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自動光學檢測AOI

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自動光學檢測AOI

自動光學檢測AOI

自動光學檢測AOI是基于光學原理來對焊接生產中遇到的常見缺陷進行檢測的設備。自動光學檢測AOI是新興起的一種新型測試技術,但發展迅速,很多廠家都推出了AOI測試設備。當自動檢測時,機器通過攝像頭自動掃描PCB,采集圖像,測試的焊點與數據庫中的合格的參數進行比較,經過圖像處理,檢查出PCB上缺陷,并通過顯示器或自動標志把缺陷顯示/標示出來,供維修人員修整。
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Camtek - 自動光學檢測系統

Camtek - 自動光學檢測系統

  • 品牌: 以色列Camtek
  • 型號: Condor 100 系列/Condor 200 系列
  • 產地:以色列
  • 供應商:香港電子器材有限公司

    產品檢測Condor 100 系列用于HVM at End-of-Line的晶圓表面檢測 ? 創新的圖像采集技術,高探測靈敏度? 可控制獨立暗域和明域的檢測通道和精密的算法取得最佳TPT/Envelop靈敏度的結果? 工業標準的探針標記檢驗和CMOS圖像傳感器應用? 自動缺陷分類? TSV 深度和探針標記分析 (可選性的)? 符合工廠自動化標準,以滿足高分辨率和生產率的要求,處理上百種產品的封裝和測試? 不需TPT便可on-the-fly圖像采集和智能彩色圖像采集,包括過濾和排序的在線和離線審查          Condor 200 系列表面檢測應用 ? 創新的圖像采集技術,高探測靈敏度? 可控制獨立暗域和明域的檢測通道和精密的算法取得最佳TPT/Envelop靈敏度    的結果? 工業標準的探針標記檢驗和CMOS圖像傳感器應用? 自動缺陷分類? TSV 深度和探針標記分析 (可選性的)? 符合工廠自動化標準,以滿足高分辨率和生產率的要求,處理上百種產品的    封裝和測試? 不需TPT便可on-the-fly圖像采集和智能彩色圖像采集,包括過濾和排序的在線    和離線審查          兩種高度傳感器 (Height Sensors)CTS? – Camtek Triangulation System (Patent-pending)CCS – Confocal Chromatic Sensor (optional - patented)Condor 300 系列用于Bump, Micro Bump和TSV的量測及檢查 ? 可結合3D 和 2D的量測及檢驗程序? 可控制獨立暗域和明域的檢測通道和精密的程式取得最佳TPT/Envelop靈敏度的結果? 自動缺陷分類? 自動化設置以滿足高分辨率和生產率的要求,處理上百種產品的封裝和測試? 由10微米黃金和微凸起至高寬比TSV,提供多種sub-micron高度傳感器選擇? 檢測切割相關的損壞模具邊界內外無與倫比的產量          Condor 900系列第五代高產量檢查及計量系統 專為高產量需求、檢測和測量、解決最高要求的半導體市場應用和快速發展3D-IC市場的理想選擇。? 下一代凸塊,小于10um? 在單個晶圓上可檢測百萬個凸塊? TSV后填充物的凸起檢查? 超高速 3D 掃描 ? 大視場攝像頭模塊可用作表面檢測和CD計量? 雙臂式機械手 ? 第五代CTS-Camtek獨家三角白光技術? 小分辨率檢測 ? 低對比度算法功能 ? 可編程彩色濾光片與暗域和明域照明相結合? 最優秀的復式放大倍率TPT與檢測平衡對比          2D機型Falcon 500系列 ? 晶圓樣品尺寸4"-12" ? 檢測能力: 表面缺陷,probe mark,形體尺寸和位置測量,切割相關損害,玻    璃、MEMS結構檢測等? 2D最小檢測缺陷精度可達0.3um? 自動進行缺陷分級和分類 ? TSV深度和Probe mark剖面圖? 高效的在線和離線檢查,包括篩選、分類和自動化智能圖像采集          3D機型Falcon 800系列 ? 晶圓樣品尺寸4"-12"? 檢測能力 : 凸塊高度和大小分析;共面性;gold bump布局; Solder bump數量;臨界    體積; 臨界尺寸和位置偏差? 自動進行缺陷分級和分類? 選用亞微米高度傳感器 ? 集成3D和2D測量和檢測功能? 3D最小檢測缺陷精度可達0.5um? 一片12"晶圓3D全檢在3分鐘左右完成? 全套SPC圖表和報告,支持在晶粒、晶圓和批次級別進行2D和3D Bump驗證分    析          

瑞士BCD手表零件光學測量儀

瑞士BCD手表零件光學測量儀

  • 品牌: 瑞士BCDmicrotechnique
  • 型號: optimesJ1
  • 產地:瑞士
  • 供應商:靖江市森博機電科技有限公司

    J1 Optimes提供快速準確的解決方案,可自動測量旋轉部件的所有外部尺寸。只需將工件放在2個支架上,它立刻開始測量。幾秒鐘后,軟件將光學測量軸下的零件移動并讀取所有預定義尺寸 該設備旨在確保對外部干擾(振動,溫度,光線等)具有非常高的不敏感性。該優點使得可以在生產機器附近和控制實驗室中使用測量儀器。 根據微機械的要求,測量的精確性和可重復性使Optimes J1完美地集成到您的質量控制過程中。測量的速度和簡單性可確保大量節省時間。

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