辨率技術以及肖特基熱場發射電子槍技術。除了具有超高分辨率(1.0 nm/15 kV,1.6 nm*/1 kV)的特點外,它還借助聲名遠播的SuperExB功能可觀察減輕荷電圖像,成分構成對比圖像,超低加速電壓圖像*。肖特基場發射電子槍的探針電流為100 nA,可進行各種各樣的分析操作(X 射線能譜儀*, X射線波譜儀*,電子背散射衍射系統*等)。

掃描電子顯微鏡 S-3700N

掃描電子顯微鏡 S-3700N

  • 品牌: 日立
  • 型號: S-3700N
  • 產地:日本
  • 供應商:似空科學儀器(上海)有限公司

    掃描電子顯微鏡(SEM)現今已經延伸到廣大企業單位,不僅在學術研究領域,各行各業均有廣泛應用,與此趨勢相對應,用戶需要觀測和分析的樣品種類也有所擴大。S-3700N的開發正是完全考慮了上述廣泛的多元化應用的需求,此款產品的標準配置包含一個二次電子檢測器,一個五段分割背散射電子(BSE)探測器和可變壓力(VP)模式。 這就使得絕大部分的樣品觀測,可以去除過去傳統的掃描電鏡必須的金屬噴涂,可在自然狀態下直接觀察含水樣品。

掃描電子顯微鏡 SH-4000M

掃描電子顯微鏡 SH-4000M

  • 品牌: 日立
  • 型號: SH-4000M
  • 產地:日本
  • 供應商:似空科學儀器(上海)有限公司

    Hirox桌上型掃描電鏡系列 Tabletop SEM具有強大的性能和友好易用的操作性。該系列具有緊湊的設計,自動對焦、自動亮度和對比度調節等功能,提供給用戶高清晰、高倍率的掃描電鏡影像。 此外根據實際應用需求,可以選配加載EDX系統、即能譜儀或許多其他周邊設備。 即避免了復雜的系統維護和測試時間,同時又節省了制做樣品的高昂成本,因此也更具性價比。SH系列 Tabletop SEM的數字化的圖像采集和儲存或傳輸使之無論在企業、科研或教學等應用領域具有更高的效率。

掃描電子顯微鏡 SH-5000M

掃描電子顯微鏡 SH-5000M

掃描電子顯微鏡 SH-3500MB

掃描電子顯微鏡 SH-3500MB

  • 品牌: 日立
  • 型號: SH-3500MB
  • 產地:日本
  • 供應商:似空科學儀器(上海)有限公司

    Hirox桌上型掃描電鏡系列 Tabletop SEM具有強大的性能和友好易用的操作性。該系列具有緊湊的設計,自動對焦、自動亮度和對比度調節等功能,提供給用戶高清晰、高倍率的掃描電鏡影像。 此外根據實際應用需求,可以選配加載EDX系統、即能譜儀或許多其他周邊設備。 即避免了復雜的系統維護和測試時間,同時又節省了制做樣品的高昂成本,因此也更具性價比。SH系列 Tabletop SEM的數字化的圖像采集和儲存或傳輸使之無論在企業、科研或教學等應用領域具有更高的效率。

透射電子顯微鏡 H-9500

透射電子顯微鏡 H-9500

  • 品牌: 日立
  • 型號: H-9500
  • 產地:日本
  • 供應商:似空科學儀器(上海)有限公司

    為了滿足這種高端需求,日立高新技術公司研發出了 H-9500透射電子顯微鏡,此款高分辨透射電子顯微鏡不僅具備實地驗證過的各種優秀性能,而且配置了很多滿足客戶多種需求的獨特功能,并采用了最新的數字技術,便于用戶及時快速獲取原子水平的樣品結構信息。

透射電子顯微鏡 HT7700

透射電子顯微鏡 HT7700

  • 品牌: 日立
  • 型號: HT7700
  • 產地:日本
  • 供應商:似空科學儀器(上海)有限公司

    日立HT7700 : 數字一體化的TEM操作平臺,操作簡便的通用性設計 HT7700優異的高反差、高分辨圖像觀察與強大的分析擴展功能,可為生物醫學、醫藥、食品、農業、高分子、化學、納米材料等多領域提供最佳的TEM解決方案。

透射電子顯微鏡 HT7800系列

透射電子顯微鏡 HT7800系列

球差校正掃描透射電子顯微鏡 HD-2700

球差校正掃描透射電子顯微鏡 HD-2700

  • 品牌: 日立
  • 型號: HD-2700
  • 產地:日本
  • 供應商:似空科學儀器(上海)有限公司

    專用掃描透射顯微鏡HD-2700,配備了與德國CEOS GmbH公司(總經理Max Haider先生)共同開發的球差校正儀,顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能,更適合高級納米技術研究。由于球差校正系統校正了限制電子顯微鏡的性能的球差,使其與標準型號顯微鏡相比,分辨率提高了1.5倍,同時,探針電流提高了10倍。

掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000

掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000

  • 品牌: 日立
  • 型號: FlexSEM 1000
  • 產地:日本
  • 供應商:似空科學儀器(上海)有限公司

    Hitachi的掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000「先進的SEM設計得更加緊湊」 只有45厘米寬的緊湊型設計,實現了4.0 nm的分辨率。 全新開發的用戶界面和電子光學系統,使性能大幅提升。

掃描電子顯微鏡 AeroSurf 15

掃描電子顯微鏡 AeroSurf 15

  • 品牌: 日立
  • 型號: AeroSurf 15
  • 產地:日本
  • 供應商:似空科學儀器(上海)有限公司

    Hitachi的掃描電子顯微鏡 AeroSurf 15 不僅可在真空下,還可在大氣壓下進行SEM觀察 含水樣品也無需前處理即可直接觀察

場發射透射電子顯微鏡 HF-3300

場發射透射電子顯微鏡 HF-3300

  • 品牌: 日立
  • 型號: HF-3300
  • 產地:日本
  • 供應商:似空科學儀器(上海)有限公司

    日立馳名的冷場發射電子源和300 kV加速電壓技術共同打造了超高分辨率成像和高靈敏度分析功能。雙棱鏡全息技術,空間分辨電子能量損失譜以及高精度平行納米電子束衍射技術開辟了高效,高精度樣品分析的新途徑。

發射掃描電子顯微鏡 ReguluS

發射掃描電子顯微鏡 ReguluS

光-電聯用顯微鏡法(CLEM)系統

光-電聯用顯微鏡法(CLEM)系統

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