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GE Nanotom m 高對比奈米焦點CT系統

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詳細介紹

設備特點

●采用獨特溫控系統的GEDXR數位檢測器(3072 x 2400 畫素),動態范圍>10000:1

●最新的開放式180kV/15W高功率nm焦點X射線管

●最小分辨率可達200nm,穩定性高

●金剛石窗口,同樣圖像品質下檢測速度提高2倍

●采用的是花崗巖基座設備非常穩定,可達到高精度、高穩定度的機械系統

●最大檢測范圍可達直徑240mm x H 250mm

●最小體積分辨率可達0.3um

●3D量測系統,包括恒溫樣品室和高精度檢測系統

●1小時以內即可生成檢測報告

利用3D檢視焊接接點內部的空隙間隙分布清晰可見 碳酸鹽中的分段氣孔(? 2 mm)

玻璃纖維和礦物填料(紫色)的凝聚體的方位和分布都清晰可見。 纖維寬度大約為 10 μm


基本規格

設備規格


最大管電壓

180 kV

最大功率

15 W

細節檢測能力

高達200nm (0.2μm)

最小焦物距

150mm 到600mm

最大3D像素分辨率

< 300nm (0.3μm)

幾何放大倍率(3D)

1.5 倍到300 倍

最大目標尺寸(高x 直徑)

250mmx 240mm/ 9.84" x 9.45"

最大樣品重量

3 kg/ 6.6 lb

圖像鏈

7兆畫素平板數位檢測器陣列

2D X射線成像

不可

3D電腦斷層掃描

可以

先進的表面提取

可以(可選)

CAD 比較+ 尺寸測量

可以(可選)

系統尺寸

(1980 x 1600 x 900 mm), (78” x 63” x 35.4”)

系統重量

1900kg/ 4189 lb

輻射安全

- 全防輻射安全機柜,依據德國ROV和美國性能標準

21 CFR 1020.40 (機柜X-Ray系統)。

- 輻射 漏率∶從機臺壁的10cm處測量 <1.0μSv/h。


應用領域

地質/生物科學
高分辨率電腦斷層掃描(micro-ct 與nano-ct)廣泛用於檢測地質樣品,例如:新資源的探索。高分辨率CT-系統以微觀高解析提供巖石樣品、粘合劑、膠合劑和空洞的3D圖像,并幫助分辨特定的樣品特徵,如含油巖石中空洞的大小和位置。
塑料工程
在塑料工程中,高分辨率的X射線技術用於通過探測縮孔、水泡、焊接線和裂縫并分析缺陷來優化鑄造和噴涂過程。 X射線計算機斷層掃描(micro ct 與nano ct)提供具有以下物體特點的3D圖像∶如晶粒流模式和填料分布,以及低對比度缺陷。
玻璃纖維增強塑料樣品的nano-CT ?∶ 玻璃纖維和礦物填料(紫色)的凝聚體的排列和分布都清晰可見。纖維大約有10um寬。
測量
用X射線進行的3D測量是唯一的可對復雜物體內部進行無損測量的技術。通過與傳統式觸覺坐標測量技術的比較,對一個物體進行電腦斷層掃描的同時可獲得所有的曲點: 包括所有無法使用其他測量方法無損害進入的隱蔽形體,如底切。 v/tome/xs 有一個特殊的3D測量包,其中包含空間測量所需的所有工具,從校準儀器到表面提取模組,具有可能的最大精度,可再現且具親和力. 除了2D壁厚測量外,CT數據可以快速方便地與CAD數據進行比較,例如,分析完成元件,以確保其符合所有的規定尺寸。
對氣缸蓋3個裝置的CAD差異分析和測量。
感應器學和電氣工程
在感應器和電子組件的檢測中,高分辨率X射線技術主要用於檢測和評估接觸點、接頭、箱子、絕緣子和裝配情況。甚至可以檢測半導體元件和電子設備(焊點),而無需拆卸設備。
Nano-CT ?顯示CSP組件的焊接接點。焊接接點的3D形狀,約直徑400um,空隙間隙分布清晰可見。焊接接點內部,不同的共晶焊料相是可見的。
材料科學
高分辨率電腦斷層掃描(micro-ct 與nano-ct)用於檢測材料、復合材料、燒結材料和陶瓷,但也可應用於地質或生物樣品進行分析。材料分配、空隙率和裂縫在微觀上是3D可視的。
玻璃纖維復合材料的nano-CT ?∶纖維氈(藍色)的纖維方向和基質樹脂(橙色)會清楚顯示出來。圖片右邊: 樹脂內的空洞會以暗體出現。左邊∶ 樹脂已淡出,以更好地使纖維氈可視化。氈內的單跟纖維是可見的。
3D電腦斷層掃描
工業X射線3D電腦斷層掃描(micro-ct 與nano-ct) 的標準應用是對金屬和塑料鑄件的檢測及3D測量。phoenix| X射線的高分辨率X射線技術開辟了在眾多領域的新應用,如傳感器技術、電子、材料科學以及許多其他自然科學。
SMD感應器的nanoCT?, 尺寸0805 (2.0 mmx 1.2 mm). 三維X射線圖像顯示了後蓋後的內部線圈。在任何常規的X光片中,圖層面板都是重疊的,但nanoCT ?成功地將對象逐層顯示。

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